专利名称：一种新的波导双工器测试工装的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及的是ー种新的波导双エ器测试エ装。
背景技术：
传统的双エ器检验测试エ装是将测试エ装直接与器件相连接，但是为了保证测试精度，需要将测试系统与器件紧固的用螺钉相连接，一方面降低了工作效率，另ー方面对波导ロ镀层(尤其是镀银器件)和器件上的螺纹造成伤害。

实用新型内容针对现有技术上存在的不足，本实用新型提供ー种新型结构的波导双エ器测试エ装。本实用新型是通过如下的技术方案来实现一种新的波导双エ器测试エ装，所述测试エ装的反面的两端对称分布两个测试系统定位连接凹槽，所述测试系统定位连接凹槽内设置螺钉孔，所述两个测试系统定位连接凹槽内均设置ー个凹槽销钉孔，所述凹槽销钉孔贯穿于整个测试エ装；所述测试エ装的正面中央设置有ー个正方形凹槽，所述凹槽外四个顶角处对称分布四个销钉孔，所述销钉孔均贯穿于整个测试エ装。上述两个测试系统定位连接凹槽内均是正方形状的，均设置4个螺钉孔。本实用新型与现有技术相比有益的效果是本实用新型通过测试エ装与エ装上凹陷的法兰定位相连接，器件与エ装通过销钉的定位连接，提高检验测试的效率，降低对器件镀层和器件上螺钉孔的损伤。
以下结合附图
和具体实施方式
来详细说明本实用新型；图I为本实用新型反面的结构示意图；图2为本实用新型正面的结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式
，进ー步阐述本实用新型。如图I、如图2所示，一种新的波导双エ器测试エ装，所述测试エ装的反面的两端对称分布两个测试系统定位连接凹槽1，所述测试系统定位连接凹槽I内设置螺钉孔3，所述两个测试系统定位连接凹槽I内均设置ー个凹槽销钉孔2，所述凹槽销钉孔2贯穿于整个测试エ装；所述测试エ装的正面中央设置有ー个正方形凹槽4，所述凹槽4外四个顶角处对称分布四个销钉孔5，所述销钉孔5均贯穿于整个测试エ装。两个测试系统定位连接凹槽I内均是正方形状的，均设置4个螺钉孔3。、[0013]测试エ装上测试系统定位连接凹槽，在装配时，将测试系统的法兰嵌入凹槽处，然后用螺钉紧固。测试的时候，只需要将连接好系统的测试エ装与器件相对接即可，测试エ装上面的销钉孔可以很好的对器件和エ装的位置进行定位。以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等·效物界定。
权利要求1.一种新的波导双エ器测试エ装，其特征在于所述测试エ装的反面的两端对称分布两个测试系统定位连接凹槽，所述测试系统定位连接凹槽内设置螺钉孔，所述两个测试系统定位连接凹槽内均设置ー个凹槽销钉孔，所述凹槽销钉孔贯穿于整个测试エ装；所述测试エ装的正面中央设置有ー个正方形凹槽，所述凹槽外四个顶角处对称分布四个销钉孔，所述销钉孔均贯穿于整个测试エ装。
2.根据权利要求I所述的ー种新的波导双エ器测试エ装，其特征在于所述两个测试系统定位连接凹槽内均是正方形状的，均设置4个螺钉孔。
专利摘要本实用新型涉及一种新的波导双工器测试工装，所述测试工装的反面的两端对称分布两个测试系统定位连接凹槽，所述测试系统定位连接凹槽内设置螺钉孔，所述两个测试系统定位连接凹槽内均设置一个凹槽销钉孔，所述凹槽销钉孔贯穿于整个测试工装；所述测试工装的正面中央设置有一个正方形凹槽，所述凹槽外四个顶角处对称分布四个销钉孔，所述销钉孔均贯穿于整个测试工装。本实用新型通过测试工装与工装上凹陷的法兰定位相连接，器件与工装通过销钉的定位连接，提高检验测试的效率，降低对器件镀层和器件上螺钉孔的损伤。
文档编号G01D11/00GK202452995SQ20122005540
公开日2012年9月26日 申请日期2012年2月20日 优先权日2012年2月20日
发明者张雷, 章竹林, 陆聆 申请人:南京灏众通信技术有限公司