专利名称：涡流校正方法与磁共振成像设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种涡流校正方法和磁共振成像设备，更加具体地说，本发明涉及一种校正涡流对梯度磁场的影响的方法以及包括涡流校正装置的磁共振成像设备。
背景技术：
在磁共振成像设备中，将校正信号附加到梯度磁场信号上，以校正涡流对梯度磁场产生设备(例如，见专利文献1)产生的梯度磁场的影响。为了校正短时间常数涡流的这种校正信号的附加有时称之为预加重。这个术语来源于预先加重波形的一种技术，其中考虑到由于涡流的影响使有效的梯度磁场波形弱化的情况。
日本专利申请特开平4-22338(页3-4，图2-3)然而，由于梯度电源等的输出限制，有时不可能按照要求进行预加重，因而不可能准确地进行涡流校正。

发明内容
因此本发明的一个目的是提供一种在有限的输出范围内进行最佳的涡流校正的方法以及包括这样的涡流校正装置的磁共振成像设备。
(1)为了解决上述问题，本发明的一个方面是一种涡流校正方法，其特征在于包括计算用于对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正。
(2)为了解决上述问题，本发明的另一个方面是一种磁共振成像设备，用于向成像物体施加分别由静磁场产生装置、梯度磁场产生装置、和射频磁场产生装置产生的静磁场、梯度磁场、和射频磁场，获得磁共振信号，根据获得的磁共振信号由图像产生装置产生图像，所说的设备的特征在于包括计算装置，用于计算对所述梯度磁场进行涡流校正的一个校正值；和校正装置，如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正，如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正。
按本发明的这些方面，计算对于梯度磁场进行涡流校正的校正值；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正，因此在有限的输出范围内可实现最佳的涡流校正。
优选地，所说的上限值是梯度电源能够输出的最大校正值，以使这个梯度电源的性能可以在涡流校正中最大化。优选地，所说的最佳梯度磁场是其在梯形波的平顶部分的长度最长的梯度磁场，因此可获得最佳的梯形梯度磁场。优选地，所说的最佳梯度磁场是其波形区与理想的梯度磁场的波形区有最小差别的梯度磁场，因此可以获得最接近理想梯度磁场的梯度磁场。
优选地，依次减小所说计算的值可确定所说的多个候选校正值，因此可以获得适当的候选校正值。优选地，在所说的减小中步长差是恒定的，因此容易获得候选校正值。优选地，所说的候选校正值不小于一个预定的下限值，因此可以防止候选校正值下降地过多。优选地，如果不能获得最佳的梯度磁场，则使用所说的下限值进行校正，因此可利用最小的校正来进行涡流校正。
而且，如果计算的值超过预定的上限值，则可以使用利用经验预定的校正值代替通过模拟确定的校正值。
因此，本发明提供一种在有限的输出范围内进行最佳涡流校正的方法以及包括这种涡流校正装置的磁共振成像设备。
从以下结合附图对本发明的优选实施例描述中，本发明的进一步的目的和优点都将是显而易见的。


图1是按照本发明的一个实施例的设备的方块图。
图2是按照本发明的一个实施例的设备的方块图。
图3表示按照本发明的一个实施例的设备执行的典型脉冲序列。
图4表示按照本发明的一个实施例的设备执行的典型脉冲序列。
图5是按照本发明的一个实施例的设备操作的流程图。
图6是按照本发明的一个实施例的设备操作的流程图。
图7是按照本发明的一个实施例的设备的功能方块图。
具体实施例方式
现在参照附图详细描述本发明的实施例。图1表示磁共振成像设备的方块图。这个设备的结构代表按照本发明的设备的实施例。这个设备的操作代表按照本发明的方法的实施例。
如图1所示，本发明有一个磁系统100。磁系统100具有主磁场线圈部分102、梯度线圈部分106、和射频线圈部分108。这些线圈部分具有大体圆筒形状，并且是中心对称分布的。成像物体1躺在托架床500上，并通过运送装置(未示出)进、出磁系统100的大体圆筒形的内部空间(内腔)。
主磁场线圈部分102在磁系统100的内部空间里产生静磁场。静磁场的方向大体上平行于成像物体1的主体轴(body)方向。即，产生了通常称之为水平磁场的磁场。例如，使用超导线圈制作主磁场线圈部分102。然而，主磁场线圈部分102不限于超导线圈，使用普通的导电线圈或类似物也可制成主磁场线圈部分102。
梯度线圈部分106产生3个梯度磁场，在3个相互垂直轴的方向即切片轴(sliceaxis)、相位轴、和频率轴方向使静磁场强度产生梯度。对于由梯度线圈部分106产生的梯度磁场进行涡流校正。下面详细描述涡流校正。
当将静磁场空间内的3个相互垂直的坐标轴表示成x、y、z时，任何一个轴都可以是切片轴。在这种情况下，其余的两个轴之一是相位轴，另一个是频率轴。而且，可以使切片轴、相位轴、和频率轴相对于x、y、z轴有任何倾斜，同时保持它们相互垂直。有时称此为倾斜技术。在本发明的设备中，成像物体1的主体轴的方向定为z轴方向。
在切片轴方向的梯度磁场有时称之为切片(slice)梯度磁场。在相位轴方向的梯度磁场有时称之为相位编码梯度磁场。在频率轴方向的梯度磁场有时称之为读出梯度磁场。读出梯度磁场与频率编码梯度磁场同步。为了能够产生这样的梯度磁场，梯度线圈部分106有3个梯度线圈，图中未示出。下面，梯度磁场有时简称为梯度。
射频线圈部分108在静磁场空间产生射频磁场，用于激发成像物体1中的自旋。下面，有时将射频磁场的产生称之为射频激发信号的传送。而且，射频激发信号有时称之为射频脉冲。由激发的自旋产生的电磁波即磁共振信号由射频线圈部分108接收。
磁共振信号是在频率域中即傅里叶空间中的信号。由于磁共振信号沿两个轴由相位轴方向和频率轴方向的梯度编码，所以磁共振信号作为两维傅里叶空间中的信号获得。使用相位编码梯度和读出梯度来确定在两维傅里叶空间中采样信号的位置。下面，两维傅里叶空间有时称之为k空间。
梯度线圈部分106与梯度驱动部分130连接。梯度驱动部分130向梯度线圈部分106提供驱动信号以产生梯度磁场。梯度线圈部分130有3个驱动电路(未示出)，它们对应于梯度线圈部分106中的3个梯度线圈。
射频线圈部分108与射频驱动部分140连接。射频驱动部分140向射频线圈部分108提供驱动信号，以发送射频脉冲，借此激发成像物体1中的自旋。
主磁场线圈部分102是本发明的静磁场产生装置的一个实施例。由梯度线圈部分106和梯度驱动部分130组成的部分是本发明中的梯度磁场产生装置的一个实施例。由射频线圈部分108和射频驱动部分140组成的部分是本发明中射频磁场产生装置的一个实施例。
射频线圈部分108与数据收集部分150连接。数据收集部分150收集由射频线圈部分108接收的信号，以此作为数字数据。
梯度驱动部分130、射频驱动部分140和数据收集部分150与顺序控制部分160连接。顺序控制部分160控制梯度驱动部分130、射频驱动部分140和数据收集部分150，实现磁共振信号的收集。
顺序控制部分160例如是使用计算机构成的。顺序控制部分160有一个存储器，未示出。存储器存储用于顺序控制部分160的程序以及几种数据。顺序控制部分160的功能是通过执行存储在存储器中的程序实现的。
数据收集部分150的输出连接到数据处理部分170。由数据处理部分150收集的数据输入到数据处理部分170。数据处理部分170例如是由计算机构成的。数据处理部分170有一个存储器，未示出。存储器存储数据处理部分170的程序和几种数据。
数据处理部分170连接到顺序控制部分160。数据处理部分170在顺序控制部分160的上游方向并控制顺序控制部分160。本发明的设备的功能是由执行存储在存储器中的程序的数据处理部分170实现的。
数据处理部分170把数据收集部分150收集的数据存储在存储器中。在存储器中建立一个数据空间。这个数据空间对应于k空间。数据处理部分170对于k空间中的数据实现两维傅里叶逆转换以重新构建图像。数据处理部分170是本发明的图像产生装置的一个实施例。
数据处理部分170与显示部分180和操作部分190连接。显示部分180包括图形显示器等，操作部分190包括设有指向器的键盘等。
显示部分180显示从数据处理部分170输出的重构图像和几种数据。操作部分190由用户操作，并向数据处理部分170输入几种命令、信息、等等。用户经过显示部分180和操作部分190互动地操作本发明的设备。
图2表示另一种磁共振成像设备的方块图，它是本发明的一个实施例。这种设备的结构代表按照本发明的设备的一个实施例。这个设备的操作代表按照本发明的的方法的一个实施例。
本设备有一个与如图1所示设备不同类型的磁系统100’。由于该设备与如图1所示的设备类似，只是磁系统100’不同，所以用相似的标号代表相似的部分，并且省去了对它们的说明。
磁系统100’有一个主磁场磁铁部分102’、梯度线圈部分106’和射频线圈部分108’。主磁场磁铁部分102’和各个线圈部分都由穿过一个空间相互面对的一对部件组成。这些部分都有大体盘形的形状，并且有一个公共的中心轴。成像物体1躺在托架床500上，通过未示出的运送装置进、出磁系统100’的内部空间(空腔)。
主磁场磁铁部分102’在磁系统100’的内部空间产生一个静磁场。静磁场的方向大体上垂直于成像物体1的主体轴的方向。这就是说，产生了通常称之为垂直磁场的磁场。主磁场磁铁部分102’例如由永久磁铁制成。然而，主磁场磁铁部分102’不限于永久磁铁，可以使用超导电磁铁或普通电磁铁等制成。
梯度线圈部分106’产生3个梯度磁场，使静磁场强度在3个相互垂直的方向即切片轴、相位轴、和频率轴具有梯度。对于梯度线圈部分106’产生的梯度磁场进行涡流校正。后面，将会详细描述这种涡流校正。
当在静磁场空间中的相互垂直的坐标轴由x、y、z代表时，任何一个轴都可以是切片轴。在这种情况下，两个其余的轴之一是相位轴，另一个则是频率轴。而且，可以使切片轴、相位轴、和频率轴相对于x、y、z轴有任意的倾斜，同时保持它们的互相垂直；即，可以应用倾斜技术。在该设备中，成像物体1的主体轴方向再次定为z轴方向。为了能在3个轴向产生梯度磁场，梯度线圈部分106’具有3个梯度线圈，未示出。
射频线圈部分108’向静磁场空间发送射频脉冲以激发成像物体1中的自旋。射频线圈部分108接收由激发的自旋产生的电磁波，即磁共振信号。将由射频线圈部分108’接收的信号输入到数据收集部分150中。
主磁场线圈部分102’是本发明中静磁场产生装置的一个实施例。由梯度线圈部分106’和梯度驱动部分130构成的部分是本发明中梯度磁场产生装置的一个实施例。由射频线圈部分108’和射频驱动部分140是本发明中的射频磁场产生装置的一个实施例。
图3表示的是在磁共振成像中使用的典型脉冲序列。这个脉冲序列是按照自旋回波(SE)技术的脉冲序列。
具体来说，图3(1)是按照SE技术的射频激发的90°和180°的脉冲序列，图3(2)、(3)、(4)、(5)分别是按照SE技术的切片梯度Gs、读出梯度Gr、相位编码梯度Gp、和自旋回波MR的脉冲序列。90°和180°的脉冲分别由它们各自的中心信号代表。脉冲序列沿时间轴t从左至右前进。
如图所示，90°脉冲实现90°的自旋激发。这时，施加切片(slice)梯度Gs，以实现某一切片(slice)的选择激发。从90°激发开始一定时间以后，由180°脉冲实现180°激发，即，自旋反向。这时，再一次地施加切片梯度Gs，对同一切片进行选择反向。
在90°激发和自旋反向之间的期间，施加读出梯度Gr和相位编码梯度Gp。读出梯度Gr使自旋退相。相位编码梯度Gp对自旋进行相位编码。
在自旋反向后，读出梯度Gr使自旋再次同相(重相)，从而使自旋回波MR产生。自旋回波MR作为观察数据由数据收集部分150收集。在一个循环周期TR(重复时间)内，这个脉冲序列重复64-512次。每次重复相位编码梯度Gp都要发生变化，以实现每次不同的相位编码。这样，可以得到64-512次观察的观察数据。
图4表示用于磁共振成像的脉冲序列的另一个实例。这个脉冲序列是按照GRE(梯度回波)技术的一个脉冲序列。
具体来说，图4(1)是按照GRE技术的射频激发的α°的脉冲序列，图4(2)、(3)、(4)、(5)分别是按照GRE技术的切片梯度Gs、读出梯度Gr、相位编码梯度Gp、和梯度回波MR的脉冲序列。α°脉冲由它的中心信号代表。脉冲序列沿时间轴t从左至右前进。
如图所示，α°脉冲实现α°的自旋激发。α等于或小于90。这时，施加切片梯度Gs，以执行对某一切片的选择激发。
α°激发以后，由相位编码梯度Gp实现自旋的相位编码。接下去，自旋首先退相，随后由读出梯度Gr重相，使梯度回波MR产生。梯度回波MR作为观察数据由数据收集部分150收集。在一个循环周期TR内，这个脉冲序列重复64-512次。每次重复相位编码梯度Gp都要发生变化，以实现每次不同的相位编码。这样，可以得到64-512次观察的观察数据。
在数据处理部分170的存储器中收集由图3或4所示的脉冲序列获得的观察数据。脉冲序列不限于按照SE或GRE技术的脉冲序列，并且容易想到，可以使用按照任何一种适当的技术如快速自旋回波(FSE)技术或回波平面成像(EPI)技术的脉冲序列。数据处理部分170根据在存储器中收集的观察数据重构图像。
图5表示本发明设备在确定用于涡流校正的校正值过程中的操作流程图。校正值的确定是在扫描之前进行的。如图5所示，在步骤501，测量短时间常数的涡流。在这一步骤，测量在磁系统100(100’)中产生梯度磁场过程中涉及的短时间常数涡流。接下去，在步骤503，分析短时间常数的涡流。据此，分析测量的短时间常数涡流。接下去，在步骤505计算校正值Ac。具体来说，根据对于短时间常数涡流的分析结果，计算用于短时间常数涡流校正的校正值Ac，即预加重值。如以上所述的涡流的测量与分析以及校正值的计算在本领域中是众所周知的。下面有时简称短时间常数涡流为涡流。
接下去，在步骤507，确定是否Ac＞Amax。Amax是一个预定的上限值。上限值Amax例如是由梯度电源即梯度驱动部分130输出的校正值的最大幅度。这个步骤可最大限度地发挥梯度驱动部分130的性能。Amax的值可以在梯度驱动部分130能够输出的范围内进行适当的设置。
如果Ac＞Amax不成立，则在步骤521设置Ac_final＝Ac。Ac_final是一个确定的校正值。接下去，在步骤525，采用Ac_final作为短时间常数涡流的校正值。在这一步骤，确定计算的校正值Ac为用于涡流校正的校正值。由于Ac＞Amax不成立，所以梯度驱动部分130能够输出校正值Ac。
如果Ac＞Amax，则在步骤509设置Ac＝Ac-delta_amp。具体来说，Ac减小delta_amp。delta_amp是一个预定的常数值。在这个步骤，莸得一个小于计算值的候选校正值。
接下去，在步骤511，确定是否Ac＞Amax。如果Ac＞Amax则流程返回到步骤509，使Ac减小。在Ac＞Amax的情况下不断重复这些步骤。
如果Ac＞Amax不成立，则在步骤513使用Ac模拟受到涡流影响的梯度磁场。具体来说，模拟由Ac预加重的梯度磁场、由这个梯度磁场产生的涡流、和受到涡流影响的梯度磁场。下面，有时称受到涡流影响的梯度磁场为有效的梯度磁场。梯度磁场的波形是方形或梯形。
接下去，在步骤515，存储梯度磁场波形的平直顶部的时间长度Tf。存储有效梯度磁场波形的平直顶部的时间长度Tf。术语“平直顶部“代表方波或梯波的顶部的平直部分。对于方波或梯波中的幅度和脉宽来说，对自旋进行操作的梯度磁场的效率对于较长时间长度的平直顶部来说是较高的。
接下去，在步骤517，确定是否Ac≤A_limit。A_limit是一个预定下限值。例如根据经验确定下限值A_limit为一适当值。
如果Ac≤A_limit不成立，则流程返回到步骤509，设置Ac＝Ac-delta_amp，并且对于新的Ac执行步骤511-515的处理。在Ac≤A_limit不成立的情况下重复这一处理过程。这样，就模拟出一个有效的梯度磁场，并且对于每个依次减小的Ac值存储它的平直顶部的时间长度Tf。
由于候选校正值是这样通过逐渐减小计算值产生的，因而可以获得适当的候选值。而且，由于减小的步长差是恒定的，所以容易产生候选校正值。多个候选校正值可能是在Amax和A_limit之间的彼此不同的合适的值。
如果Ac≤A_limit，则在步骤519确定是否存在具有最长Tf的Ac。如果找到这样的Ac，则在步骤521设置Ac_final＝Ac，并且在步骤525采用Ac_final作为短时间常数涡流的校正值。由于当Ac≤A_limit时停止了Ac的减小，所以可防止减小的过多。
如以上所述，使用具有最长Tf的Ac作为Ac_final。具有最长Tf的梯度磁场相对来说是最有效的，由此确定了一个校正值，这个校正值用于获得相对来说最佳的梯度磁场。
如果没有找到具有最长Tf的Ac，则在步骤523设置Ac_final＝Ac_limit。这样，如果没有找到用于获得相对来说最佳的梯度磁场的校正值，则确定用于校正值的下限值Ac_limit为确定的校正值。由此可以实现具有最小校正值的涡流校正。
图6表示本发明在确定涡流校正的校正值的过程中的另一种操作流程图。在图6中，由相似的标号代表与图5所示的相似的处理操作，并省去了对它们的说明。与图5所示的处理过程的差别在于步骤515’和519’。在步骤515’，存储模拟的梯度磁场波形的区域S。在步骤519’，确定是否存在使S与理想值的差最小的Ac。
S的理想值是一个完全不受涡流影响的理想的梯度磁场区。由于梯度磁场的功效由它的波形的区域确定，所以使S与理想值的差最小的梯度磁场就是最接近理想梯度磁场的梯度磁场，即相对来说最佳的梯度磁场。
如果找到这样的Ac，则通过在步骤521和525的处理，采用这个Ac作为短时间常数涡流的校正值。由于使用的是波形面积S，因而有可能确定具有任何波形的梯度磁场的校正值，而不仅仅是方波或梯形波。
如以上所述的校正值的确定是针对沿每个轴的梯度进行的。可以对各个梯度脉冲进行针对每个轴的校正值的确定。可以通过采用在Ac＞Amax时的一个经验值来确定校正值，而不是通过以上所述的模拟方法来确定这个校正值。
在由本设备进行扫描的过程中，由梯度磁场校正(预加重)根据如以上所确定的校正值进行涡流校正。这样，在梯度驱动部分130的输出范围内可以实现最佳的涡流校正，并可实现具有良好质量的成像。
图7表示以涡流校正为重点的本发明的设备的功能方块图。如图所示，本设备包括计算部分702、校正部分704和梯度磁场产生部分706。计算部分702服务于如图5或6所示的步骤501-505的功能。校正部分704服务于如图5或6所示的步骤507-525的功能。梯度磁场产生部分706服务于如图1或2所示的磁系统100或100’以及梯度驱动部分130的功能。
计算部分702是本发明的计算装置的一个实施例。校正部分704是本发明中的校正装置的一个实施例。梯度磁场产生部分706是本发明的梯度磁场产生装置的一个实施例。
计算部分702如以上所述计算涡流校正的校正值，并向校正部分704输入这个校正值。校正部分704如以上所述确定校正值，并且根据校正值校正梯度磁场产生部分706中的梯度磁场。
虽然参照优选实施例已经描述了本发明，但是在不脱离本发明的技术范围的情况下，本发明的相关领域的普通技术人员可以对这些实施例进行各种改变和替换。因此，本发明的技术范围不仅包括上述这些实施例，而且包括落在所附的权利要求书的构思和范围内的所有实施例。
在不脱离本发明的构思和范围的情况下，可以构成本发明的许可不同的大量的实施例。应该理解，本发明不限于说明书中描述的特定实施例，而是如所附的权利要求书限定的那样。
图中汉字(图1)1成像物体100 磁系统102 主磁场线圈部分106 梯度线圈部分108 射频线圈部分130 梯度驱动部分140 射频驱动部分150 数据收集部分160 顺序控制部分170 数据处理部分180 显示部分190 操作部分500 托架床(图2)100’磁系统102’主磁场线圈部分
106’梯度线圈部分108’射频线圈部分130 梯度驱动部分140 射频驱动部分150 数据收集部分160 顺序控制部分170 数据处理部分180 显示部分190 操作部分(图3，图4)时间(图5)开始501 测量短时间常数涡流503 分析短时间常数涡流505 计算校正值Ac513 使用Ac模拟受涡流影响的梯度磁场515 存储梯度磁场波形的平直顶部的时间长度Tf519 具有最长Tf的Ac存在吗？525 对于短时间常数涡流采用Ac_final作为校正值(图6...省略与图5相同的部分)515’存储梯度磁场波形的存储面积S519’与理想值相比具有S的最小差值的Ac存在吗？(图7)702 计算部分704 校正部分706 梯度磁场产生部分
权利要求
1.一种涡流校正方法，包括计算用于对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正。
2.权利要求1的涡流校正方法，其中所说的上限值是梯度电源能够输出的最大校正值。
3.权利要求1的涡流校正方法，其中所说的最佳梯度磁场是其在梯形波的平顶部分的长度最长的梯度磁场。
4.权利要求1的涡流校正方法，其中所说的最佳梯度磁场是其波形区与理想的梯度磁场的波形区有最小差别的梯度磁场。
5.权利要求1的涡流校正方法，其中通过依次减小所说的计算值确定所说的多个候选校正值。
6.权利要求5的涡流校正方法，其中在所说的减小中步长差是恒定的。
7.权利要求5的涡流校正方法，其中所说的候选校正值不小于一个预定的下限值。
8.权利要求7的涡流校正方法，其中如果不能获得最佳的梯度磁场，则使用所说的下限值进行校正。
9.一种磁共振成像设备，用于向成像物体施加分别由静磁场产生装置、梯度磁场产生装置、和射频磁场产生装置产生的静磁场、梯度磁场、和射频磁场，获得磁共振信号，根据获得的磁共振信号由图像产生装置产生图像，所说的设备包括计算装置，用于计算对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值；和校正装置，如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场断校正。
10.权利要求9的磁共振成像设备，其中所说的上限值是梯度磁场产生装置能够输出的最大校正值。
11.权利要求9的磁共振成像设备，其中所说的最佳梯度磁场是其在梯形波的平顶部分的长度最长的梯度磁场。
12.权利要求9的磁共振成像设备，其中所说的最佳梯度磁场是其波形区与理想的梯度磁场的波形区有最小差别的梯度磁场。
13.权利要求9的磁共振成像设备，其中通过依次减小所说的计算值确定所说的多个候选校正值。
14.权利要求13的磁共振成像设备，其中在所说的减小中步长差是恒定的。
15.权利要求13的磁共振成像设备，其中所说的候选校正值不小于一个预定的下限值。
16.权利要求15的磁共振成像设备，其中如果不能获得最佳的梯度磁场，则校正装置使用所说的下限值进行校正。
全文摘要
为了在有限的输出范围内进行最佳的涡流校正，计算用于对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值(501－505)；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正(507、521、525)；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场(507－517)，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正(519－525)。
文档编号G01R33/54GK1518949SQ20041000381
公开日2004年8月11日 申请日期2004年2月6日 优先权日2003年2月6日
发明者植竹望 申请人:Ge医疗系统环球技术有限公司