专利名称：一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于印制线路板制作技术领域，具体涉及的是一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置。
技术背景目前线路板制作过程中需要对板面进行贴干膜或湿膜，以进行阻焊曝光，由于贴膜过程中的对位通常都是采用手工对位的，可能存在对位不准确的问题，因此为了保证后 续阻焊曝光的准确性，通常需要在贴干膜或湿膜后，对贴膜后的线路板进行检测。现在对贴膜后的线路板进行检测一般采用十倍显微镜，这种检测方式存在判断精度差，光线较暗时看不清楚的问题；而且对于采用黑片贴膜的线路板，因黑片颜色与线路板颜色相同，存在黑片对位，无法判读的问题。
发明内容为此，本实用新型的目的在于提供一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置，以解决现有贴膜对位检测方式所存在的判断精度差、光线较暗时看不清楚以及黑片对位无法判读的问题。为实现上述目的，本实用新型主要采用以下技术方案一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置，包括扫描器和显示装置，所述扫描器中安装有镜头、图像传感器、微处理器和黄光灯，所述镜头通过图像传感器与微处理器连接，微处理器通过数据传输线与显示装置连接。其中所述镜头为20倍放大镜。本实用新型利用20倍放大镜对线路板的对位图形进行采集，并将采集的图形通过显示装置进行显示，方便了对位的检测，同时利用黄光灯对黑片或光线较暗的对位情况进行照明，避免造成检测时产生的线路板曝光，解决了光线较暗时，看不清楚以及黑片无法对位判读的问题。

图I为本实用新型的原理结构框图。图中标识说明扫描器I、镜头2、黄光灯3、图像传感器4、微处理器5、数据传输线6、显示装置7。
具体实施方式
为阐述本实用新型的思想及目的，下面将结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步的说明。本实用新型提供的是一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置，通过采用20倍放大镜将对位区域进行图像采集，并通过图像传感器及微处理器处理后发送到显示装置进行显示，以便于检测查看；对于黑片对位或光线较暗的对位环境，则可以采用无紫外光线的黄光灯照明，即可满足照明检测要求，又可以避免紫外光对贴膜造成曝光。请参见图I所示，图I为本实用新型的原理结构框图。本实用新型所述的阻焊曝光对位精度辅助检查装置主要包括有一个显示装置7以及一个与该显示装置7连接的扫描器I。其中上述扫描器I中设置有镜头2、黄光灯3、图像传感器4和微处理器5,镜头2与图像传感器4连接，图像传感器4与微处理器5连接，而微处理器5则通过数据传输线6与显示装置7连接。镜头2为20倍放大镜，主要用于对对位贴膜后的线路板进行检测，获取对应的对位图像，检测时，将线路板对应放在镜头2下方，并可对应移动扫描器I ;图像传感器4为光电转换元件，用于将来自镜头2的图像信号转换成电信号，对应发送给微处理器5，而微处理器5将该信号经过处理后发送到显示装置7，通过显示装置7对该电信号进行还原，形成对应的图像在显示屏幕上进行显示。在不同的光线环境下，还可以开启或关闭上述黄光灯3，如在光线较暗或需要对黑片进行对位检测时，就需要使用黄光灯进行对应照明，以使镜头2能够采集到清楚的图像。以上是对本实用新型所提供的一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置进行了详细的介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的结构原理及实施方式进行了阐述，以上实施例只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
权利要求1.一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置，其特征在于包括扫描器(I)和显示装置(7)，所述扫描器(I)中安装有镜头(2)、图像传感器(4)、微处理器(5)和黄光灯(3)，所述镜头(2 )通过图像传感器(4 )与微处理器(5 )连接，微处理器(5 )通过数据传输线(6 )与显示装置(7)连接。
2.根据权利要求I所述的阻焊曝光对位精度辅助检查装置，其特征在于所述镜头(2)为20倍放大镜。
专利摘要本实用新型公开了一种阻焊曝光对位精度辅助检查装置，包括扫描器和显示装置，所述扫描器中安装有镜头、图像传感器、微处理器和黄光灯，所述镜头通过图像传感器与微处理器连接，微处理器通过数据传输线与显示装置连接。本实用新型利用20倍放大镜对线路板的对位图形进行采集，并将采集的图形通过显示装置进行显示，方便了对位的检测，同时利用黄光灯对黑片或光线较暗的对位情况进行照明，避免造成检测时产生的线路板曝光，解决了光线较暗时，看不清楚以及黑片无法对位判读的问题。
文档编号G01B11/00GK202661042SQ201220228180
公开日2013年1月9日 申请日期2012年5月18日 优先权日2012年5月18日
发明者范军杰, 蔡明洋, 邓峻 申请人:江门崇达电路技术有限公司