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高倾转样品台换样底座的制作方法

时间:2025-05-14    作者: 管理员

高倾转样品台换样底座的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种高倾转样品台换样底座,包括底座、样品台,底座的一端为型腔端,型腔端的端平面设置有型腔,所述样品台装入所述型腔,底座的另一端为握持端,所述握持端的外周设置有凸出部件,该高倾转样品台换样底座在满足大角度倾转样品所需要小尺寸样品台的同时,很好地解决了小尺寸样品台在更换样品时不易操作的问题。
【专利说明】高倾转样品台换样底座
[0001]

【技术领域】
[0002]本实用新型涉及一种透射电子显微镜用样品台附件,特别是涉及可以满足大角度倾转样品的高倾转样品台换样底座。
[0003]

【背景技术】
[0004]透射电子显微镜采用电子束作为光源从而得到极高的细节分辨能力,使其成为可以直观的检测到晶体材料的原子结构信息的重要工具。通过透射电子显微镜不仅可以获得带有晶体结构信息的高分辨照片,也可以给出纳米尺度选区的电子衍射。透射电子显微镜主要由电子源、电磁透镜系统、样品台以及成像系统等部分组成。
[0005]物镜是透射电子显微镜多种电磁透镜中距离试样最近的透镜。物镜的基本构造包括上极靴和下极靴两部分,分别位于紧邻试样的上方和下方。现有技术设计的单倾样品台在透射电子显微镜内的的旋转角度受样品台尺寸和上极靴和下极靴的之间的间距限制。因此在需要大角度倾转样品时需要使用特殊的小尺寸样品台。然而在现有技术条件下,小尺寸样品台在更换样品时,不易操作。
[0006]本实用新型所设计的高倾转样品台换样底座能很好地实现小尺寸样品台在更换样品时的操作问题,且不易损坏样品台及相关夹捏工具,使得该换样操作方便易行,提高了换样环节的安全与高效。


【发明内容】

[0007]为了实现上述目的,本实用新型提供了一种结构简单,使用方便的高倾转样品台换样底座。
[0008]为了解决上述现有问题,本实用新型所采取的技术方案是:一种高倾转样品台换样底座,包括底座、样品台,底座的一端为型腔端,型腔端的端平面设置有型腔,所述样品台装入所述型腔,底座的另一端为握持端,所述握持端的外周设置有凸出部件,所述突出部件与底座端固定连接。样品台放置到型腔后,操作者可以通过持握握持端将样品台安装到显微镜的相关部分。
[0009]作为优选,所述型腔包括固定部件,所述固定部件位于样品台固定腔内部,与底座固定连接。所述样品台固定腔的尺寸与样品台的尺寸相一致,确保样品台能很好地放置到样品台固定腔中,所述固定部件能进一步固定样品台。
[0010]作为优选,所述型腔底端面方设置有凹槽,所述凹槽的一端延伸至型腔端的外周,所述样品台固定腔设置有圆角。所述凹槽的设置可以便于夹捏工具取出和放置样品台,所述圆角有利于样品台更容易放置到底座型腔中。
[0011]作为优选,所述固定部件为圆柱形固定桩。所述样品台通过固定桩与高倾转样品台换样底座相连接。
[0012]作为优选,所述凸出部件沿握持端向外周向凸出,所述凸出部件包括棱边。周向凸出的凸出部件保证了操作者可以牢固地握持住底座,安全地实现换样操作。
[0013]作为优选,所述样品台的底面与所述型腔底面相贴合。保证样品台正确、合适的放置到型腔底座中。
[0014]与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:在满足大角度倾转样品所需要小尺寸样品台的同时,样品台固定腔的设置能很好地将样品台水平地固定在高倾转样品台换样底座上,样品台通过固定桩与高倾转样品台换样底座固定相连,紧密牢靠固定样品台于底座上,保证了换样时样品台不会发生移动或者转动;握持端突出部件的设置能使换样操作者牢固地握持住底座。高倾转样品台换样底座能安全、方便地实现在样品台上换样,及换样前后样品台装换到显微镜上这一些列换样操作。
[0015]

【专利附图】

【附图说明】
[0016]图1是样品台的结构示意图;
[0017]图2是本实用新型底座的结构示意图。
[0018]1、底座;2、样品台固定腔;3、固定桩;4、凹槽;5、圆角;6、凸出部件;7、棱边。
[0019]

【具体实施方式】
[0020]以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。
[0021]高倾转样品台换样底座(见附图1),包括底座1,样品台,底座型腔端的端平面设置有型腔,所述型腔与样品台贴合,所述型腔包括样品台固定腔2、固定桩3,所述样品台固定腔2位于型腔的最上方,所述固定桩3位于样品台固定腔2内部,与底座I固定连接,所述样品台固定腔2下方设置有凹槽4,所述样品台固定腔2设置有圆角5,底座I的另一端为握持端,握持端的外周设置有凸台6,所述凸台6突出部件包括棱边7,所述突出部件6与底座I固定连接。
[0022]本实用新型是针对小尺寸样品台在更换样品时不易操作这一问题所设计的,在使用时,先将样品台用镊子放置到样品台固定腔中,样品台通过固定桩与底座连接,确保样品台紧密固定在底座上;然后可以手持高倾转样品台换样底座上的凸出部件移向显微镜上需安放样品台的地方,将样品台安装到显微镜上。
[0023]上述【具体实施方式】用来解释说明本实用新型,而不是对本实用新型进行限制,在本实用新型的精神和权利要求的保护范围内,对本实用新型做出的任何修改和改变,都落入本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种高倾转样品台换样底座,包括底座、样品台,其特征在于,底座的一端为型腔端,型腔端的端平面设置有型腔,所述样品台装入所述型腔,底座的另一端为握持端,所述握持端的外周设置有凸出部件,所述凸出部件与底座端固定连接。
2.如权利要求1所述的高倾转样品台换样底座,其特征在于,所述型腔包括固定部件,所述固定部件位于样品台固定腔内部,与底座固定连接。
3.如权利要求2所述的高倾转样品台换样底座,其特征在于,所述型腔底端面方设置有凹槽,所述凹槽的一端延伸至型腔端的外周,所述样品台固定腔设置有圆角。
4.如权利要求2或3所述的高倾转样品台换样底座,其特征在于,所述固定部件为圆柱形固定桩。
5.如权利要求1或2或3所述的高倾转样品台换样底座,其特征在于,所述凸出部件沿握持端向外周向凸出,所述凸出部件包括棱边。
6.如权利要求1或2或3所述的高倾转样品台换样底座,其特征在于,所述样品台的底面与所述型腔底面相贴合。
【文档编号】G01N1/36GK204008261SQ201420353242
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年6月27日 优先权日:2014年6月27日
【发明者】王义林, 张大梁, 周向志 申请人:王义林, 张大梁, 周向志

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