专利名称:Led显示屏像素阵列光强分布测试系统的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及一种LED显示屏像素阵列光强分布测试系统。
背景技术:
近年来,随着平板显示技术和图像显示技术的发展,显示设备有向大面 积、数字化,高清晰发展的趋势。现有的显示设备特别是户外大面积、超大 面积LED显示器,由于分立发光像素单元(组)本身具有离散性,以及它们 本身的光学特性、结构形状及封装工艺等因素的影响,使得LED显示屏的光 强分布随视角变化比较明显。由于LED发光的方向性比较强, 一般情况下, 法向光强最强,向四周方向光强逐渐减弱,并且LED的封装结构对其半视角 大小也有影响。不同基色的LED半视角大小也不相同。在由单色LED为基 本像素点构成的平板显示系统中,不同视角的光强分布是由LED管发光特性 决定的,这必然会影响到平板显示屏的亮色度均匀性。因此,有必要对平板 显示屏在不同角度上的光强分布进行较为准确的测试,并对数据进行相应的 处理分析,进而对平板显示屏的显示效果进行预评估。然而,LED显示屏面 积较大,用CCD相机等光色测量器件获取整屏亮色度信息必然会出现因视角 引起的亮度误差。
发明内容
本实用新型的要解决的技术问题是提供一种对平板显示屏在不同角度上 的光强分布进行较为准确的测试的LED平板显示屏像素阵列光强分布测试 系统。
为了解决上述技术问题,本实用新型的LED平板显示屏像素阵列光强分 布测试系统包括测试转台,数据采集系统,计算机;LED显示屏模组垂直放 置于测试转台上;数据采集系统置于测试转台的正前方,并且数据采集系统通过数据传输线与计算机连接。
转动测试转台,LED显示屏模组随测试转台每转动一个角度,数据采集系 统对LED显示屏模组进行一次光强数据的采集,数据采集系统采集的光强数 据录入计算机数据库。
本实用新型通过改变数据采集系统相对于LED显示屏模组的视角,实现 对LED显示屏像素阵列多角度光强信息的采集,并将光强数据录入计算机数 据库。这样就可以在此基础上分析由视角引起的LED显示屏光强分布的变化 情况,针对不同的LED显示屏总结出其相应的变化规律,从而为LED平板 显示屏出厂前校正及现场校正提供依据。并且本实用新型以模组为单位进行 光强分布测试,可以减小视角对光强测试结果的影响。
本实用新型还可以包括转动控制装置;转动控制装置包括控制系统和电 机;计算机与控制系统的输入连接,控制系统的输出与电机连接,电机的转 轴与测试转台的转动轴连接。
计算机可以通过控制系统精确控制电机按照设定的角度转动,从而实现对 LED显示屏像素阵列多角度光强信息的采集,建立LED显示屏像素阵列光 强分布数据库。
本实用新型还可以包括固定支架、转动手柄及传动系统;转动手柄安装在 固定支架上,其转轴通过传动系统与测试转台的转动轴连接;测试转台的边 缘带有角度刻度;指针固定连接在固定支架上。
初始状态,指针对准测试转台边缘的O刻度线。指针对准0刻度线是从 法线方向上对LED显示屏模组进行光强采集。然后转动转动手柄,通过传动 系统带动测试转台在-90度一+90度范围内转动,测试转台每转过一个设定的 角度,数据采集系统对LED显示屏模组进行一次光强数据的采集;数据采集 系统采集的光强数据录入计算机数据库。测试转台转过的角度通过其边缘的 角度刻度及指针读出。测试转台采用粗糙的表面,以便在被测试的LED显示屏模组与测试转台
之间产生较大的摩擦力,这样可防止LED显示屏模组由于转动惯性滑动而不 能和测试转台转动角度同步。
本实用新型结合LED平板显示屏的特点,采用以模组为单位的方式,实 现对显示屏模组进行多角度的光强分布测试,从而通过对测试数据的分析处 理,总结出不同点间距、封装形式等的LED平板显示屏的光强分布特征,针 对户外超大面积,远距离显示的LED显示屏对亮度和视角要求比较高的情况, 对其在生产过程中的整体亮度一致性进行评估,为模拟现场校正提供可靠依 据。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细说明。
图1为本实用新型的LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统的结构 示意图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型的LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统 包括测试转台2,转动轴3,指针5,转动手柄6,电机7,固定支架8,数据 采集系统10,计算机11,控制系统12。 LED显示屏模组1垂直放置于测试转 台2上,其下边沿与测试转台2边缘的士90度刻度线连线对齐。测试转台2 置于固定支架8上,其转动轴3与安装在固定支架8内的电机7的转轴连接。 测试转台2的边缘带有角度刻度4;指针5固定连接在固定支架8上。转动 手柄6安装在固定支架8的侧壁上,转动手柄6的转轴通过固定支架8内部 的传动系统与测试转台2的转动轴3连接;传动系统可以采用普通的齿轮传 动系统或其它公知的传动系统。滚轮底座9在固定支架8的底部,能固定或 移动整个固定支架8。数据采集系统10置于测试转台2的正前方,并能保证 最佳光强采集效果;数据采集系统10可采用光强测试仪或CCD相机等测试设备,测试设备通过数据传输线与计算机ll相连,并且实时将采集的光强数
据录入计算机11的数据库。控制系统12可以采用单片机、DSP或A躍等微 处理器发送控制信号;计算机ll通过数据传输线与该器件连接,该器件通过 电机驱动器将调宽波输出到电机7。
测试转台2主要是控制显示屏模组按一定角度水平转动,转动角度范围是 ±90度,精度可达1度。测试转台2每次转过的角度可以作为参数预先在计
算机ll中设置,也可以通过键盘输入。
将LED显示屏分为mXn的显示屏模组,以模组为单位进行光强分布测试。 将LED显示屏模组1垂直放置于测试转台2上,其下边沿与测试转台2边缘 的±90度刻度线连线对齐,这样可对LED显示屏模组1在水平方向上士90 度视角范围内的光强分布进行测试;将LED显示屏模组1沿垂直方向上旋转 90度放置,可实现对其在俯仰视角上的多角度光强分布测试。在暗室条件下 对LED显示屏模组1进行光强采集,数据采集系统10可采用高精度CCD相机、 光强仪等。转动测试转台2可对LED显示屏模组1在不同角度上进行光强数 据采集。这样可以确定出LED显示屏模组1在垂直法线方向左、右不同角度 上的光强分布情况及在垂直法线方向俯、仰不同角度上的光强分布情况,进 而得到整屏的视觉半亮度角,建立不同角度光强分布数据库。该数据库可以 用于显示屏分析评估,及针对显示屏不同安装位置、显示模组角度不同、现 场有遮挡及现场校正时提取显示模组不同角度的光强数据,从而实现模拟现 场校正,使显示屏获得最佳的显示效果。
权利要求1、一种LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统,其特征在于包括测试转台(2),数据采集系统(10),计算机(11);LED显示屏模组(1)垂直放置于测试转台(2)上;数据采集系统(10)置于测试转台(2)的正前方,并且数据采集系统(10)通过数据传输线与计算机(11)连接。
2、 根据权利要求1所述的LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统, 其特征在于还包括转动控制装置;转动控制装置包括控制系统(12)和电机(7);计算机(11)与控制系统(12)的输入连接,控制系统(12)的输出与 电机(7)连接,电机(7)的转轴与测试转台(2)的转动轴(3)连接。
3、 根据权利要求1所述的LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统, 其特征在于还包括固定支架(8)、转动手柄(6)及传动系统;转动手柄(6)安装 在固定支架(8)上,其转轴通过传动系统与测试转台(2)的转动轴(3)连接;测 试转台(2)的边缘带有角度刻度(4);指针(5)固定连接在固定支架(8)上。
4、根据权利要求1、 2或3所述的LED平板显示屏像素阵列光强分布测 试系统,其特征在于测试转台(2)采用粗糙的表面。
专利摘要本实用新型涉及一种LED平板显示屏像素阵列光强分布测试系统,该系统包括测试转台,数据采集系统,计算机;LED显示屏模组置于测试转台上;数据采集系统置于测试转台的正前方,并且数据采集系统通过数据传输线与计算机连接。LED显示屏模组随测试转台每转动一个角度,数据采集系统在计算机的控制下对LED显示屏模组进行一次光强数据的采集,数据采集系统采集的光强数据录入计算机数据库。这样就可以在此基础上分析由视角引起的LED显示屏光强分布的变化情况,针对不同的LED显示屏总结出其相应的变化规律,从而为LED平板显示屏出厂前校正及现场校正提供依据。
文档编号G01J1/00GK201247098SQ200820072379
公开日2009年5月27日 申请日期2008年9月3日 优先权日2008年9月3日
发明者丁铁夫, 宋新丽, 郑喜凤 申请人:长春希达电子技术有限公司