专利名称：封装器件冲击振动试验夹具的制作方法
技术领域：
封装器件冲击振动试验夹具技术领域[0001]本实用新型属于封装器件冲击振动试验技术领域，具体涉及一种封装器件冲击振动试验夹具。
背景技术：
[0002]振动、冲击试验需用专用夹具将被试验样品与振动、冲击设备相连接，要求将振动、冲击激励不失真地传递给被试验样品。因此振动、冲击试验夹具设计的成功与否直接关系到试验的正常进行。振动、冲击试验是在实验室里模拟各种振动、冲击环境，将Fl型封装器件紧固在振动、冲击试验专用夹具上，依据一定的振动、冲击试验标准及方法，对器件进行相应的振动、冲击试验。因此这就要求该振动、冲击试验夹具具有良好接触性、刚性接触、 重量轻、重心对称下移、多装有效载荷。发明内容[0003]本实用新型的目的在于提供一种封装器件冲击振动试验夹具，解决Fl型封装器件的冲击振动试验问题，满足大量封装器件的复验筛选。[0004]本实用新型的技术方案如下一种封装器件冲击振动试验夹具，该试验夹具整体为nXnXn的立方体结构，其中，η的范围为Ilcm至14cm之间；该试验夹具中心开有 6X6Xn (cm3)的孔，且在该试验夹具中非开孔的两个相对面上，对称开有若干个中心对称的凹槽，每个凹槽可以安装待冲击振动试验的器件。[0005]所述的开有凹槽的面上中心对称分布有4个、9个或12个凹槽。[0006]所述的凹槽为上段类椭圆、下段圆柱筒型的阶梯孔结构，且在上段类椭圆与下段圆柱筒过渡的棱面长轴方向上对称开有两个螺纹孔，方便待冲击振动试验的器件通过螺钉紧固安装在该凹槽中。[0007]所述的凹槽中上段类椭圆的长轴长度范围为32. 9 33. 1mm，短轴的长度范围为22.9 23. 1mm，上段类椭圆的高度范围为10. 8 12mm，下段圆柱筒的直径范围为10. 8 11. 2mm,下段圆柱筒的高度范围为14 14. 5mm,凹槽中两螺孔中心线的距离范围为22. 9 23.Imm0[0008]本实用新型的显著效果在于本实用新型所述的一种封装器件冲击振动试验夹具可解决Fl型封装器件的冲击振动试验问题，满足大量封装器件的复验筛选；同时，该试验夹具具有较小体积下可装载多个待冲击振动试验器件，大大提供了冲击振动试验的效率。


[0009]图I为本实用新型所述的一种封装器件冲击振动试验夹具剖面示意图。
具体实施方式
[0010]
以下结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。[0011]实施例I[0012]如图I所示，一种封装器件冲击振动试验夹具，整体为铝(LY12)比重为2. 78g/cm3 材质的nXnXn的立方体结构,其中，η的范围为Ilcm至14cm之间；该试验夹具中心开有 6X6Xn (cm3)的孔，且在该试验夹具中非开孔的两个相对面上，对称开有若干个中心对称的凹槽，例如，每个开有凹槽的面上可中对称分布4个、9个或12个凹槽，其中，每个凹槽为上段类椭圆、下段圆柱筒型的阶梯孔结构，且在上段类椭圆与下段圆柱筒过渡的棱面长轴方向上对称开有两个螺纹孔，方便待冲击振动试验的器件通过螺钉紧固安装在该凹槽中。在每个凹槽中，上段类椭圆的长轴长度为32. 9mm，短轴的长度为22. 9mm，上段类椭圆的高度为10. 8_，下段圆柱筒的直径为10. 8_，下段圆柱筒的高度为14_，凹槽中两螺孔中心线的距离为22. 9mm。[0013]实施例2[0014]如图I所示，一种封装器件冲击振动试验夹具，整体为铝(LY12)比重为2. 78g/cm3 材质的nXnXn的立方体结构,其中，η的范围为Ilcm至14cm之间；该试验夹具中心开有 6X6Xn (cm3)的孔，且在该试验夹具中非开孔的两个向对面上，对称开有若干个中心对称的凹槽，例如，每个开有凹槽的面上可中心对称分布4个、9个或12个凹槽，其中，每个凹槽为上段类椭圆、下段圆柱筒型的阶梯孔结构，且在上段类椭圆与下段圆柱筒过渡的棱面长轴方向上对称开有两个螺纹孔，方便待冲击振动试验的器件通过螺钉紧固安装在该凹槽中。在每个凹槽中，上段类椭圆的长轴长度为33mm，短轴的长度为23mm，上段类椭圆的高度为11mm，下段圆柱筒的直径为11mm，下段圆柱筒的高度为14mm，凹槽中两螺孔中心线的距离为23mm。[0015]实施例3[0016]如图I所示，一种封装器件冲击振动试验夹具，整体为铝(LY12)比重为2. 78g/ cm3材质的nXnXn的立方体结构,其中,η的范围为Ilcm至14cm之间；该试验夹具中心开有6X6Xn (cm3)的孔，且在该试验夹具中非开孔的两个向对面上，对称开有若干个中心对称的凹槽，例如，每个开有凹槽的面上可中心对称分布4个、9个或12个凹槽，其中，每个凹槽为上段类椭圆、下段圆柱筒型的阶梯孔结构，且在上段类椭圆与下段圆柱筒过渡的棱面长轴方向上对称开有两个螺纹孔，方便待冲击振动试验的器件通过螺钉紧固安装在该凹槽中。在每个凹槽中，上段类椭圆的长轴长度为33. 1mm，短轴的长度为23. 1mm，上段类椭圆的高度为12_，下段圆柱筒的直径为11. 2_，下段圆柱筒的高度为14. 5_，凹槽中两螺孔中心线的距离为23. 1mm。
权利要求1.一种封装器件冲击振动试验夹具，其特征在于该试验夹具整体为nXnXn的立方体结构，其中，n的范围为Ilcm至14cm之间；该试验夹具中心开有6X6Xn (cm3)的孔,且在该试验夹具中非开孔的两个相对面上，对称开有若干个中心对称的凹槽，每个凹槽可以安装待冲击振动试验的器件。
2.根据权利要求I所述的一种封装器件冲击振动试验夹具，其特征在于所述的开有凹槽的面上中心对称分布有4个、9个或12个凹槽。
3.根据权利要求I或2所述的一种封装器件冲击振动试验夹具，其特征在于所述的凹槽为上段类椭圆、下段圆柱筒型的阶梯孔结构，且在上段类椭圆与下段圆柱筒过渡的棱面长轴方向上对称开有两个螺纹孔，方便待冲击振动试验的器件通过螺钉紧固安装在该凹槽中。
4.根据权利要求3所述的一种封装器件冲击振动试验夹具，其特征在于所述的凹槽中上段类椭圆的长轴长度范围为32.9 33. 1mm，短轴的长度范围为22. 9^23. 1mm，上段类椭圆的高度范围为10. 8 12_，下段圆柱筒的直径范围为10. 8 11.2mm，下段圆柱筒的高度范围为14 14. 5mm,凹槽中两螺孔中心线的距离范围为22. 9 23. lmm。
专利摘要本实用新型涉及封装器件冲击振动试验技术领域，具体公开了一种封装器件冲击振动试验夹具。该试验夹具整体为n×n×n的立方体结构，其中，n的范围为11cm至14cm之间；该试验夹具中心开有6×6×n(cm3)的孔，且在该试验夹具中非开孔的两个相对面上，对称开有若干个中心对称的凹槽，每个凹槽可以安装待冲击振动试验的器件。本实用新型所述的一种封装器件冲击振动试验夹具可解决F1型封装器件的冲击振动试验问题，满足大量封装器件的复验筛选；同时，该试验夹具具有较小体积下可装载多个待冲击振动试验器件，大大提供了冲击振动试验的效率。
文档编号G01M7/08GK202814674SQ20122035114
公开日2013年3月20日 申请日期2012年7月19日 优先权日2012年7月19日
发明者宋毅刚, 熊盛阳, 刘泓, 官岩, 张丽, 朱燕, 吴立强 申请人:中国运载火箭技术研究院