专利名称：一种珍珠质量检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种采用拉曼光谱进行珍珠质量检测的方法，其主要用于优劣珍珠的质量评定，或进行真假珍珠的鉴别。
背景技术：
近几年，珍珠制品行业发展迅速，产业规模不断扩大，但珍珠制品市场的质量问题越来越突出，以次充好及假冒伪劣珍珠制品一直屡禁不止。目前，珍珠制品的质量检测手段主要有外观评价和化学检测。外观评价是指通过珍珠的外观、气味、密度以及光泽对珍珠质量进行评价。这种方法是从丰富的生产实践中总结出来的，但在面对层出不穷的造假技术时，往往识别率不高。化学检测是指通过化学的方法对珍珠成分进行识别，从而判断其真伪。此方法虽然在识别率上有相当的精度，但检验过程时间较长，且会破坏样品成分。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种精度高、检测时间短且不损伤被测样品的新型珍珠质量检测装置。其通过拉曼特征光谱检测，不同质量的珍珠，其中所含的特定成分在785nm的激光激发下会产生不同波长的拉曼峰及拉曼强度，据此原理，我们可以快速有效的鉴别珍珠的主要成分，从而实现评价珍珠质量的效果。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种珍珠质量检测装置，其特征在于包括激光器、拉曼二色镜、显微物镜和拉曼光谱仪；所述激光器，为拉曼检测光源；所述激光器输出端连接到显微镜光源输入端；由激光器输出的激光照射到拉曼二色镜上，所述激光器与拉曼二色镜呈45度入射角；由激光器输出的激光经拉曼二色镜反射后，垂直进入显微物镜，所述显微物镜与拉曼二色镜呈45度夹角；检测时，珍珠样品置于显微物镜的焦平面上；由珍珠样品反射的受激拉曼光经拉曼二色镜透射，垂直进入拉曼光谱仪，所述拉曼光谱仪与拉曼二色镜呈45度夹角。具体为，在正立显微镜的外部安装激光器、拉曼光谱仪，在显微镜的内部安装一个拉曼二色镜。激光能通过二色镜作用于样品，样品的拉曼信号能通过二色镜引入拉曼光谱仪进行探测。调整好光路后，将待测的珍珠样品放到载物台上。开启激光器，实现光斑在珍珠样品表面的聚焦，接着启动拉曼光谱仪的软件，对珍珠样品的受激拉曼信号进行收集。最后，根据拉曼光谱在不同波数上的分布和强度信息对珍珠样品的质量优劣和真假进行分析判定。本实用新型的有益效果是可以在不破坏珍珠样品结构、成分的前提下，快速无损的检测到它们的特异性振动光谱(即拉曼光谱)，从而反演出它们的结构、成分信息。该系统原理简易、结构简单，真正实现了从数据采集到加工分析的一体化检测。

图1是本实用新型的仪器示意图。图中1.激光器，2.拉曼二色镜，3.拉曼光谱仪，4.显微物镜，5.珍珠样品。
具体实施方式

以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。本实用新型的测试系统原理图，如图1所示。整个检测系统基于激光器1、拉曼光谱仪3、拉曼二色镜2以及显微物镜4。所述激光器1为半导体激光器，且波长为785nm。所述拉曼二色镜2和显微物镜4置于一台正立的显微镜内。所述激光器1的输出端连接到显微镜光源输入端。由激光器1输出的激光入射一块专用的拉曼二色镜2，所述拉曼二色镜 2与激光器1呈45度入射角。入射激光经拉曼二色镜2反射后引入显微物镜4，所述显微物镜4与拉曼二色镜2呈45度夹角。测试时，利用显微镜的调焦实现激光光斑在显微物镜 4工作距离内的聚焦，从而使聚焦后的激光垂直入射于珍珠样品5的表面，实现其拉曼信号的激发。所述珍珠样品5置于显微物镜4下，且位于显微物镜4中心位置。由珍珠样品后向散射的拉曼信号被同一个显微物镜4收集，从而进入拉曼二色镜2。拉曼散射光经拉曼二色镜2透射后，被显微镜顶端的拉曼光谱仪3收集。所述拉曼光谱仪3与拉曼二色镜2呈 45度夹角。在光谱仪的软件中，检测到的珍珠样品5的拉曼光谱将以波数(cm—1)的形式显示， 其检测范围一般是从zoocnriieoocnr1，根据显示的拉曼信号的波长和峰值分布进行分析， 可以实现珍珠成分及结构的精确检测，从而判断珍珠质量的优劣。根据实际需要，我们的拉曼显微检测系统还能扩展另外不同类型的拉曼光谱仪， 以获取更丰富的拉曼信息，提高检测的准确度。除上述实施例外，本实用新型还包括有其他实施方式，凡采用等同变换或者等效替换方式形成的技术方案，均应落入本实用新型权利要求的保护范围之内。
权利要求1 一种珍珠质量检测装置，其特征在于包括激光器(1)、拉曼二色镜( 、显微物镜(4)和拉曼光谱仪(3)；所述激光器(1)，为拉曼检测光源；所述激光器(1)输出端连接到显微镜光源输入端；由激光器(1)输出的激光照射到拉曼二色镜( 上，所述激光器(1)与拉曼二色镜呈45度入射角；由激光器(1)输出的激光经拉曼二色镜( 反射后，垂直进入显微物镜G)，所述显微物镜(4)与拉曼二色镜 (2)呈45度夹角；检测时，珍珠样品( 置于显微物镜(4)的焦平面上；由珍珠样品(5)反射的受激拉曼光经拉曼二色镜( 透射，垂直进入拉曼光谱仪(3)，所述拉曼光谱仪(3)与拉曼二色镜( 呈45度夹角。
2.根据权利要求1所述的珍珠质量检测装置，其特征是用于拉曼显微检测的激光器(1)，为半导体激光器，其波长为785nm。
专利摘要一种珍珠质量检测装置，其技术要点在于将珍珠置于正立显微镜的载物台上，激光经显微镜照射到珍珠表面，其表面反射的拉曼特征光谱被置于显微镜顶端的光谱仪收集。通过对光谱仪中显示的拉曼信号的波长和峰值分布进行分析，可以实现珍珠中特定微量元素的精确检测，从而判断珍珠质量。本实用新型可以应用于珍珠制品的生产单位以及相关质量检测机构。
文档编号G01N21/65GK202049112SQ201120085850
公开日2011年11月23日 申请日期2011年3月28日 优先权日2011年3月28日
发明者张娴, 牟晶晶 申请人:张娴, 牟晶晶