专利名称：标准件检验工具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及标准件的检验领域，尤其涉及一种标准件检验工具。
背景技术：
在机械领域中，对于一些标准件，例如螺钉的检测是经常进行的，螺钉的规格如果不符合所需的规格，在安装时是非常影响整个工序的，现在一般检验时，都是进行卡尺或一些常规工具进行测量，螺钉头部外径尺寸dk值采用游标卡尺测量，每次须转动头部采取多点数值来确定结果；由于螺钉头部厚度位置特殊，通用量具无法直接测量，而且精度不高；采用三坐标测量，由于抽检数量一般较多导致效率较低。同时抽检数量较多，导致每次检验测量工作量很大且效率不高。平时标准件抽检数目比较大，单个一一测量费工又费时，另 夕卜，人工测量也会产生误差，因此需求一种工装解决此类问题。

实用新型内容为了解决背景技术中所存在的技术问题，本实用新型提出了一种标准件检验工具，提高检验质量，简化操作。本实用新型的技术解决方案是标准件检验工具，其特征在于所述检验工具包括检验板，所述检验板上设置检验区，所述检验区包括检验孔，所述检验孔是多个。上述检验区包括检验螺钉头部外径尺寸dk值的dk值检验区，所述dk值检验区包括dk值检验孔，所述dk值检验孔是多个由大到小排列的内壁光滑的检验孔。上述检验区包括检验螺钉头厚度K值的K值检验区，所述K值检验区包括K值检验孔，所述K值检验孔是多个由大到小排列的内壁光滑的检验孔。上述检验区还包括检验螺钉头部十字槽型号的M值检验区，所述M值检验区包括M值检验孔，所述M值检验孔是多个由大到小排列的内壁设置螺纹的检验孔。上述检验区还包括90°测量区，所述90°测量区设置与螺钉侧面形状适配的测量槽，所述测量槽是多个。上述K值检验孔包括两两对应的最大K值检验孔和最小K值检验孔,所述最大K值检验孔的直径与其对应的最小K值测量孔的差值是0. 1mm。上述dk值检验孔包括两两对应的最大dk值检验孔和最小dk值检验孔,所述最大dk值检验孔与其对应的最小dk值检验孔的差值是0. 3mm 0. 6mm。上述dk 值检验区符合 GB/T819. 2 或 GB/T818 或 HB1-206F。上述K 值检验区符合 GB/T819. 2 或 GB/T837 或 GB/T818 或 GB/T823。本实用新型的标准件检验工具，制作螺钉头部通止规及螺母外形通止规进行检验，就如同“筛苹果” 一样，既能满足检验要求又能提高效率；可以采用高度尺间接快速测量，一次多个，能够很好的提高检验效率且保证检验的准确性，保证了产品质量。

[0014]图I是本实用新型的结构示意具体实施方式参见图1，本实用新型的标准件检验工具，主要针对螺钉头部的外形尺寸检验，因为国标中对螺钉头部的相关尺寸都有明确尺寸范围要求，如dk、K、m、十字槽槽型、90° 0+2°。针对这几个尺寸的特征，dk、K值的检验，检具的制作是按照国标中的尺寸范围。检验工具包括检验板1，检验板I上设置检验区，检验区包括检验孔，检验孔是多个。检验区包括检验螺钉头部外径尺寸dk值的dk值检验区2，dk值检验区包括dk值检验孔20，dk值检验孔20是多个由大到小排列的内壁光滑的检验孔，可以针对十字槽沉头螺钉、十字槽盘头螺钉、六角螺母的头部尺寸(dk)检验，dk值检验孔包括两两对应的最大dk值检验孔和最小dk值检验孔,最大dk值检验孔与其对应的最小dk值检验孔的差值是0. 3mm 0. 6mm,以最小值不通过，最大值通过则为合格；dk值检验区符合GB/T819. 2或GB/T818或HB1-206F，可以将需要检测的螺钉分别通过各个大小的检测孔直接的检测出尺寸范围，制作螺钉头部通止规进行检验，就如同“筛苹果” 一样，既能满足检验要求又能提高效率。检验螺钉头厚度K值的K值检验区3，K值检验区3包括K值检验孔30，K值检验孔30是多个由大到小排列的内壁光滑的检验孔，检测时将螺钉放入检测孔中，在使其刚好头部卡住露在外面的检测孔处放适应螺钉，就可以直接通过测量工具测量头部。K值检验孔包括两两对应的最大K值检验孔和最小K值检验孔，最大K值检验孔的直径与其对应的最小K值测量孔的差值是0. Imm,以最小值不通过，最大值通过则为合格；K值检验区符合GB/T819. 2 或 GB/T837 或 GB/T818 或 GB/T823。检验螺钉头部十字槽型号的M值检验区4，所述M值检验区4包括M值检验孔40，M值检验孔40是多个由大到小排列的内壁设置螺纹的检验孔，将标准样件螺钉旋入适应孔中，可以直接观察螺钉头部十字槽型号。另外，检验工具还包括一个90°测量区5，90°测量区5设置与螺钉侧面形状适配的测量槽50，测量槽是多个，配合塞尺能够合理的测量90°角。
权利要求1.标准件检验工具，其特征在于所述检验工具包括检验板，所述检验板上设置检验区，所述检验区包括检验孔，所述检验孔是多个。
2.根据权利要求I所述的标准件检验工具，其特征在于所述检验区包括检验螺钉头部外径尺寸dk值的dk值检验区，所述dk值检验区包括dk值检验孔，所述dk值检验孔是多个由大到小排列的内壁光滑的检验孔。
3.根据权利要求2所述的标准件检验工具，其特征在于所述检验区包括检验螺钉头厚度K值的K值检验区，所述K值检验区包括K值检验孔，所述K值检验孔是多个由大到小 排列的内壁光滑的检验孔。
4.根据权利要求I或2或3所述的标准件检验工具，其特征在于所述检验区还包括检验螺钉头部十字槽型号的M值检验区，所述M值检验区包括M值检验孔，所述M值检验孔是多个由大到小排列的内壁设置螺纹的检验孔。
5.根据权利要求4所述的标准件检验工具，其特征在干所述检验区还包括90°測量区，所述90°測量区设置与螺钉侧面形状适配的测量槽，所述测量槽是多个。
6.根据权利要求5所述的标准件检验工具，其特征在于所述K值检验孔包括两两对应的最大K值检验孔和最小K值检验孔，所述最大K值检验孔的直径与其对应的最小K值测量孔的差值是O. 1mm。
7.根据权利要求6所述的标准件检验工具，其特征在于所述dk值检验孔包括两两对应的最大dk值检验孔和最小dk值检验孔,所述最大dk值检验孔与其对应的最小dk值检验孔的差值是O. 3mm O. 6mm。
8.根据权利要求7所述的标准件检验工具，其特征在于所述dk值检验区符合GB/T819.2 或 GB/T818 或 HB1-206F。
9.根据权利要求8所述的标准件检验工具，其特征在于所述K值检验区符合GB/T819. 2 或 GB/T837 或 GB/T818 或 GB/T823。
专利摘要本实用新型提出了一种标准件检验工具，检验工具包括检验板，检验板上设置检验区，检验区包括检验孔，检验孔是多个。本实用新型的标准件检验工具，既能满足检验要求又能提高效率；可以采用高度尺间接快速测量，一次多个，能够很好的提高检验效率且保证检验的准确性，保证了产品质量。
文档编号G01B5/06GK202420348SQ201120559730
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月28日 优先权日2011年12月28日
发明者杨兴 申请人:中国航空工业集团公司第六三一研究所