专利名称：一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的测试方法
技术领域：
本发明涉及天线技术领域，具体涉及天线罩用介质材料微波介电性能的精确测试方法。
背景技术：
介质材料微波介电性能的测试是微波测试中的一个项目，在采用短路波导法测试时，被测试片的长度必须是是四分之一介质波导波长的奇数倍。目前通常做法是，在被测介质材料的介电常数不知道确定的情况下，需初步确定被测介质材料试片的尺寸，经测试后，确定测试试片的长度，这样需反复多次测试，调整试样的厚度，逐步逼近精确值。这种方法不但工作量大，而且测试精度与被测试片尺寸的相关性大。

发明内容
本发明所要解决的问题是提供一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的精确测试方法，可得到介质材料的介电常数和损耗角正切(tan δ)参数，其结果与实际结果相符，而与被测介质材料试片的长度尺寸无关。为实现以上目的，本发明是通过以下技术方案实现的一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的精确测试方法，其特征在于所述方法包括以下步骤步骤1 根据测试频段，设定测试用的波导长度为半波导波长的奇数倍。波导波长的计算公式为
权利要求
1.一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的精确测试方法，其特征在于所述方法包括以下步骤步骤1 根据测试频段，设定测试用的波导长度为半波导波长的奇数倍。波导波长的计算公式为f￥式中，λ0> λ。为自由空间波长与波导截止波长。在f = IOGHz时，设定测试用的波导长度为半波导波长的奇数倍(这里取3倍)得/ = ^.3 = , 30 =.- = 59.6(mm)(2)2 「f 30 V 2V {22.86x2y步骤2 :测试波导连接到网络分析仪上，校准网络分析仪，测试初始相位和驻波。这样的一段金属波导的初始相位为179.5°，驻波为106，相当于测试时网络分析仪对系统校准后的初始测试结果。步骤3:在测试波导中放入半波导波长的奇数倍或任意长度的试片，用网络分析仪测得相位和驻波。步骤4 利用Ansoft HFSS的参数扫描功能，分别得到被测参数介电常数和损耗角正切 (tan δ )。
2.根据权利要求1所述的一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的精确测试方法，其特征在于步骤3所述的厚度为14mm的试样放入波导的末端，测得到相位值为-146.03°，驻波为 33.25。
3.根据权利要求1所述的一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的精确测试方法，其特征在于所述的相位利用Ansoft HFSS的参数扫描，首先对材料的介电常数进行扫描，设定材料的介电常数为3. 3 3. 4，步长为0. 01，得到相位的扫描仿真结果。30f 30 、 v 22.86x2,
全文摘要
本发明提供一种天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的粘确测试方法，该方法根据测试频段，设定测试用的波导长度，将测试波导连接到网络分析仪上，校准网络分析仪，测试初始相位和驻波。在测试波导中放入半波导波长的奇数倍或任意长度的试片，用网络分析仪测得相位和驻波。利用Ansoft HFSS的参数扫描功能对材料的介电常数进行扫描，设定材料的介电常数为3.3～3.4，步长为0.01，得到相位的扫描仿真结果。采用本发明有效的提高了天线罩材料介电常数和损耗角正切参数的精确测试，可得到介质材料的介电常数和损耗角正切(tanδ)参数。取得了提高工作效率，降低测试精度与被测试片尺寸的相关性的有益效果。
文档编号G01R27/26GK102539934SQ20101061925
公开日2012年7月4日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者张漠杰, 辛朋 申请人:上海无线电设备研究所