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键盘线路敲击力测试治具的制作方法

时间:2025-05-17    作者: 管理员

专利名称:键盘线路敲击力测试治具的制作方法
技术领域
本实用新型涉及键盘线路敲击力测试治具。
背景技术
现有的电磁阀测试机包括底座、水平设置在底座上方用于支撑待测试键盘线路的测试台面、位于该测试台面上方水平放置的测试夹板,该测试夹板上开设的多个沿竖直方向延伸的穿孔中固定有电磁阀。该电磁阀包括磁芯1、电磁阀体2、锥形测试胶头3和弹簧 (图中未示出),如图Ι-a所示,磁芯1包括铁针4、碳棒5和卡簧6,且磁芯1的铁针4上套有锥形测试胶头,如图l_b所示,电磁阀体2包括螺帽7、筒体8、线圈绕组(图中未示出)和引出线(图中未示出)。磁芯前端具有直径为1.6mm的铁轴。该电磁阀测试机工作时,电磁阀的磁芯1插入电磁阀体2,磁芯1上的铁针4前端的铁轴插入锥形测试胶头3中,由测试机台的直流电源提供48V的恒定电压对电磁阀体2通电产生磁场力将磁芯1推出,从而推动测试胶头3按压待测键盘线路的按键点,完成其敲击力的上限测试,断电后弹簧回弹磁芯回升。该测试中机台只能对待测键盘线路进行敲击力的上限测试,而不能完成敲击力的下限测试,且直流电源提供的恒压48V使得敲击在键盘测试点上的敲击力超过50g,一般情况下远超过要求的上限值,测试不准确,对于不同的测试点,敲击力的上限值不能按实际要求进行调节;由于该电磁阀的磁芯前端的铁轴直径偏小容易产生弯曲,测试时弯曲的铁轴导致测试胶头不在测试点的中心,且由于使用了锥形测试胶头,而其在多次测试时容易出现磨损变形而导致测试接触面变小和测试点偏离测试点的中心位置,导致测试的结果不准确。此外,测试机台上的测试夹板采用气缸带动,在升降的过程中容易发生偏移而定位不准确,使得测量结果精度降低。
发明内容本实用新型的目的是提供一种能够对键盘线路进行敲击力的上下限测试的键盘线路敲击力测试治具,该测试治具还通过设置挡板控制测试夹板下降的高度,以及通过设置不同的砝码重量、通电电压和调节电磁阀阀芯粗杆部在阀体内的长度,来满足不同按键点敲击力的上下限测试要求,并且还通过将电磁阀的磁芯杆上细杆部直径加大,并直接抵触在待测试产品上对键盘线路按键点直接进行敲击力测试,避免细杆部的弯曲或变形,同时避免使用锥形测试胶头引起的磨损与测量中心位置改变。为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是键盘线路敲击力测试治具,包括底座、水平设置在所述底座上方用于支撑所述键盘线路的测试台面、位于所述测试台面上方并且水平设置的测试夹板、开设在所述测试夹板上并沿竖直方向延伸的穿孔、固定插在所述穿孔中的电磁阀、用于向所述电磁阀供电的电源,所述电磁阀包括竖直插在所述穿孔中的中空阀体、竖直插在所述阀体中的磁芯杆,所述电源与所述阀体相连接,所述磁芯杆包括沿其杆长度方向从上至下依次分布的粗杆部、细杆部,所述细杆部穿出所述阀体,其特征在于所述底座上设置有位于所述测试夹板下方能够抵触定位该测试夹板的挡板,在所述敲击力测试治具测试所述键盘线路时,所述测试夹板抵压在所述挡板的上面,所述磁芯杆上的细杆部穿出所述阀体的下端部直接抵触在位于所述测试台面上的所述键盘线路上,所述细杆部的下端部的最大直径为1. 8 3. 0mm,所述粗杆部的上端部上可拆卸地设置有砝码,所述砝码露在所述阀体的外面,所述电源的电压是能够调节的。优选地,所述阀体的下端部缩小,该缩小的下端部的外侧面上设置有与螺母相配合的外螺纹,所述测试夹板上的穿孔包括位于上面的粗孔、位于下面的细孔,所述粗孔的孔壁与所述细孔的孔壁相接处形成挡部,所述阀体穿过所述粗孔,抵紧在所述挡部上,该阀体上缩小的下端部穿过所述细孔,穿出的部位上配合有螺母,该螺母抵紧在所述测试夹板上。作为一种具体的实施方式,所述细孔的高度1. 3mm 4. 5mm。作为一种具体的实施方式,所述挡板的高度15mm 30mm。优选地,所述阀体内具有能够容纳所述粗杆部的大孔、能够容纳所述细杆部的小孔,所述大孔、所述小孔分别比所述粗杆部、所述细杆部略大点。作为一种具体的实施方式,所述大孔的孔壁与所述小孔的孔壁相接处形成能够与所述粗杆部的边缘相抵触的挡部,在所述粗杆部抵触在所述挡部上时,所述砝码与所述阀体之间存在间隔距离。优选地,所述粗杆部上端面的中心部位上设置有连接件,该连接件的外侧面上设置有外螺纹,所述砝码的中心开设有螺纹孔,通过所述外螺纹与所述螺纹孔的配合,所述砝码可拆卸地设置在所述粗杆部的上端。作为一种具体的实施方式,所述电磁阀有多个,一个所述电磁阀对应所述键盘线路上的一个按键点,所述测试夹板上的穿孔也有多个,一个所述电磁阀固定插在一个所述穿孔中,对应于具有不同敲击力要求的按键点,所述电磁阀上的砝码的质量不同或者所述穿孔中细孔的高度不同。优选地,所述测试夹板的上面设置有穿线板,所述穿线板上开设有沿上下延伸的穿线孔,所述阀体上与所述电源相连接的导线向上穿过所述穿线孔。由于上述技术方案的运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点该键盘线路敲击力测试治具在使用时,将待测试键盘线路放置在测试台面上,通过设置砝码对键盘线路的按键点进行敲击力的下限测试,再对电磁阀进行通电使其产生电磁力来对键盘线路的按键点进行敲击力的上限测试,通过测试前根据待测试按键点不同的上下限要求,设置不同的砝码重量、通电电压和调节电磁阀阀芯粗杆部在阀体内的长度,来满足不同按键点敲击力的上下限测试要求;通过设置挡板控制测试夹板下降的高度,从而使得电磁阀上阀芯杆细杆部准确定位到待测试键盘线路的按键点上;通过将电磁阀的磁芯杆上细杆部直径加大,并直接抵触在待测试产品上对键盘线路按键点直接进行敲击力测试,避免了细杆部的弯曲或变形,同时避免了使用锥形测试胶头引起的磨损与测量中心位置改变,提高了测试的精度。

附图Ι-a为现有电磁阀测试机使用的电磁阀阀芯的示意图,其铁针上套有锥形测试胶头;附图Ι-b为现有电磁阀测试机使用的电磁阀体的示意图;[0016]附图2为本实用新型键盘线路敲击力测试治具的示意图;附图3为本实用新型的使用的电磁阀的示意图。
具体实施方式
以下结合附图来进一步阐述本实用新型的结构。参见图2、3所示,键盘线路敲击力测试治具,包括底座1、水平设置在底座1上方用于支撑键盘线路的测试台面2、位于测试台面2上方并且水平设置的测试夹板3、开设在测试夹板3上并沿竖直方向延伸的穿孔4、固定插在穿孔4中的电磁阀5、用于向电磁阀5 供电的电源,电磁阀5包括竖直插在穿孔4中的中空阀体7、竖直插在阀体7中的磁芯杆8, 电源与阀体7相连接,磁芯杆8包括沿其杆长度方向从上至下依次分布的粗杆部9、细杆部 10,细杆部10穿出阀体7,底座1上设置有位于测试夹板3下方能够抵触定位该测试夹板的挡板6,在敲击力测试治具测试键盘线路时,测试夹板3抵压在挡板6的上面,磁芯杆8上的细杆部10穿出阀体7的下端部直接抵触在位于测试台面2上的键盘线路上,细杆部10的下端部的最大直径为1. 8 3. 0mm,粗杆部9的上端部上可拆卸地设置有砝码11,砝码11 露在阀体7的外面,电源的电压是能够调节的。该键盘线路敲击力测试治具在对键盘线路进行敲击力测试时,将待测试的键盘线路置于测试台面2上,电磁阀5的细杆部10直接抵触在待测试的键盘线路上,可通过设置砝码11的重量对键盘线路的按键点进行敲击力的下限测试,再对电磁阀5通电使其产生电磁力从而对按键点进行敲击力的上限测试。如某按键点的敲击力的下限为6g时,可先设置砝码11,使其与磁芯杆8的重量之和为6g (有时考虑到克服摩擦力,可设置砝码11使其与磁芯杆8的重量之和比6g稍大些)来对测试点进行敲击力的下限测试,将磁芯杆8上细杆部10的端部直接抵触待测键盘线路的按键点, 此时如果按键点处电路导通,说明下限不良,再给阀体7通电,对磁芯杆8产生向下的电磁作用力,完成上限测试,如按键点的敲击力的上限为22g时,则产生的电磁作用力与砝码11 和磁芯杆8的重量之和在超过22g时(有时考虑到克服摩擦力,可使重量之和减去摩擦力超过22g时),按键点处电路应该不导通,如果导通,说明上限不良,按键点的敲击力只在合适的范围如6g 22g之间导通,说明测试合格。对于键盘线路,每个按键点的敲击力上下限可能不同,可以根据各个按键点的敲击力的上下限要求,在测试前采用不同的砝码重量、通电电压、调节电磁阀阀芯粗杆部9在阀体7内的长度,从而满足各个测试点敲击力的上下限测试要求。通过增加挡板6,使得测试夹板3的下降高度得到控制,从而使得细杆部10穿出阀体7的下端部能准确的抵触在位于测试台面2上待测试键盘线路的按键点上。通过将细杆部10的直径增大,并直接抵触在待测试产品上对测试点直接进行敲击力测试,避免了其弯曲或变形,同时避免了使用锥形测试胶头引起的磨损与测量中心位置改变,提高了测量的精度。参见图2、3所示,阀体7的下端部缩小,该缩小的下端部的外侧面上设置有与螺母相配合的外螺纹,测试夹板3上的穿孔4包括位于上面的粗孔、位于下面的细孔,粗孔的孔壁与细孔的孔壁相接处形成挡部,阀体7穿过粗孔,抵紧在挡部上,该阀体上缩小的下端部穿过细孔,穿出的部位上配合有螺母,该螺母抵紧在测试夹板3上。细孔的高度1. 3mm 4. 5mm。电磁阀5有多个,一个电磁阀5对应键盘线路上的一个按键点,测试夹板上的穿孔4 也有多个,一个电磁阀5固定插在一个穿孔4中,对应于具有不同敲击力要求的按键点,电磁阀5上的砝码11的质量不同或者穿孔4中细孔的高度不同。这样设置能够根据待测试的键盘线路各按键点的敲击力上下限的要求设置砝码和调节电磁阀5的磁芯杆8上的粗杆部9在阀体7内的长度,从而满足测试要求。同时,将多个电磁阀5固定在测试夹板3上, 能够使得待测试的键盘线路的所有按键点在一次测试过程中完成测试。参见图3所示,电磁阀5取消了锥形测试胶头,测试时,细杆部10直接抵触在待测试产品上,磁芯杆8总长度加长,磁芯杆2的总长度40mnT80mm。为了控制测试夹板3下降的高度,挡板的高度15mm 30mm。参见图3所示,阀体7内具有能够容纳粗杆部9的大孔、能够容纳细杆部10的小孔,大孔、小孔分别比粗杆部9、细杆部10略大点。大孔的孔壁与小孔的孔壁相接处形成能够与粗杆部9的边缘相抵触的挡部,在粗杆部9抵触在挡部上时,砝码11与阀体7之间存在间隔距离。这样设置为磁芯杆8在竖直方向上提供了导向与定位,同时能够对磁芯杆8的上下位置进行调节,从而可以调节电磁力,满足不同要求下测试点敲击力上限测试的要求。参见图3所示,粗杆部9上端面的中心部位上设置有连接件,该连接件的外侧面上设置有外螺纹,砝码11的中心开设有螺纹孔,通过外螺纹与螺纹孔的配合,砝码11可拆卸地设置在粗杆部9的上端。这样设置能够方便的固定和更换砝码,从而可以快速有效地调整不同测试点的敲击力的下限。测试夹板3的上面设置有穿线板12,穿线板12上开设有沿上下延伸的穿线孔,阀体7上与电源相连接的导线向上穿过穿线孔。这样设置可以对测试用电磁阀体进行通电, 从而完成对键盘线路按键点的敲击力上限测试。
权利要求1.键盘线路敲击力测试治具,包括底座、水平设置在所述底座上方用于支撑所述键盘线路的测试台面、位于所述测试台面上方并且水平设置的测试夹板、开设在所述测试夹板上并沿竖直方向延伸的穿孔、固定插在所述穿孔中的电磁阀、用于向所述电磁阀供电的电源,所述电磁阀包括竖直插在所述穿孔中的中空阀体、竖直插在所述阀体中的磁芯杆,所述电源与所述阀体相连接,所述磁芯杆包括沿其杆长度方向从上至下依次分布的粗杆部、细杆部,所述细杆部穿出所述阀体,其特征在于所述底座上设置有位于所述测试夹板下方能够抵触定位该测试夹板的挡板,在所述敲击力测试治具测试所述键盘线路时,所述测试夹板抵压在所述挡板的上面,所述磁芯杆上的细杆部穿出所述阀体的下端部直接抵触在位于所述测试台面上的所述键盘线路上,所述细杆部的下端部的最大直径为1. 8^3. 0mm,所述粗杆部的上端部上可拆卸地设置有砝码,所述砝码露在所述阀体的外面,所述电源的电压是能够调节的。
2.根据权利要求1所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述阀体的下端部缩小,该缩小的下端部的外侧面上设置有与螺母相配合的外螺纹,所述测试夹板上的穿孔包括位于上面的粗孔、位于下面的细孔,所述粗孔的孔壁与所述细孔的孔壁相接处形成挡部,所述阀体穿过所述粗孔,抵紧在所述挡部上,该阀体上缩小的下端部穿过所述细孔,穿出的部位上配合有螺母,该螺母抵紧在所述测试夹板上。
3.根据权利要求2所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述细孔的高度 1. 3mm^4. 5mm。
4.根据权利要求1所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述挡板的高度 15mnT30mmo
5.根据权利要求1所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述阀体内具有能够容纳所述粗杆部的大孔、能够容纳所述细杆部的小孔,所述大孔、所述小孔分别比所述粗杆部、所述细杆部略大点。
6.根据权利要求5所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述大孔的孔壁与所述小孔的孔壁相接处形成能够与所述粗杆部的边缘相抵触的挡部,在所述粗杆部抵触在所述挡部上时,所述砝码与所述阀体之间存在间隔距离。
7.根据权利要求1所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述粗杆部上端面的中心部位上设置有连接件,该连接件的外侧面上设置有外螺纹,所述砝码的中心开设有螺纹孔,通过所述外螺纹与所述螺纹孔的配合,所述砝码可拆卸地设置在所述粗杆部的上端。
8.根据权利要求2所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述电磁阀有多个, 一个所述电磁阀对应所述键盘线路上的一个按键点,所述测试夹板上的穿孔也有多个,一个所述电磁阀固定插在一个所述穿孔中,对应于具有不同敲击力要求的按键点,所述电磁阀上的砝码的质量不同或者所述穿孔中细孔的高度不同。
9.根据权利要求1所述的键盘线路敲击力测试治具,其特征在于所述测试夹板的上面设置有穿线板,所述穿线板上开设有沿上下延伸的穿线孔,所述阀体上与所述电源相连接的导线向上穿过所述穿线孔。
专利摘要本实用新型公开了键盘线路敲击力测试治具,它在原有的电磁阀测试机上增加了挡板设置,并更换了电源和电磁阀设置,当该键盘线路敲击力测试治具在使用时,通过设置砝码对键盘线路的按键点进行敲击力的下限测试,再对电磁阀进行通电使其产生电磁力来对键盘线路的按键点进行敲击力的上限测试,能够根据待测试点的不同的上下限要求,设置不同的砝码重量、通电电压和调节电磁阀阀芯杆粗杆部在阀体内的长度,从而满足不同测试点敲击力的上下限测试要求;通过设置挡板控制测试夹板下降的高度,从而使得电磁阀上阀芯杆细杆部准确定位到待测试键盘线路的按键点上;通过将电磁阀的磁芯杆上细杆部直径加大,并直接抵触在待测试产品上对键盘线路按键点直接进行敲击力测试,避免了细杆部的弯曲或变形,同时避免了使用锥形测试胶头引起的磨损与测量中心位置改变,提高了测量的精度。
文档编号G01L1/08GK202041622SQ20112012596
公开日2011年11月16日 申请日期2011年4月26日 优先权日2011年4月26日
发明者邓龙升 申请人:昆山兴协和光电科技有限公司

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