专利名称：硅圆锭斜面测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种硅圆锭斜面测试仪。
背景技术：
硅圆锭端面为斜面的情况使硅圆锭切割存在着一定的质量隐患，如切片过程中会 因斜面引发跳线、断线等故障，故需要在切片前针对硅圆锭端面进行检测。通常的做法是采 用卷尺测量圆锭的长度，三次不同的测量结果的差值为圆锭的斜面，这种测量方法存在误 差，比如圆锭的截面为平行四边行时，这种测量方法测量不出。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是设计一种硅圆锭斜面测试仪，可方便准确地 得知硅圆锭的断面是否为斜面。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种硅圆锭斜面测试仪，包括 平台、圆锭夹具和晶托，在平台上设置导轨，晶托的平面与导轨垂直，圆锭夹具通过夹具滑 座设置在导轨上，晶托通过晶托滑座设置在导轨上，晶托具有两个，分别位于圆锭夹具的两 侧。圆锭夹具具有为左右两个。本实用新型的有益效果是本测试仪能以圆锭的中心线为基准，即使圆锭截面为 平行四边形也可测量出来，可通过目视或塞尺测量，测量方便。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明；

图1是本实用新型的结构示意图；其中1.平台，1-1.导轨，2.圆锭夹具，2-1.夹具滑座，3.晶托，3-1.晶托滑座， 4.硅圆锭。
具体实施方式
如图1所示，一种硅圆锭斜面测试仪，包括平台1、圆锭夹具2和晶托3，在平台1 上设置导轨1-1，晶托2的平面与导轨1-1垂直，圆锭夹具2通过夹具滑座2-1设置在导轨 1-1上，晶托3通过晶托滑座3-1设置在导轨1-1上，晶托3具有两个，分别位于圆锭夹具2 的两侧。圆锭夹具2具有为左右两个。将待检测的硅圆锭4夹在圆锭夹具2上固定中心线 后，将硅圆锭4两端面接触到晶托3的平面，目视检查是否有间隙，也可用塞尺测量，读数即 为硅圆锭4的斜面的测量值。
权利要求一种硅圆锭斜面测试仪，其特征是包括平台(1)、圆锭夹具(2)和晶托(3)，在所述的平台(1)上设置导轨(1 1)，晶托(2)的平面与导轨(1 1)垂直，圆锭夹具(2)通过夹具滑座(2 1)设置在导轨(1 1)上，所述的晶托(3)通过晶托滑座(3 1)设置在导轨(1 1)上，晶托(3)具有两个，分别位于圆锭夹具(2)的两侧。
2.根据权利要求1所述的硅圆锭斜面测试仪，其特征是所述的圆锭夹具(2)具有为 左右两个。
专利摘要本实用新型涉及一种硅圆锭斜面测试仪，包括平台、圆锭夹具和晶托，在平台上设置导轨，晶托的平面与导轨垂直，圆锭夹具通过夹具滑座设置在导轨上，晶托通过晶托滑座设置在导轨上，晶托具有两个，分别位于圆锭夹具的两侧。本测试仪能以圆锭的中心线为基准，即使圆锭截面为平行四边形也可测量出来，可通过目视或塞尺测量，测量方便。
文档编号G01B5/24GK201715990SQ20102026573
公开日2011年1月19日 申请日期2010年7月19日 优先权日2010年7月19日
发明者杨康乐 申请人:常州天合光能有限公司