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一种电路板文字标签的检查方法

时间:2025-05-17    作者: 管理员

专利名称:一种电路板文字标签的检查方法
技术领域
本发明涉及一种电路板元件检查方法,特别有关于一种电路板文字标签的 检査方法。
背景技术
随着电脑的快速发展,许多产品的设计也逐渐导入电脑辅助设计
(Computer Aided Design, CAD)。导入电脑辅助设计除了可以加速产品的设计速 度外,也可以将本次的设计有效的记录下来,再将其应用在新版产品上的改良。 以电路板开发辅助软件而言,在电路板的配置过程中经常需要设置各类的 元件。例如,电容、电阻或芯片组等元件。为了能让开发者与使用者方便辨识 元件种类,会对各种元件进行标示的工作。但是电路板上的配线与元件配置常 会占据电路板上大部分的面积,因此可以提供文字标签的注解的区域并不充 裕。这样一来,开发人员容易因为辨识不清楚的情况下,将元件标示错误或是 将元件的文字标签不一致。

发明内容
鉴于以上的问题,本发明的主要目的在于提供一种电路板文字标签的检査 方法,其应用于电路板设计中对文字标签的位置检查。
为实现上述目的,本发明所公开的一种电路板文字标签的检査方法包括以 下步骤启用监控程序,用以撷取每元件在电路板上的坐标位置;由监控程序 中取得第一元件与第二元件的相对坐标位置关系;检查标签区中的对应第一元 件的文字标签与对应第二元件的文字标签两者间的相对坐标关系是否和前述 第一元件与第二元件的相对坐标位置关系一致;若相对坐标位置关系不一致 时,则改变第一元件的文字标签与第二元件的文字标签的显示属性,以表示发 生错误的文字标签。
本发明根据元件间的坐标关系用以检测元件的文字标签排列是否出现不
3一致。如此一来,可以降低人工标注时所造成的文字标签间的相对应位置与元 件间的相对应位置不一致,并且减少人工检测所浪费的时间。
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的 限定。


图1为本发明的流程工作示意图; 图2A为本发明的元件的示意图2B为本发明的绘制各元件的文字标签的示意图; 图2C为本发明的绘制各元件的文字标签的示意图。
其中,附图标记
200开发界面
210第一元件
220第二元件
230第三元件
240标签区
211第一元件标签
221第二元件标签
231第三元件标签
具体实施例方式
为了更进一步说明本发明特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细 说明与附图,然而所附附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。 请参考图1所示,其为本发明的工作流程示意图。电路板文字标签的检査
方法包括以下步骤启用监控程序(步骤S110),用以撷取每元件在电路板上的 坐标位置。在元件被设置在电路板上的同时,电路板开发软件会赋予该元件一 个坐标值。
由监控程序中取得第一元件与第二元件的相对坐标位置关系(步骤S120)。
检查标签区中的对应第一元件的文字标签与对应第二元件的文字标签两者间的相对坐标关系是否和前述第一元件与第二元件的相对坐标位置关系一致(步
骤S130)。若第一元件的文字标签与第二元件的文字标签的相对坐标位置不一 致时,则改变第一元件的文字标签与该第二元件的文字标签的显示属性(步骤 S140)。文字标签的显示属性包括有字型、样式、大小或颜色。
为能清楚说明本发明的工作过程,在此以下例作为说明。首先,在电路板 开发软件的开发界面200中新增第一元件210、第二元件220与第三元件230, 请配合图2A所示,其为本发明的元件的示意图。接着,监控程序会对新增的 第一元件210、第二元件220与第三元件230逐一的记录其位于电路板上的坐 标位置。在此我们假设第一元件210的坐标位置为(X1, Yl);第二元件220 的坐标位置为(X2, Y2);第三元件230的坐标位置为(X3, Y3),其中以图2A 左上方为原点,分别以水平为X轴、垂直为Y轴,X轴右方为正值、Y轴下 方为正值。
接着,使用者对欲进行标注的元件进行选取。使用者将第一元件210、第 二元件220与第三元件230进行圈选,并将其设定为同一群组。与此同时,使 用者可以选取电路板上的任一区域作为一标签区240,其用以注解所述元件的 文字标签。请参考图2B所示,其为本发明的绘制各元件的文字标签的示意图。
在使用者选择标签区240后,电路板开发软件会将上述各元件的文字标签 加入标签区240中(意即图2B中的第一元件标签211、第二元件标签221与第 三元件标签231)。在新增文字标签的过程中,检查程序会根据所述元件的坐标 位置用以检查每一个文字标签在标签区240中的排列顺序。其中,排列的顺序 为根据每一个元件的第一坐标位置值与第二坐标位置值的顺序,用以依序检査 元件的文字标签的排列。在本发明的说明中的第一坐标为X轴、第二坐标为Y 轴。使用者可以检查元件的文字标签的显示属性,例如,文字标签的字体、字 型样式(包括一般字体、粗体、斜体或底线等)、大小或颜色。
接下来,检査程序会根据监控程序所记录的元件坐标进行标签区240中各 元件的文字标签排列是否有不一致的检查。检查程序的检验方式利用第一元件 210、第二元件220与第三元件230之间的相对应坐标值检查标签区240中所 相应各元件的文字标签排列是否不一致。若是元件间的文字标签的相对应坐标 发生不一致时,则检查程序根据第一元件210、第二元件220与第三元件230 的坐标位置对第一元件标签211、第二元件标签221与第三元件标签231进行修改,借以提醒使用者文字标签出现错误。其中,修改的方式为若第一元件 与第二元件所在的第一坐标相同时,则将第一元件标签与第二元件标签依据第 一元件与第二元件在第二坐标上的排列顺序进行调整。此外,本发明亦可以根 据下述方式修改若第一元件与第二元件所在的第二坐标相同时,则将第一元 件标签与第二元件标签依据第一元件与第二元件在第一坐标上的排列顺序进 行调整。
举例来说,假设第一元件的坐标位置为(X1, Yl),第二元件的坐标位置
(xi , Y2)。第一元件标签的坐标位置为(xr, Yr),而第二元件标签的坐标位
置为(Xr, Y3、)。其中,Yl大于Y2且Yr小于Y3、。检查程序发现第一元件
标签对第二元件标签的排列顺序与第一元件对第二元件的顺序不一致时,则检
查程序会将第二元件标签调整至坐标位置为(Xr, Y4、),其中,Yr大于Y4、。,
借以调整每一个元件的文字标签的排列方向。除了上述的修改方式外,本发明 亦可以根据相同的第二坐标对第一元件与第二元件的第一坐标值进行修改。 或者是改变每一元件的文字标签颜色。举例来说,检查程序可以将第一元
件标签211的文字颜色以高亮度的颜色(例如,荧光黄或荧光绿等);此外,也 可以将第二元件标签221的文字显示属性(例如,以粗体字型表示)进行修改。 检査程序可以将每一个元件标签指定不同的显示属性,借以提醒使用者元件标 签发生不一致。
更进一步而言,在此对第一坐标与第二坐标分别提供以下实施例的说明。 在第一坐标的实施例中,当第一元件210与第二元件220在X轴的坐标值一 样时,则分别比对第一元件标签211与第二元件标签221的Y轴上顺序是否 与第一元件210及第二元件220的顺序一致。
若是在第二坐标的实施例中,当第一元件210与第二元件220在Y轴的 坐标值一样时,则分别比对第一元件标签211与第二元件标签221在X轴上 的顺序是否与第一元件210及第二元件220的顺序一致。请配合参考图2C所 示,本发明的绘制各元件的文字标签的示意图。
本发明根据元件间的坐标关系用以检测文字标签排列是否出现不一致的 问题。如此一来,可以降低人工检测所浪费的时间。
当然,本发明还可有其他多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情 况下,熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围u
权利要求
1.一种电路板文字标签的检查方法,用以在电路板设计中检查电路板的文字标签的位置,其特征在于,该检查方法包括有启用一监控程序,用以撷取并记录每一元件在一电路板上的坐标位置;由该监控程序中取得一第一元件与一第二元件的相对坐标位置关系;检查一标签区中的对应该第一元件的文字标签与对应该第二元件的文字标签的相对坐标关系是否和该第一元件与一第二元件之相对坐标位置关系一致;以及在所述元件的相对坐标位置不一致时,则改变该第一元件的文字标签与该第二元件的文字标签的显示属性。
2. 根据权利要求1所述的电路板文字标签的检查方法,其特征在于,该显 示属性为字体、字型样式、大小或颜色的任一。
3. 根据权利要求1所述的电路板文字标签的检査方法,其特征在于,字型 样式包括有一般字形、粗体、斜体或底线。
4. 根据权利要求1所述的电路板文字标签的检查方法,其特征在于,当该 第一元件与该第二元件在一第一坐标的坐标值一样时,则分别比对该第一元件 标签与该第二元件标签在一第二坐标上的顺序是否与该第一元件及该第二元 件在该第二坐标上的顺序一致。
5. 根据权利要求1所述的电路板文字标签的检查方法,其特征在于,当该 第一元件与该第二元件在一第二坐标的坐标值一样时,则分别比对该第一元件 标签与该第二元件标签在一第一坐标上的顺序是否与该第一元件及该第二元 件在该第一坐标上的顺序一致。
全文摘要
一种电路板文字标签的检查方法,用以在电路板设计中检查电路板的文字标签的位置。该电路板文字标签的检查方法包括有启用监控程序,用以撷取并记录每一元件在电路板上的坐标位置;由监控程序中取得第一元件与第二元件的相对坐标位置关系;检查标签区中对应第一元件的文字标签与对应于第二元件的文字标签两者间的相对坐标关系是否一致;若第一元件的文字标签与第二元件的文字标签的相对坐标位置不一致时,则改变第一元件的文字标签与第二元件的文字标签的显示属性,其中显示属性为字型种类、样式、大小或颜色。
文档编号G01B21/00GK101676685SQ20081021140
公开日2010年3月24日 申请日期2008年9月18日 优先权日2008年9月18日
发明者王海萍, 范文纲 申请人:英业达股份有限公司

  • 专利名称:等效法收敛计变形监测方法技术领域:本发明属于工程测量领域中使用收敛计的变形监测方法。 背景技术:使用收敛计的变形监测,目前采取的主要方法是直接量距法,即观测者手持收敛 计,先将收敛计钢尺挂钩挂到一个监测点上,再将收敛计的挂钩挂到另
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