专利名称：一种测量矢高的仪器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪器，它能够测量磨具或镜片的矢高，此矢高测量工具 即能够测量模具或镜片的凹面，也能够测量模具或镜片的凸面，而且此工具采用固定位置 测量方式，非手持式，从而保证了测量的稳定性。
背景技术：
镜片的屈光度取决于前后表的弯度和镜片的折射率。而车房镜的生产，屈光度的 准确性同样取决于这3个因素。所以半成品前表面的准确性、生产设备的可靠性、以及生产 过程中使用的磨具表面的弯度必须进行严格控制。目前国内也有部分厂商生产测量磨具的矢高仪，校正用的矢高仪、测量镜片表面 的矢高仪等。但这些矢高仪只能测量凸面，或者只能测量凹面或者只能校正设备用，不能一 个仪器测量几种表面，而且均采用手持方式，造成精度不高。
发明内容针对以上不足，本实用新型的目的在于提供一种测量矢高的仪器，通过更换抛光 磨具测量座上的校正块，实现测量磨具的凸面、凹面，而且量程大、精度高，使用方便。本实用新型的技术方案是通过以下方式实现的一种测量矢高的仪器，包括底座、 直线导轨、支撑座及旋转盘、所述的底座的上面设有支撑座及旋转盘和弹簧及弹簧导柱，侧 面设有立板，立板上设有直线导轨，导轨滑块上带有一测量装置，沿着直线导轨的滑槽内上 下滑动，立板的顶端由有顶部挡板固定，其特征在于所述的支撑座及旋转盘上设有抛光磨 具测量座和旋转夹紧手柄。所述的测量装置是由测量表、测量头和测量手柄组成。所述的抛光磨具测量座上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块 或磨具测量使用校正块。采用本实用新型结构，通过更换抛光磨具测量座上的校正块，它既可以测量磨具 的凸面(测量磨具和半成品前表面)，也可以测量凹面(设备校正)，而且量程大(46mm的测量 范围)、精度高(精确到千分位)，使用方便(数显，字体大，容易读数)。精度达到0. OOlmm,准 确性达到0. 006mm,量程达到50mm。

图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
由图1知，是本实用新型的结构示意图。由底座8、直线导轨10、支撑座及旋转盘 7、所述的底座8的上面设有支撑座及旋转盘7和弹簧及弹簧导柱4，侧面设有立板9，立板 9上设有直线导轨10，导轨滑块11上带有一测量装置可在直线导轨10的滑槽内上下滑动， 立板8的顶端由有顶部挡板12固定，其特征在于所述的支撑座及旋转盘7上设有抛光磨具测量座5和旋转夹紧手柄6。测量装置是由测量表1、测量头3和测量手柄2组成。抛光 磨具测量座5上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校 正块。该测量矢高的仪器采用固定位置安装方式，非手持式。此仪器可测量模具或镜片 的凸面，也能够测量模具或镜片的凹面。测量矢高的仪器通过更换磨具测量座5和镜片测量表座分别进行车房抛光磨具 的测量和半成品凸面的测量。测量矢高的仪器的调校通过安装校正块、镜片测量使用校正块和磨具测量使用校 正块完成。所以校正块的加工精度要求很高。
权利要求1.一种测量矢高的仪器，包括底座(8)、直线导轨(10)、支撑座及旋转盘(7)、所述的底 座(8)的上面设有支撑座及旋转盘(7)和弹簧及弹簧导柱(4)，侧面设有立板(9)，立板(9) 上设有直线导轨(10)，导轨滑块(11)上带有一测量装置可在直线导轨(10)的滑槽内上下 滑动，立板(8)的顶端由有顶部挡板(12)固定，其特征在于所述的支撑座及旋转盘(7)上 设有抛光磨具测量座(5 )和旋转夹紧手柄(6 )。
2.根据权利要求1所述的一种测量矢高的仪器，其特征在于所述的测量装置是由测 量表(1)、测量头(3 )和测量手柄(2 )组成。
3.根据权利要求1所述的一种测量矢高的仪器，其特征在于所述的抛光磨具测量座 (5)上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
专利摘要一种测量矢高的仪器，包括底座(8)、直线导轨(10)、支撑座及旋转盘(7)、导轨滑块(11)上带有一测量装置可在直线导轨(10)的滑槽内上下滑动，立板(8)的顶端由有顶部挡板(12)固定，其特征在于所述的支撑座及旋转盘(7)上设有抛光磨具测量座(5)和旋转夹紧手柄(6)。采用本实用新型结构，通过更换抛光磨具测量座上的校正块，它既可以测量磨具的凸面，也可以测量凹面，而且量程大、精度高，使用方便。精度达到0.001mm，准确性达到0.006mm，量程达到50mm。
文档编号G01B5/02GK201852543SQ20102063297
公开日2011年6月1日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者蔡祥有, 赵志刚 申请人:江苏淘镜有限公司