专利名称：用于无时钟电路的标签芯片的测试方法及测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及半导体技术领域，特别涉及一种用于无时钟电路的标签芯片的测试方法及测试装置。
背景技术：
通过使用射频信号，已经广泛地使用射频识别(RFID)标签芯片来自动识别对象。为了使用RFID标签芯片来自动识别对象，首先将RFID标签粘附到待识别的对象上，并且RFID读取器与所述对象的RFID标签进行无线通信而不需要与RFID标签进行视线或者物理接触。由于这种RFID技术的广泛使用，可大大降低相关的自动识别技术诸如条形码及光学 特征识别技术的缺点。其中所述标签芯片采用EPC协议，询问机向一个或一个以上的标签发送信息，发送方式是采用脉冲间隔编码(PIE)格式的双旁带振幅移位键控(DSB-ASK)、单边带振幅移位键控(SSB-ASK)或反向振幅移位键控(PR-ASK)调制射频载波信号。标签通过相同的调制射频载波接收功率。询问机通过发送未调制射频载波和倾听反向散射回答接收从标签发来的信息。标签通过反向散射调制射频载波的振幅和/或相位，传达信息。用于对询问机命令作出响应的编码格式或是FMO或是miller-modulate的副载波。询问和标签之间的通彳目线路为半双工，也就是不应要求标签在反向散射的同时解调询问机。标签不应利用全双工通信对强制命令或任选命令作出响应。在没有外部时钟的标签芯片中，询问机向标签芯片发送指令，由于标签芯片没有外部时钟，标签芯片响应时间不确定，芯片时钟脉宽不固定，导致芯片时钟的周期不确定。现有技术中的测试机通常采用在固定周期内采样一个点的方法来对无时钟电路的标签芯片进行测试，由于所述标签芯片采用EPC协议，后续数据的周期以帧头的第一个电平的时间长度Tl为基准周期，以在一个周期内高电平或低电平为1，电平跳转为0 ;或是以在一个周期内高电平或低电平为0，电平跳转为I。用于对询问机命令作出响应的编码格式为FMO前同步码的副载波，其波形图如图I所示。由于芯片时钟的周期不确定，测试机在固定周期内采样到的电平可能已经发生跳转，进而使得采样到的数据出错，不满足标签芯片的测试要求。

发明内容
本发明的目的是提供一种用于无时钟电路的标签芯片的测试方法及测试装置，以在标签芯片的测试过程中减少误差，提闻精度。本发明的技术解决方案是一种用于无时钟电路的标签芯片的测试方法，其特征在于，包括一测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据；
根据所述电平数据获得所述帧头的第一个电平连续出现的时长；所述测试机以所述时长为周期对所述标签芯片的后续帧进行采样，获得后续帧的电平数据。作为优选所述固定频率为1KHZ-50MHZ。本发明还提供一种用于无时钟电路的标签芯片的测试装置，包括第一采样单元，以一固定频率对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据；处理单元，处理第一采样单元得到的所述帧头的电平数据以计算第一个电平连续出现的时长；第二采样单元，以第一个电平连续出现的时长为周期对所述标签芯片的后续帧数 据进行采样，获得后续帧的电平数据。作为优选所述采样单元的固定频率为1KHZ-50MHZ。与现有技术相比，本发明的测试方法首先一测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据，采样频率高可以减少由于标签芯片响应时间不确定以及帧头周期不确定带来的测试偏差；根据所述电平数据获得第一个电平连续出现的时长，由于标签芯片采用EPC协议，根据帧头原理所述标签芯片以帧头第一电平时间长为基准周期；然后所述测试机以所述时长为周期对所述标签芯片的后续帧数据进行采样，获得后续帧电平数据。采用上述方法测试机得到的数据误差小，精度高。


图I是标签芯片采用EPC协议时对询问机命令作出响应的编码格式为FMO前同步码的副载波的波形图；图2是本发明一具体实施例的测试方法的流程图；图3是本发明已具体实施例的测试装置的示意图。
具体实施例方式本发明下面将结合附图作进一步详述在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。其次，本发明利用示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是实例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。图2示出了本发明一具体实施例的测试方法的流程图。请参阅图2所示，在本实施例中，一种用于无时钟电路的标签芯片的测试方法，包括一测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据，所述固定频率为1KHZ-50MHZ，即在一个固定周期内采样n个点，采样频率高，区别于现有技术中测试机在固定周期内采样一个点的方法，可以减少由于标签芯片响应时间不确定以及帧头周期不确定带来的测试偏差；根据所述电平数据获得所述帧头的第一个电平连续出现的时长，由于本发明的标签芯片采用EPC协议，用于对询问机命令作出响应的编码格式为FMO前同步码的副载波，其帧头的第一个电平为高电平或低电平，以所述高电平或低电平的时间为第一时间长，所述标签芯片内的数据周期以第一时间长为基准；所述测试机以所述时长为 周期对所述标签芯片的后续帧进行采样，获得后续帧的电平数据。本发明还提供一种用于无时钟电路的标签芯片的测试装置，包括第一采样单元11，以一固定频率对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据，所述第一采样单元11的固定频率为1KHZ-50MHZ ；处理单元12，处理第一采样单元11得到的所述帧头的电平数据以计算第一个电平连续出现的时长；第二采样单元13，以第一个电平连续出现的时长为周期对所述标签芯片的后续帧数据进行采样，获得后续帧的电平数据。综上所述，本发明的测试方法首先一测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据，采样频率高可以减少由于标签芯片响应时间不确定以及帧头周期不确定带来的测试偏差；根据所述电平数据获得第一个电平连续出现的时长，由于标签芯片采用EPC协议，根据帧头原理所述标签芯片以帧头第一电平时间长为基准周期；然后所述测试机以所述时长为周期对所述标签芯片的后续帧数据进行采样，获得后续帧电平数据。采用上述方法测试机得到的数据误差小，精度高。以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明权利要求范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明权利要求的涵盖范围。
权利要求
1.一种用于无时钟电路的标签芯片的测试方法，其特征在于，包括 一测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据； 根据所述电平数据获得所述帧头的第一个电平连续出现的时长； 所述测试机以所述时长为周期对所述标签芯片的后续帧进行采样，获得后续帧的电平数据。
2.根据权利要求I所述的用于无时钟电路的标签芯片的测试方法，其特征在于所述固定频率为1KHZ-50MHZ。
3.根据权利要求I所述的用于无时钟电路的标签芯片的测试装置，其特征在于包括 第一采样单元，以一固定频率对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据； 处理单元，处理第一采样单元得到的所述帧头的电平数据以计算第一个电平连续出现的时长； 第二采样单元，以第一个电平连续出现的时长为周期对所述标签芯片的后续帧进行采样，获得后续帧的电平数据。
4.根据权利要求3所述的用于无时钟电路的标签芯片的测试装置，其特征在于所述采样单元的固定频率为1KHZ-50MHZ。
全文摘要
本发明涉及一种用于无时钟电路的标签芯片的测试方法及测试装置，该方法包括一测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获取所述帧头的电平数据；根据所述电平数据获得所述帧头的第一个电平连续出现的时长；所述测试机以所述时长为周期对所述标签芯片的后续帧进行采样，获得后续帧的电平数据。本发明测试机在一固定频率下对一无时钟电路的标签芯片的帧头进行采样，获得帧头中第一个电平连续出现的时长，由于标签芯片采用EPC协议，后续数据的周期以帧头的第一个电平的时长为基准周期，所以以所述时长为周期对所述标签芯片的后续帧数据进行采样得到的数据误差小，精度高。
文档编号G01R31/28GK102721917SQ201210236898
公开日2012年10月10日 申请日期2012年7月9日 优先权日2012年7月9日
发明者刘远华, 吴勇佳, 张映, 汤雪飞, 邵嘉阳 申请人:上海华岭集成电路技术股份有限公司