专利名称：一种钢琴键盘激光测距装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及钢琴琴键下沉深度的测量装置，特别是一种利用激光测试仪能够 实现对钢琴琴键下沉深度进行无接触测量的激光测距装置。
背景技术：
在钢琴键盘的检测中，针对钢琴琴键下沉深度和黑键的高度两项指标进行检测在 钢琴的演奏过程中起着非常重要的作用——它是影响演奏时手感的重要因素之一。尤其是 钢琴琴键的下沉深度，它是钢琴演奏性能中的一项重要指标。对钢琴演奏者而言，琴键的下 沉深度是否均勻一致，直接影响演奏者本人在演奏钢琴时的速度、力度以及对声音强弱变 化的操控程度，一个合格的键盘会使演奏者在弹奏时得心应手、挥洒自如，能充分体现演奏 者本人对音乐的表现力。对钢琴企业而言，通过对琴键下沉深度的精确调整和测量，可直接 反映出该企业在钢琴制造生产过程中的操作经验和技术水平。目前国内钢琴企业对白键(或黑键)下沉深度的测量，是依靠游标卡尺等基本测量 工具采用手工测量的方法即按照国家标准的要求，将200克砝码放置于白键(或黑键)前 端规定的位置，使白键(或黑键)下沉，再用卡尺测量下沉白键键面(或黑键键面)与相邻白 键键面(或黑键键面)的高度差，从而得出白键(或黑键)下沉深度数值。而黑键相对白键的 高度也是选择与黑键相邻的白键键面作为基准面进行测量。以上这种利用相邻键面作为基 准点测量琴键下沉深度或黑键与白键相对高度的测量方法存在着如下技术缺陷对于一架 钢琴来说，由于每个琴键的键面高度做不到绝对一致，会有一定的误差存在，这就使得在测 量过程中选择的测量基准点产生了一定的误差，随着基准点的变化，误差也会产生一定的 积累，所测的数据也会不断的偏离真值，再加上手工测量时卡尺对琴键的附加压力在所难 免以及卡尺取值误差的存在，最终的检测结果必然存在相当的误差积累，直接影响了测量 的准确度。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术中采用手工测量方式对钢琴琴 键下沉深度进行检测存在的缺陷，提供一种能够准确测量钢琴琴键下沉深度的钢琴键盘激 光测距装置，提高测量的精确度和准确性，有效地节省测量时间。本实用新型是通过如下技术方案实现的一种钢琴键盘激光测距装置，包括导轨、 导轨底座、激光测试仪和控制器，所述导轨安装在所述导轨底座上，所述激光测试仪安装在 所述导轨上，所述控制器通过数据线与所述激光测试仪连接。上述钢琴键盘激光测距装置，所述导轨包括第一导轨、第二导轨以及导轨连接装 置，所述第一导轨与所述第二导轨通过所述导轨连接装置连接起来。上述钢琴键盘激光测距装置，所述导轨底座包括第一导轨底座、第二导轨底座；所 述第一导轨的一端安装在所述第一导轨底座上，另一端通过所述导轨连接装置与所述第二 导轨的一端固定连接；所述第二导轨远离所述导轨连接装置的另一端安装在所述第二导轨底座上。本实用新型的钢琴键盘激光测距装置具有以下有益的技术效果(1)将激光测距 和电子控制技术应用到钢琴产品的检测工作中，对钢琴键盘下沉深度进行精确的测量；改 变了以往对钢琴键盘下沉深度手工测量的方法，实现了无接触测量，极大的避免了因手工 操作而产生的人为误差，使测量接近真值，很大程度上提高了测量的精确度和科学性；极大 地提高了测量的精确度和准确性，有效地节省了测量时间。(2)保证了对钢琴琴键下沉深度 测量的准确性，实现了在检测过程中的无接触测量的科学检测方式，改变了以往手工测量 中以相邻键为测量基准的理念，消除了其存在的误差，实现了全程测量过程中的绝对测量， 从测量方法上做出了根本上的改变。(3)充分体现了钢琴标准中对钢琴质量提出的要求，大 大降低了手工的测量误差，对钢琴的检测和生产质量提供了更科学更准确的依据；为提高 和改善我国钢琴产品的生产质量、提高我国钢琴产品在国际钢琴产品中的竞争力提供了很 好的帮助。(4)本实用新型的测量装置对钢琴键盘没有附加压力，有效地消除了手工测量时 卡尺对琴键的附加压力所产生的误差。

图1为本实用新型的钢琴键盘激光测距装置的结构示意图。图中1_数据线；2-电源线；3-控制器；4-激光测试仪；5-导轨连接装置；6-导 轨；61-第一导轨；62-第二导轨；7-第一导轨底座；8-钢琴键盘；9-导轨固定装置；10第二 导轨底座。实施方式如图1所示，本实施例的钢琴键盘激光测距装置包括导轨6、导轨底座、激光测试 仪4和控制器3，所述导轨6安装在所述导轨底座上，所述激光测试仪4安装在所述导轨6 上并可沿所述导轨6往返滑动，所述控制器3通过数据线1与所述激光测试仪4连接。所 述导轨6包括第一导轨61、第二导轨62以及导轨连接装置5，所述第一导轨61与所述第二 导轨62通过所述导轨连接装置5连接起来。所述导轨底座包括第一导轨底座7、第二导轨 底座10 ；所述第一导轨61的一端安装在所述第一导轨底座7上，另一端通过所述导轨连接 装置5与所述第二导轨62的一端固定连接，所述第二导轨62远离所述导轨连接装置5的 另一端安装在所述第二导轨底座10上。导轨固定装置9用于将所述导轨6固定在导轨底 座上。在具体使用的时候，如图1所述，将本实施例的钢琴键盘激光测距装置放置在钢 琴键盘上，电源线2接通外接电源，所述激光测试仪4测试出钢琴的白键(或黑键)与激光 测试仪4之间的初始距离M，然后按照国家标准中的要求，将200克砝码放置于钢琴的白键 (或黑键)前端规定的位置，使钢琴的白键(或黑键)下沉，再用所述激光测试仪4测试出钢琴 的白键(或黑键)下沉之后与激光测试仪4之间的下沉距离N ；上述下沉距离N与初始距离 M之间的差值即为钢琴的白键(或黑键)下沉深度的绝对数值。这样可以依次测量出各个白 键(或黑键)的下沉深度的绝对数值，真正实现了单键下沉数值的绝对测量，摆脱了手工测 量方式，实现了无接触测量，大大减少和避免了产生误差的因素，提高了测量的准确度。改 变了以往对钢琴键盘下沉深度手工测量的方法，实现了无接触测量，极大的避免了因手工 操作而产生的人为误差，使测量更加接近真值，很大程度上提高了测量的精确度和科学性；极大地提高了测量的精确度和准确性，有效地节省了测量时间。改变了以往手工测量中以相邻键为测量基准的理念，消除了由于基准点的变化引起的误差，实现了全程测量过程中 的绝对测量，从测量方法上做出了根本上的改变；并且测量装置对钢琴键盘没有附加压力， 有效地消除了手工测量时卡尺对琴键的附加压力所产生的误差。
权利要求一种钢琴键盘激光测距装置，其特征在于，包括导轨(6)、导轨底座、激光测试仪(4)和控制器(3)，所述导轨(6)安装在所述导轨底座上，所述激光测试仪(4)安装在所述导轨(6)上，所述控制器(3)通过数据线(1)与所述激光测试仪(4)连接。
2.根据权利要求1所述的钢琴键盘激光测距装置，其特征在于，所述导轨(6)包括第一 导轨(61)、第二导轨(62)以及导轨连接装置(5)，所述第一导轨(61)与所述第二导轨(62) 通过所述导轨连接装置(5 )连接起来。
3.根据权利要求1所述的钢琴键盘激光测距装置，其特征在于，所述导轨底座包括第 一导轨底座(7)、第二导轨底座(10)；所述第一导轨(61)的一端安装在所述第一导轨底座 (7)上，另一端通过所述导轨连接装置(5)与所述第二导轨(62)的一端固定连接；所述第二 导轨(62)远离所述导轨连接装置(5)的另一端安装在所述第二导轨底座(10)上。
专利摘要本实用新型涉及一种钢琴键盘激光测距装置，包括导轨、导轨底座、激光测试仪和控制器，所述导轨安装在所述导轨底座上，所述激光测试仪安装在所述导轨上，所述控制器通过数据线与所述激光测试仪连接。本实用新型的钢琴键盘激光测距装置能够准确测量钢琴琴键下沉深度，提高测量的精确度和准确性，有效地节省测量时间。
文档编号G01B11/22GK201724665SQ20102014650
公开日2011年1月26日 申请日期2010年3月31日 优先权日2010年3月31日
发明者孙朝平, 张振启, 王伟, 王晋飞, 贾岳, 齐朋 申请人:北京乐器研究所