专利名称:高温点灯测试装置的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及LED制造领域,特别是涉及一种高温点灯测试装置。
背景技术:
LED (Light Emitting Diode,发光二极管)是一种半导体固体发光器件,其原理是利用固体半导体芯片作为发光材料,当芯片两端通入正向电压,半导体中的载流子发生复合引起光子发射而产生光。由于LED工作电压低、耗能小、发光效率高、低热量、使用寿命长、环保等特点,被广泛用于照明、显示灯等技术领域。LED是通过电子复合而发光,当在小电流的情况下,产生热量很小,但在大功率的 LED中,特别是在显示领域的应用,需要较大的电流,会产生大量的热量,使工作温度升高。 而影响LED的寿命的主要因素就是温度,有瑕疵的LED产品在较高的温度下会表现出缺亮现象,所以要保证LED产品的焊接导通的良好性。LED制作用到五大原材料,包括引脚框架(LeadFrame)、芯片(Chip)、银胶、金线和环氧树脂。而在制作过程(芯片焊接、连线焊接)中,某些环节会有如固晶偏移、焊线偏移、空焊虚焊等制程不良,目前这些不良主要通过高倍显微镜进行检测、人员标记或挑除等工具剔除不良,这些人为作业会因人员能力参差不齐而有漏失现象发生,影响产品的质量。
发明内容本实用新型提供一种高温点灯测试装置。为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是—种高温点灯测试装置,该装置包括依次设置的装载单元、加热单元、标记单元以及卸载单元,所述的加热单元包括高温加热器、感应器以及控制器,所述的控制器与标记单元相信号连接。优选地,所述的加热单元还设置有至少1个预加热器。进一步优选地,所述的预加热器设置有2个。导入“高温点灯测试装置”后,通过对LED进行高温加热,使其胶体受热膨胀产生应力作用,通过感应器和标记单元将焊线不良等有瑕疵的LED筛选出来,避免人员操作检验不良漏失流出。由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点本实用新型可有效的将焊接不良的LED筛选出来,避免了因人为失误而造成的漏检,确保了产品的质量;同时也提高了生产效率,降低了生产成本。
附图1为本实用新型的结构示意图。其中1、装载单元;2、加热单元;3、标记单元;4、卸载单元;5、高温加热器;6、第一预加热器;7、第二预加热器;8、感应器;9、控制器。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述如图1所示的一种高温点灯测试装置,该装置包括依次设置的用于装载带测试 LED的装载单元1、用于对LED进行高温测试的加热单元2、用于对不良LED进行标记的标记单元3以及用于对输入测试完毕LED的卸载单元4。其中加热单元2包括第一预加热器 6、第二预加热器7、高温加热器5、对加热后不良品进行感应的感应器8以及控制器9,在本实施例中的第一预加热器6加热温度在95 105°C、第二预加热器7的加热温度在145 155°C、高温加热器5的加热温度在175 185°C,三个加热器依次设置。控制器9与标记单元3相信号连接。以下具体阐述下本实施例的操作方法LED从装载单元1排布后进入加热单元2 ;首先,使其在第一预加热器6下进行一次预热;随后,在第二预加热器7下进行二次预热;最后,在高温加热器5下正常进行工作 10秒后,通过感应器8进行感应,感应器8将感应结果传送给控制器9 ;完成测试的LED进入标记单元3,标记单元3通过控制器9的信号,对不良位置的LED进行标记;最后LED通过卸载单元4输出,而出现问题的LED通过标记,即可进行相关处理。对比常温测试,对384片LED进行常温测试,在常温下LED正常进行工作10秒后, 出现4片不良;对384片LED进行高温测试,在高温下正常进行工作10秒后,除常温的4片外,还有出现12片不良。相对常温的测试,高温测试的筛选效果更好,可靠性更高。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。 凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种高温点灯测试装置,其特征在于该装置包括依次设置的装载单元、加热单元、 标记单元以及卸载单元,所述的加热单元包括高温加热器、感应器以及控制器,所述的控制器与标记单元相信号连接。
2.根据权利要求1所述的高温点灯测试装置,其特征在于所述的加热单元还设置有至少1个预加热器。
3.根据权利要求2所述的高温点灯测试装置,其特征在于所述的预加热器设置有2个。
专利摘要本实用新型涉及一种高温点灯测试装置,该装置包括依次设置的装载单元、加热单元、标记单元以及卸载单元,所述的加热单元包括高温加热器、感应器以及控制器,所述的控制器与标记单元相信号连接。导入“高温点灯测试装置”后,通过对LED进行高温加热,使其胶体受热膨胀产生应力作用,通过感应器和标记单元将焊线不良等有瑕疵的LED筛选出来,避免人员操作检验不良漏失流出。本实用新型与现有技术相比具有下列优点本实用新型可有效的将焊接不良的LED筛选出来,避免了因人为失误而造成的漏检,确保了产品的质量;同时也提高了生产效率,降低了生产成本。
文档编号G01R31/44GK201935994SQ20102064680
公开日2011年8月17日 申请日期2010年12月8日 优先权日2010年12月8日
发明者刘长青, 李莳永, 董新立 申请人:昆山琉明光电有限公司