专利名称：二极管寿命试验台温度补偿电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种温度补偿电路，特别是一种二极管检测的温度补偿电路。
背景技术：
二极管生产完成后需要对二极管的寿命进行检验，由于二极管的量很大，需要将多个二极管串联在二极管试验台电路中进行检测。在检测时，需要对每组二极管通以恒定的电流，看二极管是否能够稳定的工作。现有技术中电源电压发生波动会对检测带来影响， 影响老化检测的测量精度。同时环境温度的变化会对检测电路中的稳定电流产生影响。
发明内容本实用新型需要解决的技术问题是提供一种提高精度且能够消除环境温度的波动对二极管寿命试验台的影响的电路。为解决上述的技术问题，本实用新型的二极管试验台温度补偿电路包括有恒流源和二极管接线柱，所述恒流源通过电阻与PNP管的发射极相连，所述恒流源通过第一稳压二极管与PNP管的基极相连，使得第一稳压二极管工作的电阻连接在PNP管的基极与地之间；所述PNP管的集电极与NPN管的基极相连，第二稳压二极管连接在NPN管的基极与地之间，所述NPN管的发射极通过电阻与地连接；二极管接线柱的一端与恒流源相连，另一端与 NPN管的集电极相连。采用了上述结构后，第一稳压二极管使得PNP管的基极跟恒流源之间的电压稳定，减去PNP管基极跟发射极之间的固定电压，使得通过PNP管发射极的电流恒定。同样的原理通过NPN管的发射极的电流也是恒定的，这样通过NPN管的集电极的电流也是恒定的，即通过二极管的电流也是恒定的。恒定的电流提高了老化检测电路的精确度。同时，PNP 管和NPN管所组成的二级恒流源可以相互抵消环境温度的波动对老化检测带来的影响。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明。

图1为本实用新型二极管试验台温度补偿电路的示意图。图中1为恒流源，2为稳压二极管，3为PNP管，4为电阻，5为电阻，6为稳压二极管，7为NPN管，8为单刀多掷开关，9为电阻，10为电阻，11为电阻，12为二极管接线柱
具体实施方式
如图1所示的二极管试验台温度补偿电路，包括有恒流源1、二极管接线柱12和温度补偿电路，所述温度补偿电路采用PNP管和NPN管所组成的二级恒流源，利用PNP管和 NPN管对温度的特性相互抵消环境温度对电路产生的影响。二极管接线柱12的一端与恒流源1相连，另一端与NPN管7的集电极相连。这样可以通过确定NPN管7的集电极的电流来确定流过二极管接线柱12的电流值。从而达到使得流过二极管接线柱12的电流恒定的目的。所述温度补偿电路为恒流源1通过电阻4与PNP管3的发射极相连，所述恒流源 1通过第一稳压二极管2与PNP管3的基极相连，使得第一稳压二极管2工作的电阻5连接在PNP管的基极与地之间。这样第一稳压二极管2使得恒流源1与PNP管3基极之间的电压固定，又因为PNP管3基极与发射极之间的电压固定，这样就使得通过电阻4的电压恒定，即通过PNP管3集电极的电流恒定。电阻5的作用是为第一稳压二极管2提供一个稳定的工作电流，保证第一稳压二极管的稳定工作。所述PNP管3的集电极与NPN管7的基极相连，第二稳压二极管6连接在NPN管7 的基极与地之间，所述NPN管7的发射极通过电阻与地连接。这样跟使得PNP管3发射极恒流的原理相同，第二稳压二极管6的电压减去NPN管7的基极与发射极之间的电压除以发射极与地之间连接的电阻就是通过NPN管7发射极的电流，这个电流值恒定。这样就使得通过NPN管7集电极的电流值恒定，也就是通过二极管接线柱的电流恒定。以上PNP管 3和NPN管7所组成的即为二级恒流源。所述所述NPN管7的发射极通过电阻与地连接为NPN管7的发射极连接在单刀多掷开关8的固定端，单刀多掷开关8的活动连接端分别通过电阻9、电阻10和电阻11接地。 这样可以通过单刀多掷开关8来选择接入电路的电阻的大小，从而改变通过二极管接线柱 12的电流的大小。这样可以用同一种二极管寿命试验台对多种型号的二极管进行老化检测，因为不同型号的二极管老化检测所需要的恒定电流值是不一样。当然，此实施例中PNP管3和NPN管7所组成二级恒流源中PNP管3和NPN管7 的位置可以交换，只要通过电路的连接变化，使得通过PNP管3和NPN管7发射极、集电极的电流值恒定，再将恒定的电流流过二极管接线柱12即可。这样的变换均落在本实用新型保护的范围之内。
权利要求1.一种二极管寿命试验台温度补偿电路，所述二极管寿命试验台包括有恒流源和二极管接线柱，其特征在于所述恒流源通过电阻与PNP管的发射极相连，所述恒流源通过第一稳压二极管与PNP管的基极相连，使得第一稳压二极管工作的电阻连接在PNP管的基极与地之间；所述PNP管的集电极与NPN管的基极相连，第二稳压二极管连接在NPN管的基极与地之间，所述NPN管的发射极通过电阻与地连接；二极管接线柱的一端与恒流源相连，另一端与NPN管的集电极相连。
2.按照权利要求1所述的二极管寿命试验台温度补偿电路，其特征在于所述NPN管的发射极通过电阻与地连接为NPN管的发射极连接在单刀多掷开关的固定端，单刀多掷开关的活动连接端分别通过电阻接地。
专利摘要本实用新型涉及一种温度补偿电路，特别是一种二极管检测的温度补偿电路。包括有恒流源和二极管接线柱，所述恒流源通过电阻与PNP管的发射极相连，所述恒流源通过第一稳压二极管与PNP管的基极相连，使得第一稳压二极管工作的电阻连接在PNP管的基极与地之间；所述PNP管的集电极与NPN管的基极相连，第二稳压二极管连接在NPN管的基极与地之间，所述NPN管的发射极通过电阻与地连接；二极管接线柱的一端与恒流源相连，另一端与NPN管的集电极相连。采用上述结构后，提高了老化检测电路的精确度，相互抵消环境温度的波动对老化检测带来的影响。
文档编号G01R1/44GK202093070SQ20112017993
公开日2011年12月28日 申请日期2011年5月31日 优先权日2011年5月31日
发明者杨吉明, 王秋霜, 郭建新 申请人:常州佳讯光电产业发展有限公司