专利名称：驱动电路的量测方法
技术领域：
本发明涉及一种驱动电路的量测方法，特别是涉及一种可量测出驱动电路中的全部组件是否良好的驱动电路的量测方法。
背景技术：
人类最早能看到的动态影像为记录片型态的电影。之后，阴极射线管(Cathode Ray Tube，简称CRT)的发明，成功地衍生出商业化的电视机，并成为每个家庭必备的家电用品。随着科技的发展，CRT的应用又扩展到计算机产业中的桌上型监视器，而使得CRT风光将近数十年之久。但是CRT所制作成的各类型显示器都面临到辐射线的问题，并且因为内部电子枪的结构，而使得显示器体积庞大并占空间，所以不利于薄形及轻量化。
由于上述问题，而使得研究人员着手开发所谓的平面显示器(FlatPanel Display)。这个领域包含液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)、场发射显示器(Field Emission Display，简称FED)、有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，简称OLED)、以及电浆显示器面板(Plasma Display Panel，简称PDP)。其中以液晶显示器最为醒目且具有薄型化、轻量化及小、中与大型化等的特性，并符合现代及未来新时代的携带式无线通讯与网络的技术。
对于薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称TFT)LCD而言，可进一步地依材料区分为非晶硅LCD及多晶硅LCD两大类。而近年来，更已成功地开发出低温多晶硅(LTPS)LCD。而对于目前的LTPS-LCD而言，由于驱动电路是位于画素的外部，所以如何量测出驱动电路中的全部组件是否良好，便成为量测上的重要课题。
请参阅图1所示，是使用现有习知的驱动电路的量测方法的画素阵列(array)及驱动电路的示意图。由图1可知，驱动电路包括扫瞄线驱动电路102及资料线驱动电路104，而画素阵列106包括数条扫瞄线108、数条数据线110、以及预先充电电路112。其中，扫瞄线驱动电路102包括移位暂存器114、116、闸极118及缓冲电路(图中未示)。资料线驱动电路104包括移位暂存器120、122、124、相位配置电路(Phase Arrangement Circuit，简称PAC)126、闸极128、以及水平开关130。
下面将以图1来说明现有习知的驱动电路的量测方法。对于扫瞄线驱动电路102而言，会将脉冲讯号传送至扫瞄线驱动电路102的输入端(即移位暂存器114的输入端)，然后在扫瞄线驱动电路102的输出端量测(即移位暂存器116的输出端)，如果在移位暂存器116的输出端量测到输出讯号，则表示扫瞄线驱动电路102良好，而如果在移位暂存器116的输出端未量测到输出讯号，则表示扫瞄线驱动电路102损坏。同样地，对于资料线驱动电路104而言，会将脉冲讯号传送至资料线驱动电路104的输入端(即移位暂存器120的输入端)，然后在资料线驱动电路104的输出端量测(即移位暂存器124的输出端)，如果在移位暂存器124的输出端量测到输出讯号，则表示资料线驱动电路104良好，而如果在移位暂存器124的输出端未量测到输出讯号，则表示资料线驱动电路104损坏。
由上述可知，现有习知的驱动电路的量测方法至少存在有以下缺点(1)、当扫瞄线驱动电路102及资料线驱动电路104测试的结果为良好时，只表示扫瞄线驱动电路102及资料线驱动电路104中的移位暂存器114-116、120-124良好，但是不能保证扫瞄线驱动电路102及资料线驱动电路104中的其它电路组件均为良好。
(2)、当扫瞄线驱动电路102及资料线驱动电路104测试的结果为损坏时，并不能得知扫瞄线驱动电路102及资料线驱动电路104中的何种电路组件损坏。
(3)、由于现有习知的驱动电路的量测方法不能量测驱动电路中的全部电路组件，所以在画素测试时，会有许多未知的线缺陷或点缺陷。
由此可见，上述现有的驱动电路的量测方法仍存在有诸多的缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决现有的驱动电路的量测方法的缺陷，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，此显然是相关业者急欲解决的问题。
有鉴于上述现有的驱动电路的量测方法存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及其专业知识，积极加以研究创新，以期创设一种新的驱动电路的量测方法，能够改进一般现有的驱动电路的量测方法，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容
本发明的目的在于，克服现有的驱动电路的量测方法存在的缺陷，而提供一种新的驱动电路的量测方法，所要解决的技术问题是使其将每一扫瞄线及每一资料线分别耦接至第一测试焊垫及第二测试焊垫。接着，分别传送第一测试讯号及第二测试讯号至扫瞄线驱动电路的输入端及资料线驱动电路的输入端。之后，分别在第一测试焊垫及第二测试焊垫上做量测，即可得知扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路中的全部电路组件是否良好，从而更加适于实用，且具有产业上的利用价值。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种驱动电路的量测方法，该驱动电路包括一扫瞄线驱动电路及一资料线驱动电路，用以驱动一显示器，该显示器包括复数条扫瞄线及复数条资料线，每一该些扫瞄线的起始端是耦接至该扫瞄线驱动电路，每一该些数据线的起始端是耦接至该资料线驱动电路，该量测方法包括下列步骤将每一该些扫瞄线及每一该些资料线分别耦接至一第一测试焊垫及一第二测试焊垫；分别传送一第一测试讯号及一第二测试讯号至该扫瞄线驱动电路的输入端及该资料线驱动电路的输入端，其中该第一测试讯号是经由该扫瞄线驱动电路及每一该些扫瞄线，而传送至该第一测试焊垫，而该第二测试讯号是经由该资料线驱动电路及每一该些数据线，而传送至该第二测试焊垫；以及分别在该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上做量测。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述驱动电路的量测方法，其中当每一该些扫瞄线未耦接一电路时，则存在一二极管，该二极管是位于每一该些扫瞄线与该第一测试焊垫之间。
前述的驱动电路的量测方法，其中所述的二极管的正极是耦接至每一该些扫瞄线，而该二极管的负极是耦接至该第一测试焊垫。
前述的驱动电路的量测方法，其中当每一该些扫瞄线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至该第一测试焊垫。
前述驱动电路的量测方法，其中当每一该些资料线未耦接一电路时，则存在一二极管，该二极管是位于每一该些资料线与该第二测试焊垫之间。
前述的驱动电路的量测方法，其中所述的二极管的正极是耦接至每一该些资料线，而该二极管的负极是耦接至该第二测试焊垫。
前述的驱动电路的量测方法，其中当每一该些数据线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至该第二测试焊垫。
前述的驱动电路的量测方法，其中欲量测该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上的电流时，是使用一电流计或为一电压计来量测。
前述的驱动电路的量测方法，其中所述的第一测试讯号及该第二测试讯号是一脉冲讯号。
前述的驱动电路的量测方法，其中所述的第一测试讯号及该第二测试讯号是为一电压讯号或为一电流讯号。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到前述发明目的，本发明的主要技术内容如下本发明提出一种驱动电路的量测方法。该驱动电路包括扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路，用以驱动显示器。该显示器包括数条扫瞄线及数条资料线。其中每一扫瞄线的起始端是耦接至扫瞄线驱动电路，而每一数据线的起始端是耦接至资料线驱动电路。在该量测方法中，首先会将每一扫瞄线及每一资料线分别耦接至第一测试焊垫及第二测试焊垫。接着，分别传送第一测试讯号及第二测试讯号至扫瞄线驱动电路的输入端及资料线驱动电路的输入端，其中第一测试讯号是经由扫瞄线驱动电路及每一扫瞄线，而传送至第一测试焊垫，而第二测试讯号是经由资料线驱动电路及每一数据线，而传送至第二测试焊垫。之后，分别在第一测试焊垫及第二测试焊垫上做量测。
在本发明的实施例中，当每一扫瞄线未耦接一电路时，则存在二极管，该二极管是位于每一扫瞄线与第一测试焊垫之间。而该二极管的正极是耦接至每一扫瞄线，而该二极管的负极是耦接至第一测试焊垫。
在本发明的较佳实施例中，当每一扫瞄线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至第一测试焊垫。
在本发明的实施例中，当每一数据线未耦接一电路时，则存在二极管，该二极管是位于每一资料线与第二测试焊垫之间。而该二极管的正极是耦接至每一资料线，而该二极管的负极是耦接至第二测试焊垫。
在本发明的较佳实施例中，当每一数据线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至第二测试焊垫。
在本发明的较佳实施例中，欲量测第一测试焊垫及第二测试焊垫上的电流时，是使用电流计来量测。而欲量测第一测试焊垫及第二测试焊垫上的电压时，是使用电压计来量测。
在本发明较佳实施例中，第一测试讯号及第二测试讯号为脉冲讯号、电压讯号或电流讯号。
在本发明的较佳实施例中，该显示器为液晶显示器。
经由上述可知，本发明驱动电路的量测方法，包括扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路，用以驱动显示器。该显示器包括数条扫瞄线及数条资料线。其中每一扫瞄线的起始端是耦接至扫瞄线驱动电路，而每一数据线的起始端是耦接至资料线驱动电路。在该量测方法中，首先会将每一扫瞄线及每一资料线分别耦接至第一测试焊垫及第二测试焊垫。接着，分别传送第一测试讯号及第二测试讯号至扫瞄线驱动电路的输入端及资料线驱动电路的输入端。之后，分别在第一测试焊垫及第二测试焊垫上做量测，即可得知扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路中的全部电路组件是否良好。
借由上述技术方案，本发明至少具有以下优点(1)、可量测出扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路中的全部电路组件是否良好。
(2)、当扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路的测试结果为损坏时，可得知扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路中的何种电路组件损坏，所以可提供更多的分析信息及修复信息。
(3)、由于本发明可量测出驱动电路中的全部电路组件是否良好，所以在画素测试时，可得知线缺陷或点缺陷。
综上所述，本发明特殊结构的驱动电路的量测方法，主要是将每一扫瞄线及每一资料线分别耦接至第一测试焊垫及第二测试焊垫。接着，分别传送第一测试讯号及第二测试讯号至扫瞄线驱动电路的输入端及资料线驱动电路的输入端。之后，分别在第一测试焊垫及第二测试焊垫上做量测，即可得知扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路中的全部电路组件是否良好。其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类量测方法中未见有类似的设计公开发表或使用而确属创新，其不论在方法上或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的驱动电路的量测方法具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。


图1是使用现有习知的驱动电路的量测方法的画素阵列及驱动电路的示意图。
图2是使用根据本发明一较佳实施例的驱动电路的量测方法的画素阵列及驱动电路的示意图。
102，202扫瞄线驱动电路104，204资料(数据)线驱动电路106，206画素阵列(画素数组)108，208扫瞄线110，210资料线112，212预先充电电路114、116移位暂存器(缓存器)120、122移位暂存器124、214移位暂存器216、220移位暂存器222、224移位暂存器118、128、218、228闸极126，226相位配置电路 130，230水平开关232二极管 234，236测试焊垫238，240测试讯号具体实施方式
以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的驱动电路的量测方法其具体量测方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。
请参阅图2所示，是使用根据本发明一较佳实施例的驱动电路的量测方法的画素阵列及驱动电路的示意图。由图2可知，本发明较佳实施例的驱动电路的量测方法中，该驱动电路包括扫瞄线驱动电路202及资料线驱动电路204，用以驱动显示器(例如是液晶显示器)。而在显示器中，具有画素阵列206，该画素阵列206包括数条扫瞄线208、数条数据线210、以及预先充电电路212。其中，扫瞄线驱动电路202包括移位暂存器214、216、闸极218及缓冲电路(图中未示)。该资料线驱动电路204包括移位暂存器220、222、224、相位配置电路226、闸极228、以及水平开关230。另外，每一扫瞄线208的起始端是耦接至扫瞄线驱动电路202，而每一数据线210的起始端是耦接至资料线驱动电路204。
下面以图2来说明本发明的驱动电路的量测方法。在该量测方法中，首先会将每一扫瞄线及每一资料线分别耦接至第一测试焊垫及第二测试焊垫。对于扫瞄线而言，当每一扫瞄线未耦接至一电路时，则存在二极管，该二极管是位于每一扫瞄线与第一测试焊垫之间，而该二极管的正极是耦接至每一扫瞄线，而该二极管的负极是耦接至第一测试焊垫；而当每一扫瞄线耦接至一电路时，则该电路的一端是耦接至第一测试焊垫。对于数据线而言，当每一数据线未耦接一电路时，则存在二极管，该二极管是位于每一资料线与第二测试焊垫之间，而该二极管的正极是耦接至每一资料线，而该二极管的负极是耦接至第二测试焊垫；而当每一数据线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至第二测试焊垫。而在图2中，因为每一扫瞄线208未耦接一电路，所以每一扫瞄线208会经由二极管232，而耦接至测试焊垫234。再者，因为每一扫瞄线210已耦接预先充电电路212，所以预先充电电路212的汲极端会经由水平开关230而耦接至测试焊垫236。此外，对于熟习此项技艺者而言，应该知道的是，图2仅为扫瞄线及资料线，与测试焊垫连接方式的一例，并非用以限定本发明，只要在不脱离本发明申请专利范围之外都可以为之。
接着，会分别传送测试讯号238及测试讯号240至扫瞄线驱动电路202的输入端(即移位暂存器214的输入端)及资料线驱动电路的输入端(即移位暂存器220的输入端)。其中，测试讯号238会经由扫瞄线驱动电路202及每一扫瞄线208，而传送至测试焊垫234。而测试讯号240会经由资料线驱动电路204及每一数据线210，而传送至测试焊垫236。另外，测试讯号238及测试讯号240可为脉冲讯号、电压讯号或电流讯号。
之后，分别在测试焊垫234及测试焊垫236上做量测，藉由在测试焊垫234及测试焊垫236上所量测到的输出讯号，即可得知出扫瞄线驱动电路202中的全部组件及资料线驱动电路204中的全部组件是否良好。另外，如果欲量测测试焊垫234及测试焊垫236上的电流时，可使用电流计来量测。而如果欲量测测试焊垫234及测试焊垫238的电压时，可使用电压计来量测。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种驱动电路的量测方法，其特征在于该驱动电路包括一扫瞄线驱动电路及一资料线驱动电路，用以驱动一显示器，该显示器包括复数条扫瞄线及复数条资料线，每一该些扫瞄线的起始端是耦接至该扫瞄线驱动电路，每一该些数据线的起始端是耦接至该资料线驱动电路，该量测方法包括下列步骤将每一该些扫瞄线及每一该些资料线分别耦接至一第一测试焊垫及一第二测试焊垫；分别传送一第一测试讯号及一第二测试讯号至该扫瞄线驱动电路的输入端及该资料线驱动电路的输入端，其中该第一测试讯号是经由该扫瞄线驱动电路及每一该些扫瞄线，而传送至该第一测试焊垫，而该第二测试讯号是经由该资料线驱动电路及每一该些数据线，而传送至该第二测试焊垫；以及分别在该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上做量测。
2.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中当每一该些扫瞄线未耦接一电路时，则存在一二极管，该二极管是位于每一该些扫瞄线与该第一测试焊垫之间。
3.根据权利要求2所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中所述的二极管的正极是耦接至每一该些扫瞄线，而该二极管的负极是耦接至该第一测试焊垫。
4.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中当每一该些扫瞄线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至该第一测试焊垫。
5.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中当每一该些资料线未耦接一电路时，则存在一二极管，该二极管是位于每一该些资料线与该第二测试焊垫之间。
6.根据权利要求5所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中所述的二极管的正极是耦接至每一该些资料线，而该二极管的负极是耦接至该第二测试焊垫。
7.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中当每一该些数据线耦接一电路时，则该电路的一端是耦接至该第二测试焊垫。
8.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中欲量测该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上的电流时，是使用一电流计或为一电压计来量测。
9.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中所述的第一测试讯号及该第二测试讯号是一脉冲讯号。
10.根据权利要求1所述的驱动电路的量测方法，其特征在于其中所述的第一测试讯号及该第二测试讯号是为一电压讯号或为一电流讯号。
全文摘要
本发明是关于一种驱动电路的量测方法，包括扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路，用以驱动显示器。该显示器包括数条扫瞄线及数条资料线。其中每一扫瞄线的起始端是耦接至扫瞄线驱动电路，而每一数据线的起始端是耦接至资料线驱动电路。在该量测方法中，首先会将每一扫瞄线及每一资料线分别耦接至第一测试焊垫及第二测试焊垫。接着，分别传送第一测试讯号及第二测试讯号至扫瞄线驱动电路的输入端及资料线驱动电路的输入端。之后，分别在第一测试焊垫及第二测试焊垫上做量测，即可得知扫瞄线驱动电路及资料线驱动电路中的全部电路组件是否良好。
文档编号G01R31/28GK1635389SQ20031012422
公开日2005年7月6日 申请日期2003年12月31日 优先权日2003年12月31日
发明者蔡善宏, 孙铭贤 申请人:统宝光电股份有限公司