专利名称：磁保持继电器参数性能测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种磁保持继电器参数性能测试仪，用于对磁保持继电器进行检 测。
背景技术：
现有技术中对继电器性能参数的检测主要采用脉冲电源和示波器组合进行检测， 由于该套设备的操作较为复杂，一般都必须要专业人试才能进行检测，并且操作效率低，对 于大批量的继电器特别是生产线产品的检测困难较大。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术中所存在的上述缺点，而提供一 种结构设计合理、操作方便快捷的磁保持继电器参数性能测试仪。本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是一种磁保持继电器参数性能测试 仪，其特征在于包括功能设置按钮模块、单片机控制芯片模块、时钟频率模块、信号采样处 理模块、显示驱动模块、电源驱动模块、接口模块；单片机控制芯片模块分别与功能设置按 钮模块、时钟频率模块、信号采样处理模块、显示驱动模块、电源驱动模块电连接，接口模块 分别与电源驱动模块和信号采样处理模块电连接。本实用新型与现有技术相比，具有如下优点和效果1、结构设计合理；2、操作方 便简单。

图1为本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步说明。实施例参见图1，本实用新型实施例包括功能设置按钮模块1、单片机控制芯片 模块2、时钟频率模块3、信号采样处理模块4、显示驱动模块5、电源驱动模块6、接口模块 7。单片机控制芯片模块2分别与功能设置按钮模块1、时钟频率模块3、信号采样处 理模块4、显示驱动模块5、电源驱动模块6电连接，接口模块7分别与电源驱动模块6和信 号采样处理模块4电连接。功能设置按钮模块1包括多个功能选择按钮，对本实用新型的开、关、检测等动作 进行选择。单片机控制芯片模块2内置有检测程序，对检测数据具有处理功能。时钟频率模块3相关于标准时钟表，本实用新型的取样数据与之相比较。信号采样处理模块4对采集到的信号进行处理后传输给单片机控制芯片模块2。[0014]显示驱动模块5用于与外界显示器连接，用于显示检测数据。电源驱动模块6用于与外界电源连接，用于供电。工作时，接口模块7与继电器的簧片接口连接。只需操作人员接通被测继电器，起动功能设置按钮模块1中的程序按扭，本实施 例依据事先设定的程序进行自动检测，操作人员不需要具备专业知识，并且检测效率高，除 了单个继电器检测外，特别适用于批量检测，对于生产线的流水线作业非常好，从而可以保 证生产继电器的质量。本实用新型可检测的磁保持继电器参数有释放动作时间、吸合动作时间、释放驱 动电压、吸合驱动电压。
权利要求1. 一种磁保持继电器参数性能测试仪，其特征在于包括功能设置按钮模块、单片机 控制芯片模块、时钟频率模块、信号采样处理模块、显示驱动模块、电源驱动模块、接口模 块；单片机控制芯片模块分别与功能设置按钮模块、时钟频率模块、信号采样处理模块、显 示驱动模块、电源驱动模块电连接，接口模块分别与电源驱动模块和信号采样处理模块电 连接。
专利摘要本实用新型涉及一种磁保持继电器参数性能测试仪，用于对磁保持继电器进行检测。本实用新型包括功能设置按钮模块、单片机控制芯片模块、时钟频率模块、信号采样处理模块、显示驱动模块、电源驱动模块、接口模块；单片机控制芯片模块分别与功能设置按钮模块、时钟频率模块、信号采样处理模块、显示驱动模块、电源驱动模块电连接，接口模块分别与电源驱动模块和信号采样处理模块电连接。本实用新型结构设计合理，操作方便简单。
文档编号G01R31/327GK201892730SQ20102062465
公开日2011年7月6日 申请日期2010年11月25日 优先权日2010年11月25日
发明者吴金良, 宋海敏, 沈旭光 申请人:海盐众信电子有限公司