专利名称：薄膜检测方法及检测装置的制作方法
技术领域：
本发明有关于一种检测方法及检测装置，特别是指一种薄膜检测方法及检测装置。
背景技术：
参阅图1，为现有贴附于显示面板(图未示)的相位延迟膜900，主要功能为产生3D影像。该相位延迟膜900包含复数个第一相位显示区域910及复数个第二相位显示区域920，该复数个第一相位显示区域910及该复数个第二相位显示区域920相互平行且间隔排列。在实际应用中，由于相位延迟膜900会受其高分子膜本身胀缩的特性，导致第一相位显示区域910及第二相位显示区域920的宽度Dpixel产生改变，而无法准确对应面板上的像素，进而影响影像的3D效果。 然而，现今常见的检测方法是测量相位延迟膜900的总长度Dtotal，接着计算相位延迟膜900所具有第一相位显示区域910及第二相位显示区域920的数量，最后将相位延迟膜的总长度Dtotal除以总相位显示区域的数量，即可得到各相位显示区域的平均宽度Dpixel (average)。并以Dpixel (average)是否介于预定范围内，进而预估相位延迟膜900于面板的表现，但此检测方法并无法得知该相位延迟膜900中各个相位显示区域的宽度Dpixel数据，因此无法准确预估该相位延迟膜900上各相位显示区域于显示面板上的3D效果。

发明内容
因此，鉴于现有技术的不足，本发明提供一种可更精确检测待测薄膜的均匀度的薄膜检测方法及检测装置。根据本发明的目的之一提出一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤(A)读取待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及
(D)输出该多个偏移值。作为可选的技术方案，该步骤(D)是将处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。作为可选的技术方案，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。作为可选的技术方案，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。作为可选的技术方案，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。根据本发明的另一目的提出一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤(A)读取该待测薄膜的参考影像；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)将该多张检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像；(D)根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜的均匀度的偏移量 '及(E)输出该偏移量。作为可选的技术方案，该步骤(A)是于该待测薄膜上撷取该参考影像。作为可选的技术方案，若该差值影像的灰阶值高于该预设值，则视该差值影像为全白画面，若该差值影像的灰阶值低于该预设值，则视该差值影像为全黑画面。作为可选的技术方案，该步骤(D)包括以下子步骤(D-I)计算该多个差值影像的灰阶值高于预设值的数量；(D-2)将所计算的灰阶值高于预设值的差值影像的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例；及(D-3)根据该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，产生对应该比例的偏移量。 根据本发明的另一目的提出一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该检测装置包含储存单元，储存该待测薄膜的参考位置；摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；处理单元，耦接于该储存单元及该摄像单元，该处理单元从该储存单元中读取该参考位置，并计算该多个检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差而对应产生多个偏移值；及输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该多个偏移值。作为可选的技术方案，该输出单元将该处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。作为可选的技术方案，该输出单元输出该多个偏移值至检测电路，该检测电路将该多个偏移值分别与标准差值进行比较，以检测该待测薄膜。作为可选的技术方案，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。作为可选的技术方案，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。作为可选的技术方案，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。根据本发明的在一目的提出一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该检测装置包含摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；储存单元，储存该摄像单元所撷取的参考影像；处理单元，耦接于该储存单元及该摄像单元，该处理单元读取该待测薄膜的参考影像，且将该多个检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像，并根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜均匀度的偏移量；及输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该偏移量。作为可选的技术方案，还包含耦接于该处理单元的计数单元，当该处理单元判断该多个差值影像的灰阶值高于预设值时，控制该计数单元计数，该处理单元并将该计数单元所计数的差值影像中全白画面的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，再将根据该比例产生该偏移量。作为可选的技术方案，该参考影像由该摄像单元于该待测薄膜上撷取，并储存于该储存单元，该处理单元再从该储存单元中读取该参考影像；或者，该参考影像预先储存于该储存单元，该处理单元于该储存单元中读取该参考影像。本发明的好处在于，可图形化待测薄膜贴于显示面板上的表现，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。


图I是说明现有技术的相位延迟膜的示意图；图2是说明第一实施例的薄膜检测方法的流程图；图3是说明第一实施例的检测装置的示意图；图4是说明本发明待测薄膜的示意图；图5是说明摄像单元于待测薄膜对应显示面板的像素排列方向上撷取多张检测 影像的示意图；图6是说明摄像单元所撷取的其中四张检测影像的示意图；图7是说明待测薄膜均匀度的一种特性曲线图；图8是说明待测薄膜均匀度的另一种特性曲线图；图9是说明本发明检测装置配合测试机台使用的示意图；图10是说明检测通过的待测薄膜所对应的特性曲线图；图11是说明检测未通过的待测薄膜所对应的特性曲线图；图12是说明第二实施例的薄膜检测方法的流程图；图13是说明第二实施例的检测装置的示意图；图14是说明摄像单元于待测薄膜对应显示面板的像素排列方向上撷取多张检测影像的示意图；图15是说明检测影像与参考影像完全重叠的示意图；图16是说明检测影像与参考影像出现偏差的示意图；图17是说明检测影像与参考影像偏差达一个像素距离的示意图；图18是说明第二实施例的处理单元根据该多个差值影像而产生偏移量的流程图；图19是说明全白画面比例与偏移量的对照表。
具体实施例方式为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。参阅图2至图4，为本发明薄膜检测方法的第一实施例，此检测方法应用于检测装置100，针对用以贴附于显示面板(图未示)的待测薄膜200进行检测，在本实施例中，检测装置100为自动光学检测设备(Automated Optical Inspection, AOI),待测薄膜200为相位延迟膜，其中包含复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域210及第二相位显示区域220。检测装置100包含储存单元10、摄像单元20、处理单元30及输出单元40。储存单元10为记忆体,用以储存与待测薄膜200有关的参考位置Pref。摄像单元20可为电荷率禹合元件(Charge Coupled Device,CO))或互补式金属氧化物半导体感测器(CMOS sensor)等摄像元件，用以撷取待测薄膜200的影像。处理单元30耦接于储存单元10及摄像单元20，用以处理摄像单元20所撷取的影像，并产生对应的偏移值。输出单元40耦接于处理单元30，用以输出偏移值。参阅图2、图3及图5，本第一实施例的薄膜检测方法的具体流程如下步骤SI I，处理单元30从储存单元10中读取待测薄膜200的参考位置Pref，先定位于其中一第一相位显示区域210及其邻近的第二相位显示区域220的交界位置，以作为参考位置Pref的起始点，在本实施例中，再于待测薄膜200对应显示面板的像素排列方向上从起始点开始每隔40个像素距离读取一位置信息作为参考位置Pref,且参考位置Pref位于步骤S12中摄像单元20所撷取的检测影像的中心位置，但并不以此为限，于其他实施例中，参考位置Pref为步骤S12中摄像单元20所撷取的检测影像的最右侧或最左侧的边界位置。步骤S12，摄像单元20于待测薄膜200对应显示面板的像素排列方向上以固定的 间隔距离撷取多张检测影像50。配合参阅图6，本实施例的摄像单元20是每隔40个像素距离(pixel distance)撷取一张检测影像50 (检测影像的中心位置至与其相邻的检测影像的中心位置距离为40个像素)，每张检测影像50皆包括至少两个第一相位显示区域210，及至少两个第二相位显示区域220，第二相位显示区域220分别与第一相位显示区域210间隔排列，且每张检测影像50的大小皆相同。为了便于说明，图6中只绘示四张检测影像50，且分别标号为51 54，但间隔距离、撷取的影像张数及每张检测影像中所包含的第一相位显示区域210与第二相位显示区域220的数量皆不以本实施例为限。步骤S13，处理单元30计算多个检测影像51 54中对应参考位置Pref的校准位置(即位于检测影像51 54中间区域的第一相位显示区域210与第二相位显示区域220的交界位置)与参考位置Pref的距离差，并对应产生多个偏移值。以图6为例，四张检测影像51 54的校准位置分别与参考位置Pref的距离差为Dl D4。特别说明的是，由于本实施例的参考位置Pref是被设定在每张影像的正中间，且理论上，每个第一相位显示区域210及第二相位显示区域220的宽度皆为显示面板中一个像素的宽度，因此，在摄像单元20的定位精确度足够的情况下，每张检测影像51 54中与参考位置Pref对应的校准位置理应与参考位置Pref完全重叠，若两者之间出现偏差，即表示第一相位显示区域210或第二相位显示区域220可能因制程误差或本身膨胀特性而导致其宽度不为一个像素的宽度，因此透过各个偏移值即可检测得知第一相位显示区域210或第二相位显示区域220的实际偏移宽度。当然，用于判断第一相位显示区域210或第二相位显示区域220的宽度的校准位置也可以设定在与本实施例的不同的其他位置，例如检测影像51 54中位于最右边的第一相位显示区域210与第二相位显示区域220交界位置，或是位于最左边的第一相位显示区域210与第二相位显示区域220交界位置，并不以中间位置为限。步骤S14，输出单元40输出多个偏移值。在本实施例中，输出单元40是将处理单元30所产生的所有偏移值绘制成一个特性曲线图输出，如图7所示。图7的横轴为相位显示区域的间距数，纵轴为对应相位显示区域的实际偏移值(μ m)，图7可显示整张待测薄膜200的偏移值特性分布，透过曲线的变化得以判断待测薄膜200的均匀度。参阅图5至图7，在本实施例中，摄像单元20是从待测薄膜200的其中一侧(如待测薄膜200的左侧)往其中另一侧(如待测薄膜200的右侧)的方向以固定的间隔距离撷取检测影像50，然而每次撷取的检测影像50，其对应产生的偏移值会为间距距离(例如40个像素距离)中每个第一相位显示区域210及第二相位显示区域220的宽度误差和，因此，邻近待测薄膜200左侧的检测影像50所对应产生的偏差值会低于邻近待测薄膜200右侧的检测影像50所对应产生的偏差值。当然，也可以定位于待测薄膜200最中间的第一相位显示区域210及第二相位显示区域220的交界位置，摄像单元20可以交界位置为中心，一左一右的分别往待测薄膜200的两相反侧撷取检测影像50，如此，邻近待测薄膜200中间的检测影像50所对应产生的偏差值则会低于邻近待测薄膜200两相反侧的检测影像50所对应产生的偏差值，其输出单元40所输出的特性曲线图会如图8所示，本发明不以本实施例为限。在实际应用上，本实施例的检测装置100可与测试机台(图未示)配合使用，如图9所示，整卷的薄膜透过测试机台的输送及裁切而形成适合不同规格的显示面板的待测薄膜200，检测装置100再利用上述的检测方法，分别针对各待测薄膜200的两相反侧(例如两T点位置)分别对应显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多检测影像，并分别将所产生的多个偏移值绘制成两特性曲线图，以供测试人员得以藉由两特性曲线图检测待测薄膜200的均匀度。若多个偏移值皆小于对应显示面板的规格的标准曲线LI，如图10所示，则视为检测通过，测试机台将待测薄膜200输送至良品区；反之，若多个偏移值有部分大于标准曲线LI，如图11中虚线框部分所示，则视为检测不通过，测试机台将待测薄膜200输送至修补或报废区。如此将能达到更精确且更快速地检测各待测薄膜200的目的。特别说明的是，为了达到全自动化检测，输出单元40也可将所有偏移值输出至检测电路(图未示，其可内建或外置于处理单元30)，检测电路用以将多个偏移值分别与对应的标准曲线LI的标准差值(如图10及图11所示，其值为150)进行比较，若全部偏移值皆小于标准差值，即表示检测通过；若有至少一偏移值大于标准差值，即表示检测不通过，之后测试机台再配合检测电路的比较结果将待测薄膜200输送至对应区域，如此将可更节省测试的人力，降低测试成本。此外，检测装置100撷取影像的位置也不限于待测薄膜200的两相反侧，可以是待测薄膜200的两相反侧及中间位置，或是任意多个位置，以更精确地检测各待测薄膜200。参阅图12及图13，为本发明薄膜检测方法的第二实施例，在本实施例中，检测方法应用于检测装置100’，检测装置100’包含储存单元10’、摄像单元20’、处理单元30’、输出单元40’及计数单元60’。储存单元10’为记忆体，用以储存摄像单元20’所撷取的影像。摄像单元20’可为电荷稱合元件((XD)或互补式金属氧化物半导体感测器(CMOS sensor)等摄像元件，用以撷取待测薄膜200的影像。处理单元30’耦接于储存单元10’及摄像单元20’，用以处理摄像单元20’所撷取的影像，并产生对应的偏移值。输出单元40’耦接于处理单元30’，用以输出偏移量。计数单元60’耦接于处理单元30’，其功能于后续说明。参阅图12至图14，本第二实施例的薄膜检测方法的具体流程如下步骤S21，摄像单元20’于待测薄膜200上撷取一张参考影像Image (ref)，并将其储存于储存单元10’中，以供处理单元30’读取。步骤S22，摄像单元20’于待测薄膜200对应显示面板的像素排列方向上以固定的 间隔距离撷取多张检测影像Image(N)，其中N为正整数。本实施例的摄像单元20’也是每隔40个像素距离撷取一张检测影像，且每张检测影像的影像范围大小皆相同。步骤S23，处理单元30’将多张检测影像Image (N)分别与储存于储存单元10’中的参考影像Image (ref)相减，以产生多个差值影像Image_delta,如图15至图17所示。参阅图15至图17,若检测影像Image(N)中每个第一相位显示区域210及第二相位显示区域220的宽度与参考影像Image (ref)中每个第一相位显示区域210及第二相位 显不区域220的宽度相同，则两者相减后，差值影像Image_delta会成全黑画面，如图15所示，若两者之间出现偏差，即表示第一相位显示区域210或第二相位显示区域220可能因制程误差而导致其宽度不为一个像素的宽度，则差值影像Image_delta中会出现白色条纹画面，如图16所示，若检测影像Image(N)中第一相位显示区域210及第二相位显示区域220与参考影像Image (ref)中第一相位显示区域210及第二相位显示区域220位置完全交错，即偏差达一个像素距离，则差值影像Image_delta会成全白画面，如图17所示。由图15至图17可知，透过差值影像Image_delta中白色画面的比例即可判断检测影像Image(N)中第一相位显示区域210或第二相位显示区域220的实际宽度。因此参阅图12及图13，步骤S24，处理单元30’根据多个差值影像Image_delta，产生对应待测薄膜200的均匀度的偏移量。详细地来说，配合参阅图18，步骤S24还包括以下子步骤步骤S241，处理单元30’分别判断多个差值影像Image_delta的灰阶是否高于预设值，若是，则执行步骤S242，处理单元30’视差值影像Image_delta为全白画面，且控制计数单元60’计数，之后执行步骤S244 ;若否，则执行步骤S243，处理单元30’视差值影像Image_delta为全黑画面,之后执行步骤S244。步骤S244，处理单元30’将计数单元60’所计数的差值影像中全白画面的数量与检测影像Image(N)的解析度(如640X480)相除，以求得多个检测影像Image(N)中为全白画面的比例。步骤S245，处理单元30’根据多个检测影像Image(N)为全白画面的比例，产生对应比例的偏移量。在本实施例中，处理单元30’是根据如图19的全白画面比例与偏移量的对照表而产生对应的偏移量，如图19所示，其横轴为全白画面的比例，纵轴为偏移量(ym)，处理单元30’透过图19中的曲线，即可得知多少为全白画面的检测影像Image(N)的数量会造成多少偏移量，其偏移量为多个检测影像Image(N)为全白画面的比例乘上撷取影像的间隔距离。于步骤S245产生偏移量后，会执行步骤S25。步骤S25,输出单兀40’输出偏移量，以根据偏移量判断待测薄膜200的均勻度。特别说明的是，本第二实施例的薄膜检测方法相较于第一实施例，不同的是，本实施例的薄膜检测方法是先于待测薄膜200上撷取一张影像当作参考影像，并将其储存于储存单元10’中，接着再从待测薄膜200对应显示面板的像素排列方向上撷取多张检测影像Image(N)，并以参考影像为基准，与所有检测影像Image(N)相比对，其对应产生的偏移量同样能反应待测薄膜200的均匀度。此外，参阅图12、图13及图15，本实施例的参考影像Image (ref)也可以事先储存于储存单元10’中，且于步骤S21中，处理单元30’可从储存单元10’中读取参考影像Image (ref)而与检测影像Image (N)进行比较,并不以本实施例为限。
综上所述，本发明薄膜检测方法，藉由将多张检测影像50中的校准位置与参考位置相比较，以产生多个可反应待测薄膜200的均匀度的偏移值，或是将多张检测影像Image (N)与参考影像Image (ref)相比较，以产生可反应待测薄膜200的均匀度的偏移量，如此差值检测方法，可图形化待测薄膜200贴于显示面板上的表现，更精准地检测待测薄膜200，故确实能达成本发明的目的。
本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。
权利要求
1.一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该薄膜检测方法包含以下步骤 (A)读取该待测薄膜的参考位置； (B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像； (C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及 (D)输出该多个偏移值。
2.如权利要求I所述的薄膜检测方法，其特征在于，该步骤(D)是将处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。
3.如权利要求I所述的薄膜检测方法，其特征在于，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。
4.如权利要求3所述的薄膜检测方法，其特征在于，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。
5.如权利要求4所述的薄膜检测方法，其特征在于，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。
6.一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该薄膜检测方法包含以下步骤 (A)读取该待测薄膜的参考影像； (B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像； (C)将该多张检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像； (D)根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜的均匀度的偏移量'及 (E)输出该偏移量。
7.如权利要求6所述的薄膜检测方法，其特征在于，该步骤(A)是于该待测薄膜上撷取该参考影像。
8.如权利要求6所述的薄膜检测方法，其特征在于，若该差值影像的灰阶值高于该预设值，则视该差值影像为全白画面，若该差值影像的灰阶值低于该预设值，则视该差值影像为全黑画面。
9.如权利要求6所述的薄膜检测方法，其特征在于，该步骤(D)包括以下子步骤 (D-I)计算该多个差值影像的灰阶值高于预设值的数量； (D-2)将所计算的灰阶值高于预设值的差值影像的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例；及 (D-3)根据该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，产生对应该比例的偏移量。
10.一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该检测装置包含 储存单元，储存该待测薄膜的参考位置； 摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像； 处理单元,稱接于该储存单元及该摄像单元,该处理单元从该储存单元中读取该参考位置，并计算该多个检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差而对应产生多个偏移值 '及 输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该多个偏移值。
11.如权利要求10所述的检测装置，其特征在于，该输出单元将该处理单元所产生的所有偏移值以图形化的方式输出。
12.如权利要求10所述的检测装置，其特征在于，该输出单元输出该多个偏移值至检测电路，该检测电路将该多个偏移值分别与标准差值进行比较，以检测该待测薄膜。
13.如权利要求10所述的检测装置，其特征在于，该待测薄膜包括复数个相互平行且间隔排列的第一相位显示区域及第二相位显示区域，该参考位置的起始点位于其中一第一相位显示区域及其邻近的第二相位显示区域的交界位置。
14.如权利要求13所述的检测装置，其特征在于，该参考位置位于各该检测影像的中心位置。
15.如权利要求14所述的检测装置，其特征在于，该校准位置为位于各该检测影像中间区域的第一相位显示区域与第二相位显示区域的交界位置。
16.一种检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该检测装置包含 摄像单元，用以于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像； 储存单元，储存该摄像单元所撷取的参考影像； 处理单元，耦接于该储存单元及该摄像单元，该处理单元读取该待测薄膜的参考影像，且将该多个检测影像分别与该参考影像相减，以产生多个差值影像，并根据该多个差值影像，产生对应该待测薄膜均匀度的偏移量 '及 输出单元，耦接于该处理单元，用以输出该偏移量。
17.如权利要求16所述的检测装置，其特征在于，还包含耦接于该处理单元的计数单元，当该处理单元判断该多个差值影像的灰阶值高于预设值时，控制该计数单元计数，该处理单元并将该计数单元所计数的差值影像中全白画面的数量与该多个检测影像的解析度相除，以求得该多个检测影像中灰阶值高于该预设值的比例，再将根据该比例产生该偏移量。
18.如权利要求16所述的检测装置，其特征在于，该参考影像由该摄像单元于该待测薄膜上撷取，并储存于该储存单元，该处理单元再从该储存单元中读取该参考影像；或者，该参考影像预先储存于该储存单元，该处理单元于该储存单元中读取该参考影像。
全文摘要
本发明揭露了一种薄膜检测方法及检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤(A)读取待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及(D)输出该多个偏移值。本发明可图形化待测薄膜贴于显示面板上的表现，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。
文档编号G01N21/84GK102680472SQ20121013319
公开日2012年9月19日 申请日期2012年5月2日 优先权日2012年5月2日
发明者洪群泰, 黄献颐 申请人:明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司