专利名称：一种zeta电位仪的数字光学系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及^TA电位仪，尤其涉及一种^TA电位仪的数字光学系统。
背景技术：
胶体是一种颗粒分散在流体中的悬浮体系，通常颗粒的直径小于10微米，许多体 系均属于胶体，如油漆、墨水、牛奶、血液，以及许多药品和食品。胶体颗粒是带有电荷的，可 通过很多手段来控制其电荷，如调节PH值，改变电解质浓度等，每一个颗粒均被带相反电 荷的离子扩散云所包围，ZETA电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量。采用电 泳法来测量^ta电位的^ta电位仪被用来测量胶体颗粒的表面电性及电压，电位仪通过 数字光学系统观察的方法可以测量胶体颗粒表面的电性及电压的大小，但是目前一般的数 字光学系统只是能观察到0. 5 μ m以上的颗粒，而无法观察到0. 5 μ m以下的颗粒。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种^TA电位仪的数字光学系统，解决 现有的光学系统无法观察到0. 5 μ m以下的颗粒的缺陷。技术方案一种^TA电位仪的数字光学系统，包括样品池和电极，其特征是在样品池一侧 对着样品池内有发光系统，在样品池另一侧，与发光系统对应有光源接收和解析系统，所述 发光系统包括紫光LED灯，和与所述紫光LED灯连接的电源，所述光源接收和解析系统包 括对紫光敏感的CCD图像传感器，和与所述CCD图像传感器连接的高解析度图像处理器，所 述CCD图像传感器与所述紫光LED灯位置对应，接收紫光LED灯发出的紫光。所述紫光LED灯前安装有聚光旋钮。所述紫光LED灯设置有亮度调节装置。所述样品池设置在可进行位置调整的三维平台上。有益效果本实用新型的^TA电位仪的数字光学系统，以紫光LED灯为光源，利用高解析度 的光学传感器和处理器，并利用三维平台选择样品池的最佳位置，从光源选择、接收处理及 位置定位三方面的设计实现了在电位仪测试中可以观察到更小的颗粒的目标，提升了现在 的光学观察系统的精度，有利于测试的精确性。

图1为本实用新型示意图。其中1-样品池，2-电极，3-紫光LED灯，4-电源，5-CXD图像传感器，6_高解析度 图像处理器，7-聚光旋钮，8-亮度调节装置，9-三维平台。
具体实施方式
下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。一种^TA电位仪的数字光学系统，包括样品池1和电极2，在样品池1 一侧对着样 品池1内有发光系统，在样品池1另一侧，与发光系统对应有光源接收和解析系统，所述发 光系统包括紫光LED灯3，和与所述紫光LED灯3连接的电源4，所述光源接收和解析系统 包括对紫光敏感的CCD图像传感器5，和与所述CCD图像传感器5连接的高解析度图像处理 器6，所述CCD图像传感器5与所述紫光LED灯3位置对应，接收紫光LED灯3发出的紫光。所述紫光LED灯3前安装有聚光旋钮7。所述紫光LED灯3设置有亮度调节装置8。所述样品池1设置在可进行位置调整的三维平台9上。当测试时将样品放进样品池1里，把电极2插入到样品池1中，通过三维平台9来 调节样品池1的空间位置便于观察，使CCD图像传感器5能观察到样品池1里的胶体颗粒。使用本实用新型的数字光学观察系统，能够观察到大小在IOOnm 0. 5 μ m之间的颗粒。
权利要求1.一种观TA电位仪的数字光学系统，包括样品池(1)和电极O)，其特征是在样品池 (1) 一侧对着样品池(1)内有发光系统，在样品池(1)另一侧，与发光系统对应有光源接收 和解析系统，所述发光系统包括紫光LED灯(3)，和与所述紫光LED灯( 连接的电源， 所述光源接收和解析系统包括对紫光敏感的CCD图像传感器(5)，和与所述CCD图像传感器 (5)连接的高解析度图像处理器(6)，所述CXD图像传感器( 与所述紫光LED灯位置 对应，接收紫光LED灯C3)发出的紫光。
2.如权利要求1所述的^TA电位仪的数字光学系统，其特征是所述紫光LED灯(3) 前安装有聚光旋钮(7)。
3.如权利要求1或2所述的^TA电位仪的数字光学系统，其特征是所述紫光LED灯 (3)设置有亮度调节装置(8)。
4.如权利要求1所述的^TA电位仪的数字光学系统，其特征是所述样品池(1)设置 在可进行位置调整的三维平台(9)上。
专利摘要本实用新型涉及一种ZETA电位仪，属于ZETA电位测试领域。一种ZETA电位仪的数字光学系统，包括样品池(1)和电极(2)，其特征是在样品池(1)一侧对着样品池(1)内有发光系统，在样品池(1)另一侧，与发光系统对应有光源接收和解析系统，所述发光系统包括紫光LED灯(3)，和连接的所述紫光LED灯(3)的电源(4)，所述光源接收和解析系统包括对紫光敏感的CCD图像传感器(5)，和连接的对应所述CCD图像传感器(5)的高解析度图像处理器(6)，所述CCD图像传感器(5)与所述紫光LED灯(3)位置对应，接收紫光LED灯(3)发出的紫光。本实用新型的ZETA电位仪的数字光学系统，实现了在电位仪测试中可以观察到更小的颗粒的目标，提升了光学系统的精度。
文档编号G01N21/88GK201819888SQ20102015251
公开日2011年5月4日 申请日期2010年4月2日 优先权日2010年4月2日
发明者吴骏逸, 杨海华, 梅坚, 陈鲁铁 申请人:上海中晨数字技术设备有限公司