专利名称：一种通电可靠性测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电子电路的可靠性测试验证领域，尤其涉及一种通电可靠性测试系统。
背景技术：
当前的电子产品在出厂前，需要进行通电可靠性测试，通过模拟突发停电或掉电、以及频繁上下电等情况，来评估电子产品的各种通电状况下的运行稳定性，以此及时发现广品可能存在的潜在隐患。现有技术通过可编程定时器产生定时触发信号，来实现对电子产品的通电可靠性测试。可编程定时器又分为家居应用的定时器和企业应用的定时器。对家居应用的定时器而言，当其进行测试时，最短设置时间是分钟级；对企业应用的定时器而言，通过将几个定·时计时器集成，可设置小时级、分钟级、秒级，最短设置时间是秒级。然而对于电子产品最小系统中的各被测电路而言，从电源输入被测电路到被测电路完成上电的时间是毫秒级的，因此应用现有技术提供的可编程定时器仅能实现对最小系统中的各被测电路的冷启动或热启动的测试，而无法完成对最小系统中的各被测电路频繁上下电的测试。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种通电可靠性测试系统，旨在解决现有技术提供的通电可靠性测试系统由于可编程定时器的最短设置时间级别是秒级或分钟级，不适用于对上电时间是毫秒级的被测电路进行频繁上下电的测试的问题。本实用新型是这样实现的，一种通电可靠性测试系统，所述系统包括串联在相应被测电路组供电通路上的至少一个测试单元组，所述被测电路组包括至少一个被测电路，所述测试单元组包括串联在相应所述被测电路组供电通路上的至少一个测试单元；通过数据线连接所述测试单元组，根据用户的设置指令控制相应所述测试单元的开关状态、以控制相应所述被测电路上电与否的上位机。进一步地，所述上位机可以包括接收用户的所述设置指令并发出控制相应所述测试单元开关状态的控制信号的控制平台；连接所述控制平台的数据采集卡；连接所述数据采集卡，将所述控制平台发出的所述控制信号发送给相应所述测试单元的第一接口，所述第一接口通过所述数据线连接所述测试单元组。更近一步地，所述控制平台可以是基于Labview的控制平台。同时，所述第一接口可以是PCI-E接口。上述通电可靠性测试系统中，所述测试单元可以包括[0016]通过所述数据线连接所述上位机的第二接口 ；连接所述第二接口并串联在相应所述被测电路组供电通路上，由所述上位机通过所述第二接口控制开关状态、以控制相应所述被测电路上电与否的至少一个通电切换单
J Li ο进一步地,所述第二接口可以是通用接口总线接口。同时，所述通电切换单元可以是继电器单元。此时，所述至少一个测试单元组可以集成于一 ATE测试板。此时，进一步地，所述通电切换单元可以包括继电器J ;所述继电器J中线圈的一端连接一直流电，所述继电器J中线圈的另一端连接所述第二接口；所述继电器J的开关是 一双联开关，所述双联开关中两个开关的动触点均连接所述被测电路的供电单元，所述双联开关中两个开关的常闭触点悬空，所述双联开关中两个开关的常开触点连接所述被测电路。更近一步地，所述通电切换单元还可以包括电阻Rl和发光二极管Dl ;所述发光二极管Dl的阳极通过所述电阻Rl连接一直流电，所述发光二极管Dl的阴极连接所述第二接口。由于本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统是采用上位机控制方式，用户可以通过上位机选择相应测试单元组以及对应的通电可靠性测试项目，并对通电可靠性测试项目的时间参数进行设置，相对于现有可编程定时器，可设置的时间级别达到毫秒级，因而可实现对电子产品最小系统中的各被测电路进行频繁上下电的测试；另外，当该通电可靠性测试系统包括有多个测试单元组时，可以设置不同的测试单元组进行不同的测试项目，可实现各测试组的独立控制，拓展了系统的应用功能。

图I是本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统的结构图；图2是图I中上位机与测试单元的具体结构图；图3是图2中通电切换单元122的一种电路图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。针对现有技术存在的问题，本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统是由上位机根据用户的设置，控制串联在被测电路供电通路上的相应测试单元的开关状态，以控制被测电路上电与否，实现对被测电路的通电可靠性测试。图I示出了本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统的结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分。本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统包括串联在相应被测电路组供电通路上的至少一个测试单元组12 ;通过数据线连接测试单元组12，根据用户的设置指令控制相应测试单元组12中相应测试单元的开关状态、以控制相应被测电路组中相应被测电路上电与否的上位机11。其中的被测电路组包括有至少一个被测电路，该被测电路可以是直流输入电路或交流输入电路(如电源适配器等);相应地，其中的测试单元组12包括串联在相应被测电路供电通路上的至少一个测试单元。该至少一个测试单元组12优选地集成于一自动测试设备(Automatic Test Equipment, ATE)测试板上。当采用该通电可靠性测试系统对被测电路进行通电可靠性测试时，用户通过上位机11选取被测电路对应的测试单元地址，并选择所需的通电可靠性测试项目，如频繁上下电测试、定时开关机测试、冷启动测试或热启动测试等；之后设置选择的测试项目的时间参数，如上电时间、下电时间、上下电次数、单次测试或循环测试等。上位机11根据用户的设置，向相应的测试单元组12中的相应测试单元发出控制信号，控制相应测试单元按照设置的时间参数执行开关动作，完成对被测电路的单次通电可靠性测试或循环通电可靠性测试。由于本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统是采用上位机11控制方式，用户可以通过上位机选择相应测试单元组12以及对应的通电可靠性测试项目，并对通电 可靠性测试项目的时间参数进行设置，相对于现有可编程定时器，可设置的时间级别达到毫秒级，因而可实现对电子产品最小系统中的各被测电路进行频繁上下电的测试；另外，当该通电可靠性测试系统包括有多个测试单元组12时，可以设置不同的测试单元组12进行不同的测试项目，如利用一测试单元组12对被测电路组进行频繁上下电测试；利用另一测试单元组12对被测电路组进行定时开关机测试；利用再一测试单元组12对被测电路组进行冷启动测试；利用再一测试单元组12对被测电路组进行热启动测试，可实现各测试组的独立控制，拓展了系统的应用功能。图2以一个测试单元组12为例，示出了图I中上位机11与测试单元组12的具体结构。上位机11可以包括接收用户的设置指令并发出控制相应测试单元开关状态的控制信号的控制平台111 ;连接控制平台111的数据采集卡113 ;连接数据采集卡113，将控制平台111发出的控制信号发送给相应测试单元的第一接口 113，第一接口 113通过数据线连接测试单元组12。优选地,控制平台111是基于Labview的控制平台；第一接口 113是PCI-E 接口。测试单元可以包括通过数据线连接上位机11的第二接口 121;连接第二接口121并串联在相应被测电路供电通路上，由上位机11通过第二接口 121控制开关状态、以控制相应被测电路上电与否的至少一个通电切换单元122，每一通电切换单元122与第二接口 121的组合构成一测试单元。优选地，第二接口121 是通用接口总线(General-Purpose Interface Bus, GPIB)接口 ；通电切换单元122是继电器单元。图3以通电切换单元122是继电器单元时，示出了通电切换单元122的一种电路。具体地，通电切换单元122可以包括继电器J，继电器J中线圈的一端连接+5V直流电，继电器J中线圈的另一端连接第二接口 121 ;继电器J的开关是一双联开关，双联开关中两个开关的动触点均连接被测电路的供电单元，双联开关中两个开关的常闭触点悬空，双联开关中两个开关的常开触点连接被测电路。该通电切换单元122的电路在工作时，在上电时间内，上位机11通过第二接口 121发送低电平控制信号，使得继电器J的线圈上电，带动继电器J的开关闭合，则供电单元向被测电路供电；在下电时间内，上位机11通过第二接口 121发送高电平控制信号，使得继电器J的线圈失电，带动继电器J的开关断开，则供电单元停止向被测电路供电。进一步地，通电切换单元122还可以包括电阻Rl和发光二极管D1。发光二极管Dl的阳极通过电阻Rl连接+5V直流电，发光二极管Dl的阴极连接第二接口 121。则上位机11在通过第二接口 121发送低电平控制信号时，发光二极管Dl同时发光，以提供当前继电器J的工作状态。由于本实用新型实施例提供的通电可靠性测试系统是采用上位机11控制方式，用户可以通过上位机选择相应测试单元组12以及对应的通电可靠性测试项目，并对通电可靠性测试项目的时间参数进行设置，相对于现有可编程定时器，可设置的时间级别达到毫秒级，因而可实现对电子产品最小系统中的各被测电路进行频繁上下电的测试；另外，当该通电可靠性测试系统包括有多个测试单元组12时，可以设置不同的测试单元组12进行不同的测试项目，如利用一测试单元组12对被测电路组进行频繁上下电测试；利用另一测试单元组12对被测电路组进行定时开关机测试；利用再一测试单元组12对被测电路组·进行冷启动测试；利用再一测试单元组12对被测电路组进行热启动测试，可实现各测试组的独立控制，拓展了系统的应用功能。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种通电可靠性测试系统，其特征在于，所述系统包括 串联在相应被测电路组供电通路上的至少一个测试单元组，所述被测电路组包括至少一个被测电路，所述测试单元组包括串联在相应所述被测电路组供电通路上的至少一个测试单元； 通过数据线连接所述测试单元组，根据用户的设置指令控制相应所述测试单元的开关状态、以控制相应所述被测电路上电与否的上位机。
2.如权利要求I所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述上位机包括 接收用户的所述设置指令并发出控制相应所述测试单元开关状态的控制信号的控制平台； 连接所述控制平台的数据采集卡； 连接所述数据采集卡，将所述控制平台发出的所述控制信号发送给相应所述测试单元的第一接口，所述第一接口通过所述数据线连接所述测试单元组。
3.如权利要求2所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述控制平台是基于Labview的控制平台。
4.如权利要求2所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述第一接口是PCI-E接□。
5.如权利要求I至4任一项所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述测试单元包括 通过所述数据线连接所述上位机的第二接口； 连接所述第二接口并串联在相应所述被测电路组供电通路上，由所述上位机通过所述第二接口控制开关状态、以控制相应所述被测电路上电与否的至少一个通电切换单元。
6.如权利要求5所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述第二接口是通用接口总线接口。
7.如权利要求5所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述通电切换单元是继电 器单元。
8.如权利要求7所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述至少一个测试单元组集成于一 ATE测试板。
9.如权利要求7所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述通电切换单元包括继电器J ; 所述继电器J中线圈的一端连接一直流电，所述继电器J中线圈的另一端连接所述第二接口 ；所述继电器J的开关是一双联开关，所述双联开关中两个开关的动触点均连接所述被测电路的供电单元，所述双联开关中两个开关的常闭触点悬空，所述双联开关中两个开关的常开触点连接所述被测电路。
10.如权利要求9所述的通电可靠性测试系统，其特征在于，所述通电切换单元还包括电阻Rl和发光二极管Dl ； 所述发光二极管Dl的阳极通过所述电阻Rl连接一直流电，所述发光二极管Dl的阴极连接所述第二接口。
专利摘要本实用新型适用于电子电路的可靠性测试验证领域，提供了一种通电可靠性测试系统，包括串联在相应被测电路组供电通路上的至少一个测试单元组，被测电路组包括至少一个被测电路，测试单元组包括串联在相应被测电路供电通路上的至少一个测试单元；通过数据线连接测试单元组的上位机。该系统采用上位机控制方式，用户通过上位机选择相应测试单元组以及对应的通电可靠性测试项目，并对项目的时间参数进行设置，相对于现有可编程定时器，可设置的时间级别达到毫秒级，因而可实现对电子产品最小系统中的各被测电路进行频繁上下电的测试；另外，当该通电可靠性测试系统包括有多个测试单元组时，可设置不同的测试单元组进行不同的测试项目。
文档编号G01R31/00GK202710672SQ20122016573
公开日2013年1月30日 申请日期2012年4月18日 优先权日2012年4月18日
发明者陈吉 申请人:深圳市宏电技术股份有限公司