专利名称：一种相位测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电子技术领域，涉及一种相位测量仪。
背景技术：
相位测量技术的研究由来已久，最早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随后在电气及电力方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已比较完善， 测量方法及理论也较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化，广泛应用于测量RC，LC网络、 放大器相频特性以及依靠信号相位传递信息等方面的电子设备。

实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种相位测量仪。本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案是一种相位测量仪，其特征在于，包括整形电路、FPGA、MCU、显示装置；所述的整形电路的输出端连接FPGA的输入端，所述FPGA的输出端连接MCU的输入端，所述MCU的输出端连接显示装置的输入端。本实用新型的有益效果有本实用新型很好地发挥了 FPGA运算速度快、资源丰富、编程方便的特点，并利用了单片机较强的运算、控制功能，使得整个系统模块化、硬件电路简单、使用操作方便，具有体积小、性价比高、性能稳定的特点。

图1为本实用新型实施例1的相位测量仪的原理方框图。
具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。实施例1 如图1所示，待测信号A、待测信号B经整形电路处理后，变为矩形波，不妨令其为 Al、Bi。可以认为Al、Bl是两个同频率的有相位差的两个矩形波，FPGA通过对整形后的信号Al、Bl的处理，要获得以二进制形式表示的信号频率以及相位差对应的时间差。对频率的测量采用测周期的方法，即在信号周期T时间内，对时标信号进行计数，MCU要完成的任务有3个方面一是从FPGA获得19位的二进制数据，并控制FPGA的工作；二是对所获得的数据进行处理；三是将经过处理后的数据送给LED数码管显示。
权利要求1. 一种相位测量仪，其特征在于，包括整形电路、FPGA、MCU、显示装置；所述的整形电路的输出端连接FPGA的输入端，所述FPGA的输出端连接MCU的输入端，所述MCU的输出端连接显示装置的输入端。
专利摘要本实用新型公开了一种相位测量仪，包括整形电路、FPGA、MCU、显示装置；所述的整形电路的输出端连接FPGA的输入端，所述FPGA的输出端连接MCU的输入端，所述MCU的输出端连接显示装置的输入端。本实用新型很好地发挥了FPGA运算速度快、资源丰富、编程方便的特点，并利用了单片机较强的运算、控制功能，使得整个系统模块化、硬件电路简单、使用操作方便。
文档编号G01R25/08GK202033421SQ20112004026
公开日2011年11月9日 申请日期2011年2月10日 优先权日2011年2月10日
发明者林愿 申请人:湖南工程学院