专利名称：一种化学芯片分析装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种对无机物和有机物进行定性、定量的成分分析装置，尤其涉 及一种化学芯片分析装置。
背景技术：
目前，对无机物金属阳离子的分析多采用原子吸收光谱分析法和发射光谱分析 法，而对无机物(金属阳离子、阴离子)、有机物(醇、酚、醚、醛、酮、羧酸、糖、氨基酸、蛋白质 等成分)的分析也多是采用普通化学和仪器分析的方法。分析成本高和缺乏高通量，受操 作技术水平影响因素也很大。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种结构简单、成本低的化学芯片分析装置。为解决上述问题，本实用新型所述的一种化学芯片分析装置，包括化学芯片检测 仪，其特征在于该装置还包括置于所述化学芯片检测仪中、呈长方形的化学芯片片基；所 述化学芯片片基的正面设有阵列孔窝反应点/处，该阵列孔窝反应点/处内均添加有反应 底物；与所述阵列孔窝反应点/处相对应的所述化学芯片片基的背面设有荧光物质点/处， 该荧光物质点/处设有荧光物质。所述化学芯片检测仪设有波长范围为300 500nm、光源直径1 5mm的激光光源。本实用新型与现有技术相比具有以下优点1、由于本实用新型中设有阵列孔窝反应点/处，该阵列孔窝反应点/处可添加不 同梯度的反应底物，同时相应的荧光物质点/处添加有荧光物质，因此，可使被检样品产生 多成分、高通量、大规模、标准化的检测效果。2、本实用新型结构简单、成本低廉，可适用于对无机物(金属阳离子、阴离子)、有 机物(醇、酚、醚、醛、酮、羧酸、糖、氨基酸、蛋白质等成分)高通量的定性、定量检测。
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细的说明。

图1为本实用新型中的化学芯片片基侧视图。图2为本实用新型中的化学芯片片基主视图。图中1-化学芯片片基2-阵列孔窝反应点/处3-荧光物质点/处
具体实施方式如图1、图2所示，一种化学芯片分析装置，包括化学芯片检测仪和置于化学芯片 检测仪中、呈长方形的化学芯片片基1。[0014]化学芯片片基1的正面设有阵列孔窝反应点/处2，该阵列孔窝反应点/处2内均 添加有反应底物；与阵列孔窝反应点/处2相对应的化学芯片片基1的背面设有荧光物质 点/处3，该荧光物质点/处3设有荧光物质。其中化学芯片检测仪设有波长范围为300 500nm、光源直径1 5mm的激光光源。如图2所示，可化学芯片片基1的正面采用阵列为13X5，在阵列横向位置由A M的13个字母表示，其纵向位置由a e的5个字母表示。
权利要求1.一种化学芯片分析装置，包括化学芯片检测仪，其特征在于该装置还包括置于所 述化学芯片检测仪中、呈长方形的化学芯片片基(1)；所述化学芯片片基(1)的正面设有阵 列孔窝反应点/处O)，该阵列孔窝反应点/处O)内均添加有反应底物；与所述阵列孔窝 反应点/处( 相对应的所述化学芯片片基(1)的背面设有荧光物质点/处(3)，该荧光物 质点/处C3)设有荧光物质。
2.如权利要求1所述的一种化学芯片分析装置，其特征在于所述化学芯片检测仪设 有波长范围为300 500nm、光源直径1 5mm的激光光源。
专利摘要本实用新型涉及一种化学芯片分析装置，包括化学芯片检测仪，其特征在于该装置还包括置于所述化学芯片检测仪中、呈长方形的化学芯片片基；所述化学芯片片基的正面设有阵列孔窝反应点/处，该阵列孔窝反应点/处内均添加有反应底物；与所述阵列孔窝反应点/处相对应的所述化学芯片片基的背面设有荧光物质点/处，该荧光物质点/处设有荧光物质。本实用新型结构简单、成本低廉，可使被检样品产生多成分、高通量、大规模、标准化的检测效果。
文档编号G01N21/64GK201867371SQ20102061577
公开日2011年6月15日 申请日期2010年11月16日 优先权日2010年11月16日
发明者曹越, 索有瑞 申请人:中国科学院西北高原生物研究所