专利名称：距离量测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种量测装置，尤其涉及一种距离量测装置。
背景技术：
在各种电子产品的评估标准中，举凡个人电脑、电视、音响等各类影音家电，电磁 相容性(electromagnetic compatibility,EMC)是一个关键的品质指标。由于电子装置的 信号传输速度愈来愈快，以至于设置于电子装置内部的电子元件，其本身所造成的电磁干 扰会更加严重，进而影响电子装置的正常运作。因此，在现代先进的国家中，电磁相容性的 评估报告愈来愈受重视。量测EMC的方法是根据国际电工委员会(International ElectrotechnicalCommission, IEC)所公布的规范作为参考依据，此规范中说明远场测试 标准是在距离受测物10米处，量测受测物的电磁波场强值。测试设备需包含分别用以发射 及接收电磁波的天线，在进行测试时，需对所述两天线进行定位，以使两天线之间具有特定 距离以符合所述规范。若以人工方法使用米尺量测两天线之间的距离来进行校准，易产生 量测不准确的问题。

实用新型内容本实用新型提供一种距离量测装置，可准确量测两天线之间的距离。本实用新型提出一种距离量测装置，适于对第一天线与第二天线之间的距离进行 校准。距离量测装置包括第一校准元件、第一激光光源、第二激光光源、第二校准元件、第三 激光光源、角度调整元件及第四激光光源。第一激光光源配置于第一校准元件，其中第一激 光光源沿垂直于参考平面的第一轴线发出光线至第一天线的相位中点。第二激光光源配置 于第一校准元件，其中第二激光光源沿第一轴线发出光线至参考平面上的第一位置。第三 激光光源配置于第二校准元件，其中第三激光光源沿垂直于参考平面的第二轴线发出光线 至第二天线的相位中点。角度调整元件枢设于第二校准元件。第四激光光源配置于角度调 整元件，其中第四激光光源沿第三轴线发出光线至参考平面上的第一位置。在本实用新型的一实施例中，上述的距离量测装置更包括第五激光光源及第六激 光光源。第五激光光源配置于第一校准元件，其中第五激光光源沿垂直于参考平面的第四 轴线发出光线至第一天线上的第二位置。第六激光光源配置于第二校准元件，其中第六激 光光源沿垂直于参考平面的第五轴线发出光线至第二天线上的第三位置，第一天线的相位 中点、第二天线的相位中点、第二位置及第三位置共线。在本实用新型的一实施例中，上述的第一校准元件具有光源承载结构，其中第一 激光光源及第二激光光源分别配置于光源承载结构相对的两侧。在本实用新型的一实施例中，上述的角度调整元件沿转轴枢接于第二校准元件， 转轴通过且垂直第二轴线。在本实用新型的一实施例中，上述的转轴通过且垂直第三轴线。[0010]基于上述，本实用新型的角度调整元件可配置于第二校准元件上的特定位置，以 使角度调整元件与参考平面之间具有特定距离。角度调整元件可相对第二校准元件枢转而 调整第四激光光源发出的光线与参考平面之间的夹角。在所述特定距离与夹角为已知的情 况下，可通过三角函数算出第一轴线与第二轴线之间的距离，并可将第一轴线与第二轴线 分别对位于第一天线的相位中点与第二天线的相位中点，以将第一天线的相位中点与第二 天线的相位中点之间的距离准确地调整至正确值。为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附 图式作详细说明如下。

[0012]图1为本实用新型--实施例的距离量测装置的示意图。[0013]附图标记[0014]50 第一天线；52、62 相位中点；60 第二天线；[0015]100 距离量测装置110:第一校准元件；112:光源承载结构[0016]120 第二校准元件130 第一激光光源；140 第二激光光源[0017]150 第三激光光源160 第四激光光源；170 角度调整元件[0018]180 第五激光光源190 第六激光光源；Al 第一轴线；[0019]A2 第二轴线；A3 第三轴线；Α4:第四轴线；[0020]A5 第五轴线；A6 转轴；D1、D2 距离；[0021]Ll 第一位置；L2 第二位置；L3 第三位置；[0022]P 参考平面；θ 夹角。
具体实施方式
图1为本实用新型一实施例的距离量测装置的示意图。请参考图1，本实施例的距 离量测装置100适于对第一天线50与第二天线60之间的距离进行校准。第一天线50与 第二天线60例如为电磁相容性(electromagneticcompatibilityJMC)测试中分别用以发 射及接收电磁波的天线。距离量测装置100包括第一校准元件110、第二校准元件120、第 一激光光源130、第二激光光源140、第三激光光源150、第四激光光源160及角度调整元件 170。第一激光光源130配置于第一校准元件110，其中第一激光光源130沿垂直于参考 平面P的第一轴线Al发出光线至第一天线50的相位中点52。第二激光光源140配置于第 一校准元件110，其中第二激光光源140沿第一轴线Al发出光线至参考平面P上的第一位 置Li。第三激光光源150配置于第二校准元件120，其中第三激光光源150沿垂直于参考 平面P的第二轴线A2发出光线至第二天线60的相位中点62。角度调整元件170枢设于第 二校准元件120。第四激光光源160配置于角度调整元件170，其中第四激光光源160沿第 三轴线A3发出光线至参考平面P上的第一位置Li。通过上述配置方式，可对第一天线50的相位中点52及第二天线60的相位中点62 之间的距离进行校正。举例来说，在使用者将第一天线50与第二天线60置放于参考平面 P之后，可将第一校准元件110及第二校准元件120摆放至图1所示位置，而将第一激光光源130发出的光线(重合于第一轴线Al)对准第一天线50的相位中点52，并将第三激光光 源150发出的光线(重合于第二轴线A2)对准第二天线60的相位中点62。接着，相对第二校准元件120转动角度调整元件170，以调整第四激光光源160的 出光方向，使第四激光光源160发出的光线(重合于第三轴线A3)对准参考平面P上的第 一位置Li。由于第二轴线A2与第三轴线A3之间的夹角θ可由角度调整元件170相对第 二校准元件120的转动角度而得知，且角度调整元件170所在位置(第二轴线Α2与第三轴 线A3的交点)与参考平面P之间的距离Dl可通过角度调整元件170的配置位置而确定， 因此第一天线50的相位中点52与第二天线60的相位中点62之间的距离D2 (第一轴线Al 与第二轴线Α2之间的距离)可通过三角函数计算而得。计算式例如为tan θ = D2/D1。此时，若第一天线50的相位中点52与第二天线60的相位中点62之间的距离D2 为使用者所预期的正确值(例如10米)，则可通过第一天线50与第二天线60开始进行电 磁相容性(electromagnetic compatibility,EMC)测试。另一方面，若第一天线50的相位 中点52与第二天线60的相位中点62之间的距离D2不是使用者所预期的正确值，则可调 整第一天线50与第二天线60之间的距离，并相应地调整第一校准元件110的位置、第二校 准元件120的位置及角度调整元件170的枢转角度，直到计算出的距离D2为使用者所预期 的正确值。当然，使用者亦可在确定第一校准元件110的位置、第二校准元件120的位置及角 度调整元件170的枢转角度所得出的距离D2为正确值后，再将第一天线50的相位中点52 对位于第一激光光源130发出的光线，并将第二天线60的相位中点62对位于第三激光光 源150发出的光线，以确定第一天线50的相位中点52与第二天线60的相位中点62之间 的距离为使用者所预期的正确值。详细而言，在本实施例中，距离量测装置100更包括第五激光光源180及第六激光 光源190。第五激光光源180配置于第一校准元件110，其中第五激光光源180沿垂直于参 考平面P的第四轴线A4发出光线至第一天线50上的第二位置L2。第六激光光源190配置 于第二校准元件120，其中第六激光光源190沿垂直于参考平面P的第五轴线A5发出光线 至第二天线60上的第三位置L3。通过第一激光光源130、第三激光光源150、第五激光光源 180及第六激光光源190所发出的光线的定位，将第一天线50的相位中点52、第二天线60 的相位中点62、第二位置L2及第三位置L3控制为共线，可确保第一天线50与第二天线60 彼此正对。更详细而言，在本实施例中，第一校准元件110具有光源承载结构112，第一激光 光源130及第二激光光源140分别配置于光源承载结构112相对的两侧，以沿第一轴线Al 往相反的方向分别射至第一天线50的相位中点52及参考平面P上的第一位置Li。此外，本实施例的角度调整元件170沿转轴A6枢接于第二校准元件120，其中转轴 A6通过第二轴线A2并垂直第二轴线A2，且转轴A6通过第三轴线A3并垂直第三轴线A3。 如此可使角度调整元件170的轴心与参考平面P之间的距离即为所述距离D1，而角度调整 元件170与第二校准元件120之间的夹角即为第二轴线A2与第三轴线A3之间的夹角θ， 藉此可使距离Dl与夹角θ的取得较为方便。综上所述，本实用新型的角度调整元件可配置于第二校准元件上的特定位置，以 使角度调整元件与参考平面之间具有特定距离。角度调整元件可相对第二校准元件枢转而调整第四激光光源发出的光线与参考平面之间的夹角。在所述特定距离与夹角为已知的情 况下，可通过三角函数算出第一轴线与第二轴线之间的距离，并可将第一轴线与第二轴线 分别对位于第一天线的相位中点与第二天线的相位中点，以将第一天线的相位中点与第二 天线的相位中点之间的距离准确地调整至正确值。此外，通过第一激光光源、第三激光光 源、第五激光光源及第六激光光源所发出的光线的定位，将第一天线的相位中点、第二天线 的相位中点、第一天线上的第二位置及第二天线上的第三位置控制为共线，可确保第一天 线与第二天线彼此正对。 虽然本实用新型已以实施例揭示如上，但其并非用以限定本实用新型，任何所属 技术领域的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许更动与润饰，故本 实用新型的保护范围当以权利要求所界定的范围为准。
权利要求一种距离量测装置，适于对一第一天线与一第二天线之间的距离进行校准，该距离量测装置包括一第一校准元件；一第一激光光源，配置于该第一校准元件，其中该第一激光光源沿垂直于一参考平面的一第一轴线发出光线至该第一天线的相位中点；一第二激光光源，配置于该第一校准元件，其中该第二激光光源沿该第一轴线发出光线至该参考平面上的一第一位置；一第二校准元件；一第三激光光源，配置于该第二校准元件，其中该第三激光光源沿垂直于该参考平面的一第二轴线发出光线至该第二天线的相位中点；一角度调整元件，枢设于该第二校准元件；以及一第四激光光源，配置于该角度调整元件，其中该第四激光光源沿一第三轴线发出光线至该参考平面上的该第一位置。
2.根据权利要求1所述的距离量测装置，其特征在于，更包括一第五激光光源，配置于该第一校准元件，其中该第五激光光源沿垂直于该参考平面 的一第四轴线发出光线至该第一天线上的一第二位置；以及一第六激光光源，配置于该第二校准元件，其中该第六激光光源沿垂直于该参考 平面的一第五轴线发出光线至该第二天线上的一第三位置，该第一天线的相位中点、该第 二天线的相位中点、该第二位置及该第三位置共线。
3.根据权利要求1所述的距离量测装置，其特征在于，其中该第一校准元件具有一光 源承载结构，其中该第一激光光源及该第二激光光源分别配置于该光源承载结构相对的两 侧。
4.根据权利要求1所述的距离量测装置，其特征在于，其中该角度调整元件沿一转轴 枢接于该第二校准元件，该转轴通过且垂直该第二轴线。
5.根据权利要求4所述的距离量测装置，其特征在于，其中该转轴通过且垂直该第三 轴线。
专利摘要本实用新型提供一种距离量测装置，包括第一与第二校准元件、第一至第四激光光源及角度调整元件。第一激光光源配置于第一校准元件。第一激光光源沿垂直于参考平面的第一轴线发出光线至第一天线的相位中点。第二激光光源配置于第一校准元件。第二激光光源沿第一轴线发出光线至参考平面上的第一位置。第三激光光源配置于第二校准元件。第三激光光源沿垂直于参考平面的第二轴线发出光线至第二天线的相位中点。角度调整元件枢设于第二校准元件。第四激光光源配置于角度调整元件。第四激光光源沿第三轴线发出光线至参考平面上的第一位置。
文档编号G01C3/00GK201716018SQ20102023161
公开日2011年1月19日 申请日期2010年6月17日 优先权日2010年6月17日
发明者刘宏彻, 徐昭娣, 朱研, 王万祥 申请人:英业达股份有限公司