专利名称：集成电路开短路测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路测试系统，尤其涉及一种集成电路开短路测试系统。
背景技术：
集成电路开短路测试是基于欧姆定律，用来确定集成电路连接性的测试方法。它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否漏焊。这项测试保证测试接口与集成电路正常连接，接触测试通过测量输入输出管脚上保护二极管的自然压降来确定连接性。集成电路开短路测试分正向开/短路测试和负向开/短路测试。一般芯片的每个引脚都有保护电路，是两个首尾相接的二极管，一端接正向电源，一端接负极。信号是从两个二极管的接点进来。在对集成电路测试时，先把芯片的正向电源引脚接0伏(或接地)，再给每个芯片引脚供给一个ΙΟΟμΑ从测试机到芯片的电流信号，电流信号经上端二极管流向正向电源 (0伏)，然后测引脚的电压，正常的值应该是一个二极管的偏差电压0. 7伏左右，设上限为 1. 5伏，下限为0. 2伏，大于1. 5伏判断为开路不良，小于0. 2伏判断为短路不良。这就是正向开/短路测试。负向开/短路测试的原理基本相同。同样先把正向电源接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流，电流由负极经下端二级管流向测试机。然后测引脚的电压，同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0. 7伏左右，只是电压方向相反，上限还是为1. 5伏，下限为 0. 2伏，大于1. 5伏判断为开路，小于0. 2伏判断为短路。这就是负向开/短路测试。传统的开短路测试机一般只有全测模式，测试集成电路时必须将所有引脚全部测完才会停止测试并发送测试结果，不能实时显示出具体不良信息，在测试集成电路过程中无法显示出具体开路或短路之引脚数，不能统计出每个引脚的开路或短路次数。

实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种集成电路开短路测试系统，能实时显示集成电路测试中的异常信息，统计集成电路引脚开短路次数。为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是提供一种集成电路开短路测试系统，包括电源模块、测试模块、统计模块、控制模块和显示模块；所述电源模块连接集成电路芯片，所述测试模块的受控端连接所述控制模块，测试模块的测量端连接所述集成电路芯片，测试模块的输出端连接所述统计模块，所述统计模块连接所述显示模块。其中，所述控制模块还具有与上位机电脑连接通信的接口。其中，所述测试系统还包括TTL通信模块，所述TTL通信模块与所述控制模块连接。其中，所述控制模块为单片机。本实用新型的有益效果是区别于现有技术的测试机不能实时显示集成电路测试不良信息，本实用新型的集成电路开短路测试系统测试模块对集成电路芯片的引脚进行测试，统计模块记录集成电路测试不合格的引脚并统计该引脚开路或短路的次数，在显示模块上详细显示出集成电路的异常信息，开路或短路是哪个引脚，并统计该引脚开路或短路的次数，方便及时了解集成电路的不良情况并为集成电路的失效分析提供必要的依据。

图1是集成电路芯片开短路测试的电路原理图；图2是本实用新型集成电路开短路测试系统的结构框图；图3是本实用新型另一实施例的结构框图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。图1为集成电路芯片IC开短路测试的电路原理图，作为示例，图1中的集成电路芯片IC包括电源引脚VCC、接地引脚GND、第一引脚1和第二引脚2 ；第一引脚1的保护电路包括第一二极管Dl和第二二极管D2，第一二极管Dl的正极接第二二极管D2的负极，两者连接的公共接点连接第一引脚1 ；第二引脚2的保护电路包括第三二极管D3和第四二极管D4，第三二极管D3的正极接第四二极管D4的负极，两者连接的公共接点连接第二引脚 2 ；第一二极管Dl的负极与第三二极管D3的负极连接，其公共接点连接集成电路芯片IC的电源引脚VCC，第二二极管D2的正极与第四二极管D4的正极连接，其公共接点连接集成电路芯片IC的接地引脚GND。测试时，电源模块DPS加在电源引脚VCC和接地引脚GND两端， 测试模块PMU连接待测的第一引脚1或第二引脚2进行测试。请参阅图2，本实用新型提供一种集成电路开短路测试系统，包括电源模块DPS、 测试模块PMU、统计模块11、控制模块MCU、显示模块12 ；所述电源模块DPS连接集成电路芯片IC，所述测试模块PMU的受控端连接所述控制模块MCU，测试模块PMU的测量端连接所述集成电路芯片IC，测试模块PMU的输出端连接所述统计模块11，所述统计模块11连接所述显示模块12。采用本实用新型的测试系统测试集成电路芯片IC时，电源模块DPS连接电源引脚 VCC和接地引脚GND，测试模块PMU连接集成电路芯片IC的待测引脚(第一引脚1或第二引脚2)。电源模块DPS施加OV的电压到集成电路芯片IC的电源引脚VCC;测试模块PMU逐次量测IC的保护二极管的电压值，即PMU每次只量测一个保护二极管，当该保护二极管量测完后，PMU又继续量测下一个保护二极管，一直到全部输入(Input Pin)及输出(Output Pin)都量测完成才结束。当测试模块PMU量测反向保护二极管(即第二二极管D2和第四二极管D4)时，测试模块PMU向集成电路芯片IC的第一引脚1 (或第二引脚2)先施加-100 μ A 电流再量测该引脚的电压值，当测试模块PMU量测正向保护二极管时，测试模块PMU向集成电路芯片IC的引脚施加100 μ A电流再量测电压值。测试模块PMU的测试结果发送给统计模块11，统计模块11记录集成电路测试不合格的引脚并统计该引脚开路或短路的次数，统计模块11将统计结果及测试模块PMU的测试结果发送给显示模块12显示。参阅图3，在具体的实施例中，控制模块MCU还与上位机电脑连接，在上位机电脑上实现对控制模块MCU的控制，结合上位机电脑强大的硬件资源，可以方便地对控制模块 MCU写入测试程序，使测试系统按照程序运行，测试模式灵活，功能强大。测试的操作界面使用上位机电脑的界面操作，采用基于微软windows桌面操作系统，可在操作界面完成产品参数(如待测IC引脚数、VCC引脚、GND引脚、NC引脚等)设置、测试统计设置(直测、全测、重测、不计数)、系统校正等，操作简易。参 阅图3，测试系统还具有TTL(Transistor-Transistor Logic,晶体管逻辑电路)通信模块，控制模块MCU通过该TTL通信模块连接外部的机械手(Handler)进行全自动高速测试。在上述实施例中，所述控制模块MCU为单片机，当然并不限为单片机，还可以为可编程逻辑器件PLC等。本实用新型的集成电路开短路测试系统测试时，可详细显示出集成电路的异常信息，开路或短路是哪个引脚，并统计该引脚开路或短路的次数，方便及时了解集成电路的不良情况并为集成电路的失效分析提供必要的依据。另外，集成电路开短路测试系统具有直测模式，直测模式是测试机在测试集成电路时，以扫描的方式逐个引脚进行测式，遇到引脚开路或短路时立即停止测试并发送出测试结果。该测试模式有效地提高了批量集成电路测试的效率。以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种集成电路开短路测试系统，其特征在于，包括电源模块、测试模块、统计模块、控制模块和显示模块；所述电源模块连接集成电路芯片，所述测试模块的受控端连接所述控制模块，测试模块的测量端连接所述集成电路芯片，测试模块的输出端连接所述统计模块， 所述统计模块连接所述显示模块。
2.根据权利要求1所述的集成电路开短路测试系统，其特征在于所述控制模块还具有与上位机电脑连接通信的接口。
3.根据权利要求1或2所述的集成电路开短路测试系统，其特征在于还包括TTL通信模块，所述TTL通信模块与所述控制模块连接。
4.根据权利要求3所述的集成电路开短路测试系统，其特征在于所述控制模块为单片机。
专利摘要本实用新型公开了一种集成电路开短路测试系统，包括电源模块、测试模块、统计模块、控制模块和显示模块；所述电源模块连接集成电路芯片，所述测试模块的受控端连接所述控制模块，测试模块的测量端连接所述集成电路芯片，测试模块的输出端连接所述统计模块，所述统计模块连接所述显示模块。本实用新型可在显示模块上详细显示出集成电路的异常信息，开路或短路是哪个引脚，并统计该引脚开路或短路的次数，方便及时了解集成电路的不良情况并为集成电路的失效分析提供必要的依据。
文档编号G01R31/02GK202119855SQ201120171770
公开日2012年1月18日 申请日期2011年5月26日 优先权日2011年5月26日
发明者林宽强, 陈贤明 申请人:深圳市矽格半导体科技有限公司