专利名称：一种滑轨机构的改进的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种老化测试试验中的装载卸载设备，具体是一种在老化测试板进入XY工作台时起限位导向作用的滑轨机构的改进。
背景技术：
在半导体行业中，产品零器件都需要进行老化测试，具体如下老化测试板是用于承载待测试产品的部件，老化测试板首先通过一个滑轨机构进入XY工作台上，滑轨机构起限位导向作用；然后待测试产品通过配套的设备放置到老化测试板上；最后老化测试板连同待测试产品一起送入老化测试设备内，进行老化测试。但现有的滑轨机构只是通过限位导轨来导向，老化测试板进入时，其边缘直接与限位导轨接触，由于它们二者之间是摩擦接触，存在摩擦力，老化测试板在进入XY工作台的过程中容易出现位置上的偏差，从而影响待检测产品的检测精度，严重时甚至导致设备停机，大大影响设备的工作效率。
发明内容本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的不足，对现有的滑轨机构进行了合理的改进，改进后的滑轨机构可以使老化测试板平顺、稳定、精确地进入XY工作台，确保待检测产品的检测精度，保证设备高效工作。按照本实用新型提供的技术方案一种滑轨机构的改进，包括两个滑轨支架，两个滑轨支架对称设置在老化测试板进入通道的两侧，每个滑轨支架上分别安装有一限位滑轨，其特征在于每个滑轨支架的两端均设置有一个轴承组件；所述轴承组件包括支架、侧轴承和下轴承，支架安装在滑轨支架端部的下部，侧轴承竖直安装在支架上，侧轴承用于对老化测试板的两侧边缘限位，侧轴承表面与限位滑轨的内侧面在同一平面上，下轴承水平安装在支架上，下轴承用于从底部支托住老化测试板。作为本实用新型的进一步改进，所述侧轴承和下轴承均采用带螺栓轴滚轮轴承。本实用新型与现有技术相比，优点在于通过对现有的滑轨机构进行合理改进，即在滑轨支架的两端分别设置轴承组件，可以使老化测试板平顺、稳定、精确地进入XY工作台，确保待检测产品的检测精度，提高了工作效率；整体结构简单且持久耐用，减少了操作人员维修维护的工作量。

图1为本实用新型的结构主视图。图2为图1的俯视图。图3为图2的后视图。
具体实施方式
[0011]下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。如图广图3所示，本实用新型涉及滑轨机构的改进。所述滑轨机构包括两个滑轨支架1，两个滑轨支架1对称设置在老化测试板进入通道的两侧，每个滑轨支架1上分别安装有一限位滑轨2 ；本实用新型的改进点是在每个滑轨支架1的两端均设置了一个轴承组件；所述轴承组件主要由支架5、侧轴承3和下轴承4组成，支架5安装在滑轨支架1端部的下部，侧轴承3竖直安装在支架5上，侧轴承3用于对老化测试板的两侧边缘限位，侧轴承3表面与限位滑轨2的内侧面在同一平面上，下轴承4水平安装在支架5上，下轴承4用于从底部支托住老化测试板。在具体应用中，老化测试板进入滑轨机构时，轴承组件中的侧轴承3以滚动的形式对老化测试板的两侧边缘进行限位导向，轴承组件中的下轴承4以滚动的形式支托住老化测试板的底部，从而可以使老化测试板的平顺、稳定、精确地进入到XY工作台上，确保待检测产品的检测精度，保证设备高效工作。如图广图3所示，本实用新型中的侧轴承3和下轴承4均采用带螺栓轴滚轮轴承。 图示实施例中，滑轨支架1前端的下轴承4采用THK公司的CF6UU轴承，其余的下轴承4以及侧轴承3均采用THK公司的CF4UU轴承。
权利要求1.一种滑轨机构的改进，包括两个滑轨支架(1 )，两个滑轨支架(1)对称设置在老化测试板进入通道的两侧，每个滑轨支架(1)上分别安装有一限位滑轨(2)，其特征在于每个滑轨支架(1)的两端均设置有一个轴承组件；所述轴承组件包括支架(5)、侧轴承(3)和下轴承(4)，支架(5)安装在滑轨支架(1)端部的下部，侧轴承(3)竖直安装在支架(5)上，侧轴承(3 )用于对老化测试板的两侧边缘限位，侧轴承(3 )表面与限位滑轨(2 )的内侧面在同一平面上，下轴承(4)水平安装在支架(5)上，下轴承(4)用于从底部支托住老化测试板。
2.如权利要求1所述的滑轨机构的改进，其特征在于所述侧轴承(3)和下轴承(4)均采用带螺栓轴滚轮轴承。
专利摘要本实用新型涉及一种滑轨机构的改进。滑轨机构包括两个滑轨支架，两个滑轨支架对称设置在老化测试板进入通道的两侧，每个滑轨支架上分别安装有一限位滑轨，其特征在于每个滑轨支架的两端均设置有一个轴承组件；所述轴承组件包括支架、侧轴承和下轴承，支架安装在滑轨支架端部的下部，侧轴承竖直安装在支架上，侧轴承用于对老化测试板的两侧边缘限位，侧轴承表面与限位滑轨的内侧面在同一平面上，下轴承水平安装在支架上，下轴承用于从底部支托住老化测试板。本实用新型在滑轨支架的两端分别设置轴承组件，可以使老化测试板平顺、稳定、精确地进入XY工作台，确保待检测产品的检测精度，提高了工作效率，减少了操作人员维修维护的工作量。
文档编号G01R31/00GK202119798SQ20112011632
公开日2012年1月18日 申请日期2011年4月20日 优先权日2011年4月20日
发明者朱磊 申请人:海太半导体(无锡)有限公司