专利名称：条灯老化测试台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于LED条灯成品老化测试的装置。
背景技术：
老化就是让产品进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。在开始使用后几小时到几天之内出现的缺陷称为早期故障，老化主要消除这段时间内产生的故障。半导体的主要故障都出现在器件寿命的开始和最后十分之一阶段。老化就是加快起寿命的前10%部分的运行过程，迫使故障在短时间内出现。LED也是半导体的一种。由于LED条灯属于公司新研发的产品，没有专门用于老化测试的夹具，若单根分别老化，会浪费很多时间；若把条灯串联起来老化，会很占地方，鉴于目前公司老化室的情况，以上两种方法均不可行。
实用新型内容为了解决现有老化方法浪费时间和占用空间的不足之处，本实用新型提供一种条灯老化测试台，该测试台不仅能达到老化测试的目的，而且能一次同时老化多根条灯，占用空间小。为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案条灯老化测试台，包括测试台底座，所述测试台底座上设有开关电源和若干插头，每个插头的GND端和VCC端分别通过导线连接在一起，再连接到所述开关电源上。作为优选，所述测试台底座的侧面设有风扇，所述风扇由所述开关电源供电。作为优选，所述测试台底座由聚氯乙烯制成。作为优选，所述测试台底座上设有框形支撑杆。本实用新型由于采用了上述技术方案，可以方便对条灯进行老化测试，一次老化的数量多，占用空间小，测试台移动方便。

图I为本实用新型条灯老化测试台的结构示意图图2是测试台底座的内部电路接线图
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
作进一步描述。图I所示为本实用新型条灯老化测试台，包括测试台底座1，所述测试台底座I上设有开关电源2和若干插头3，每个插头3的GND端和VCC端分别通过导线连接在一起，再连接到所述开关电源2上。所述测试台底座I的侧面设有风扇4，所述风扇4由所述开关电源2供电。所述测试台底座I上设有框形支撑杆5。测试台底座是采用聚氯乙烯板做成的100*43*14cm的长方体，具有耐腐蚀性强、电器绝缘性能好的特点。开关电源将220V交流电转换为12V直流电，作为总的电源输出端，为插头和风扇供电。测试台表面安装有36个插头，可同时为36根条灯进行老化测试。36个插头分为3组，每组12个，各用一个开关电源提供电压，共用到6个开关电源。如图2所示，测试台底座内部的电路中，将每组插头的GND端和VCC端分别连在一起，再连接到开关电源上。每个插头都用AB胶粘在测试装置的表面，考虑到老化时会产生热量，而AB胶一般能承受80 100度的温度，所以选用AB胶。考虑到该装置是封闭的，而开关电源在工作和条灯在点亮老化时会产生大量的热量，热量积聚产生的高温会使AB胶融化，减少开关电源的使用寿命，因此在本装置的前后两侧各装2个风扇(由开关电源供电)，风扇通过温控装置，在测试台内部温度达到65°C左右时风扇开始工作将测试台内部的热量排出，达到降温 的目的。在测试台表面安装支撑杆，给条灯灯管作支撑，必要时可以用牛皮筋将条灯绑在支撑杆上，以防东倒西歪。
权利要求1.条灯老化测试台，其特征在于包括测试台底座(I)，所述测试台底座(I)上设有开关电源(2)和若干插头(3)，每个插头(3)的GND端和VCC端分别通过导线连接在一起，再连接到所述开关电源(2)上。
2.根据权利要求I所述条灯老化测试台，其特征在于所述测试台底座(I)的侧面设有风扇(4)，所述风扇(4)由所述开关电源(2)供电。
3.根据权利要求I所述条灯老化测试台，其特征在于所述测试台底座(I)由聚氯乙烯制成。
4.根据权利要求I所述条灯老化测试台，其特征在于所述测试台底座(I)上设有框形支撑杆(5)。
专利摘要本实用新型公开了一种条灯老化测试台，包括测试台底座，所述测试台底座上设有开关电源和若干插头，每个插头的GND端和VCC端分别通过导线连接在一起，再连接到所述开关电源上。本实用新型由于采用了上述技术方案，可以方便对条灯进行老化测试，一次老化的数量多，占用空间小，测试台移动方便。
文档编号G01R31/44GK202502231SQ20122004893
公开日2012年10月24日 申请日期2012年2月15日 优先权日2012年2月15日
发明者王颖, 虞杭新 申请人:杭州鸿雁东贝光电科技有限公司