专利名称：便携式高精度同轴度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于金属材料性能测试技术领域，特别涉及用于具有拉伸、压缩功能的试验机，检测上下夹具之间同轴度的仪器设备。
背景技术：
在材料试验机行业，电子万能试验机和蠕变试验机都是应用比较广泛的试验机型，在对试样进行拉伸试验时，它们都是通过上下两个夹具将试样夹持在中间。在拉伸试验中，上下夹具偏心会产生侧向力，影响到材料的物理性能。也就是说，上下夹具的同轴度会直接影响到试验数据的准确性。为此，测量上下夹具的同轴度的仪器装置便应运而生。如今，测量同轴度的仪器基本分为两种一种是人工测量类仪器，通过刻度表进行测量，采用人工读数和计算。这种方法操作简单，但是计算方式落后，结果精度低，只能用在精度要求不高的场合。另一种是计算机辅助类测量仪器，通过传感器进行测量，通过计算机采集测量数据并进行计算和显示，然后用标准打印机输出检测报告。这种方法测量准确，自动化程度高，但是成套装置体积庞大而笨重，现场移动不便，成本也非常之高。
发明内容本实用新型提供一种便携式高精度同轴度测量仪，以解决人工测量数据不准，计算机成套装置测量庞大笨重，成本高的问题。本实用新型的技术方案是双引伸计夹持装置分别与仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二连接，仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二分别与四运算放大器芯片连接，四运算放大器芯片与A/D转换器芯片的模拟输入端连接，A/D转换器芯片的数字输出端与单片机芯片连接，单片机芯片与掉电存储非易EEROM芯片连接，单片机芯片还与液晶显示模块连接。本实用新型的优点在于结构新颖，体积小，成本低、测量精确、易于携带放置，方便实用，实现了低功耗、高精度、便携方式测量，给现场使用者带来便利。

图1是本实用新型的原理框图。
具体实施方式
双引伸计夹持装置I分别与仪表放大器芯片一 2、仪表放大器芯片二 3连接，仪表放大器芯片一 2、仪表放大器芯片二 3分别与四运算放大器芯片4连接，四运算放大器芯片4与A/D转换器芯片5的模拟输入端连接，A/D转换器芯片5的数字输出端与单片机芯片6连接，单片机芯片6与掉电存储非易EEROM芯片7连接，单片机芯片6还与液晶显示模块8连接。本实用新型中仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二都采用AD620AN芯片；四运算放大器芯片采用TL084芯片，四运算放大器芯片中有两个构成滤波器，另两个构成电平转换器，A/D转换器芯片采用低功耗、高精度、双通道的AD7705AN芯片，简化了电路结构；核心微处理器单片机芯片采用目前功耗最低的单片机系列MSP430芯片；掉电存储非易EEROM芯片采用X5045，实现了试验数据的现场存储；低功耗的液晶显示模块采用SMS0501C模块，有效地降低了功耗；前置放大、滤波、电平转换等中间环节皆选用低功耗器件，单片机外围器件皆选用SPI类型接口器件，简化硬件结构，缩小体积。采用电池与市电互切换供电，降低待机功耗。
权利要求1. 一种便携式高精度同轴度测量仪，其特征在于双引伸计夹持装置分别与仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二连接，仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二分别与四运算放大器芯片连接，四运算放大器芯片与A/D转换器芯片的模拟输入端连接，A/D转换器芯片的数字输出端与单片机芯片连接，单片机芯片与掉电存储非易EEROM芯片连接，单片机芯片还与液晶显示模块连接。
专利摘要本实用新型涉及一种便携式高精度同轴度测量仪，属于金属材料性能测试技术领域。双引伸计夹持装置分别与仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二连接，仪表放大器芯片一、仪表放大器芯片二分别与四运算放大器芯片连接，四运算放大器芯片与A/D转换器芯片的模拟输入端连接，A/D转换器芯片的数字输出端与单片机芯片连接，单片机芯片与掉电存储非易EEROM芯片连接，单片机芯片还与液晶显示模块连接。本实用新型的优点在于结构新颖，体积小，成本低、测量精确、易于携带放置，方便实用，实现了低功耗、高精度、便携方式测量，给现场使用者带来便利。
文档编号G01B7/312GK202836506SQ20122051615
公开日2013年3月27日 申请日期2012年10月10日 优先权日2012年10月10日
发明者韩巍, 许太, 张泳, 范晓望 申请人:长春机械科学研究院有限公司