专利名称：电子镇流器自动测试系统的自动校正方法
技术领域：
本发明涉及一种电子镇流器自动测试系统的自动校正方法。
背景技术：
电子镇流器自动测试系统(简称ATE)是对电子镇流器生产中为保证产品质量对该产品实行电性能指标检测的综合设备。这套系统简单地说由计算机、测试仪表、连接箱、负载组成。理想负载本应是各种型号的灯管，但为了降低测试成本，系统本身改用模拟灯管的电阻取代，通过对模拟电阻的切换，代替不同的灯管负载，这样就产生了灯管负载和模拟电阻负截测度误差问题，同时系统本身还有由于测试仪器本身误差和模拟电阻误差及连接箱结构误差引起的各台系统不统一，为了保证自动测试系统的可靠性和精确性，在每种镇流器生产测试前要求用该种产品的封样镇流器对系统进行精确校正，减小测试误差。以往的测试软件用固定的测试时间，自动的量程设置，由ATE人员忽略模拟电阻误差，采用手工计算各项测试参数误差修正值，因此校正花费时间长，准确度不高。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种用于电子镇流器自动测试系统中可根据需要自动调整测试状态和测试精度，自动计算误差修正值的自动校正方法。
本发明的技术方案是一种电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，包括如下步骤一种电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，包括如下步骤a、每次测试校正前从数据库中调入各阶段测试的时间，量程进行初始化；b、对封样镇流器进行相应的测试；c、调整影响测试的主要因素；
d、进行误差修正值计算；e、验证校正的精确性和可靠性。
由于采用了上述技术方案，本发明可根据需要自动调整测试状态和测试精度，自动计算误差修正值，一般不再需要人工干预，校正结果迅速准确，尤其适合镇流器品种繁多情况下的精度校正，同时最大限度减少测试时间，从而为保证产品质量提高测试效率奠定基础。采用本方法操作简单，界面良好，与现有测试软件切换方便，可随时调用，如在校正过程中出现意外情况，也能很方便地进行人工干预，在一定程度上还可用作ATE检修使用。


图1是本发明的电子镇流器自动测试系统的示意框图。
图2是图1所示的系统在空载测试阶段的自动校正方法。
图3是图1所示的系统在满载测试阶段的自动校正方法。
具体实施例方式
如图1所示本发明的电子镇流器自动测试系统包括连接箱1，以及与连接箱1相连接的计算机2、测试仪表3、电子镇流器4、模拟电阻5，所述计算机与测试仪表双向连接。
1、计算机2所述计算机2为386以上的工控PC机，MS-DOS6.0以上版本操作系统，内含24位并行数字接口控制卡21(PIO-24)、通用总线接口控制卡22(GPIB)，计算机2通过所述的数字接口控制卡21控制连接箱内的线路切换；计算机通过总线接口控制卡22可实施对测试仪表量程设置，可以选择进行测试并获取测试仪表3的测试数据。
2、测试仪表3所述测试仪表3为美国XITRON公司2503AH功率分析仪，负责测试参数。
3、连接箱1所述连接箱1内设一系列可由PIO-24控制卡21遥控的继电器，根据需要可改变与电子镇流器4，模拟电阻5，测试仪表3之间的连接状态，用以测试不同电性能参数，模拟电阻也可由连接箱内继电器控制组合成不同阻值。
4、电子镇流器4所述电子镇流器4即为本发明所需测试的产品，校正ATE时，此为封样电子镇流器，已由高精度测试系统测试出其各项性能参数，(下称为封参数)作为ATE校正的基准。
5、模拟电阻5由一组无感大功率电阻串联组成，每个电阻并联成一个继电器，由继电器开闭组成不同的电阻值。
本发明的自动校正方法通过计算机2对封样镇流器4进行测试，将测试结果和事情先存入计算机2的该封样镇流器4的各项封样参数进行比较，通过调整测试时间，调整测试仪表3的量程和模拟电阻5，最后进行误差修正值运算，从而实现对ATE的自动校正工作。
本发明的自动校正方法的软件主要组成如下1、数据库输入程序PARGEN8.EXE生成数据库文件TEST.DAT，用于输入各种镇流器封样参数，以及对测试时间，量程初始化设置数据，2、自动校正程序AUTOCORR.EXE对ATE进行自动校正，验证，存储、校正结果，是自动校正方法的主要程序。其包括如下步骤a每次测试校正前都从数据库中调入各阶段测试的时间，量程进行初始化，b调整影响测试的主要因素(1)若测试时间不够，影响测试稳定性，则给予延长调整。
(2)若量程精度不够，则设置新的减小量程或放大量程，选取更合适量程。
(3)若模拟电阻偏差，主要由于连接箱内连接导线引起的串联电阻，则控制减小模拟电阻，消除导线电阻。
c进行误差修正值计算，公式如下误差修正值＝样机参数/对应的测试值*100％修正后的测试值＝实际测试值*误差修正值d一次校正结束后，将封样镇流器作为普通镇流器测试三遍，要求测试结果均在封样参数允许误差范围内，从而验证校正的精确性和可靠性，若不在范围内要重新校正或ATE系统维修。
下面结合图2及图3详细说明本发明的电子镇流器自动测试系统在空载测试阶段及满载测试阶段的自动校正方法空载测试阶段如图2所示紧接开始步骤100之后、依次执行步骤101进入空载测试连接，步骤102设置量程，步骤103等待稳定测试时间ts1，步骤104测试voc1(无载输出电压)、foc1(无载输出频率)、pic1(无载输入功率)，步骤105等待0.5秒，步骤106再次测试voc2(无载输出电压)、foc2(无载输出频率)、pic2(无载输入功率)，步骤107将二次测试结果比较，若满足以下条件|voc1-voc2|/voc2＜0.25％，|foc1-foc2|/foc2＜0.25％，|pic1-pic2|/pic2＜0.25％，则继续执行步骤108与封样参数vocs(无载输出电压)、focs(无载输出频率)、pics(无载输入功率)进行比较，判断是否要调整测试量程，比较公式如下|voc1-vocs|/vocs＜2.5％，|foc1-focs|/focs＜2.5％，|pic1-pics|/pics＜2.5％，如果满足以上条件，则不需要调整测试量程，于是执行步骤109计算误差修正值，计算公式如下voccorre＝vocs/voc1×100％，foccorre＝focs/foc1×100％，piccorre＝pics/pic1×100％，最后，执行步骤110存储误差修正值、量程，及测试时间ts1，并结束本流程。如果步骤108，与封样参数比较结果不满足条件，则执行步骤112判断是否可通过调整量程减小误差，判断公式如下|voc1-vocs|/vocs＜5％，|foc1-focs|/focs＜5％，|pic1-pics|/pics＜10％，若判断结果满足上述公式，依次执行步骤113调整量程，步骤114再采样测试voc1、foc1、pic1，然后返回步骤108，将再次采样测试结果与封样参数比较，并判断是否需要调整测试量程。如果步骤112的判断结果不满足判断公式，即判断结果为不可通过调整量程减小误差，则执行步骤115显示系统无法校正。如果判断结果为否则显示系统无法校正，并结束本流程。如果所述步骤107的比较结果不满足上述比较条件，则执行步骤116增加测试时间0.25秒，即ts1＝ts1+0.25s，执行步骤117判断是否超时，即判断ts1是否大于4秒，如果判断结果小于4秒，即没有超时，则返回执行步骤103等待稳定测试时间，并继续该流程；如果判断结果超时，则执行步骤118显示系统不稳定无法校正，然后结束本流程。满载测试阶段如图3所示紧接开始步骤200之后、依次执行步骤201进入满载测试连接，步骤202设置量程，步骤203等待稳定测试时间ts2，步骤204分别测试Pin1(输入功率)、THD1(谐波系数)、PF1(功率因素)、Fop1(输出频率)、Pout1(输出功率)，步骤205等待1秒，步骤206再测试一次以上参数，记作Pin2(输入功率)、THD2(谐波系数)、PF2(功率因素)、Fop2(输出频率)、Pout2(输出功率)，步骤207将二次测试结果进行比较，判断是否满足以下条件|Pin1-Pin2|/Pin2＜0.5％，|Pout1-Pout2|/Pout2＜0.5％，|THD1-THD2|/THD2＜1％，|PF1-PF2|/PF2＜0.5％，|Fop1-Fop2|/Fop2＜0.5％，如果满足以上条件，则继续执行步骤208与封样参数进行比较，判断测试值是否超过可校正范围，比较公式如下|Pin1-Pins|/Pins＜10％，|Pout1-Pouts|/Pouts＜10％，|THD1-THDs|/THDs＜8％，|PF1-PFs|/PFs＜8％，|Fop1-Fops|/Fops＜8％，如果满足上述公式，即测试值不超过可校正范围，则执行步骤209判断是否要调整测试量程，判断公式如下|Pin1-Pins|/Pins＞6％，|Pout1-Pouts|/Pouts＞6％，|THD1-THDs|/THDs＞5％，|PF1-PFs|/PFs＞5％，|Fop1-Fops|/Fops＞5％，如果满足上述公式，则依次执行步骤210调整相应测试量程，步骤211再次测试，步骤212判断误差是否减小，如果判断结果为是，则执行步骤213判断是否要减小模拟电阻，判断公式如下|Pin1-Pins|/Pins＜2％，|Pout1-Pouts|/Pouts＜2％，|THD1-THDs| THDs＜2％，|PF1-PFs|/PFs＜1％，|Fop1-Fops|/Fops＜1％，如果满足上式，则执行步骤214计算误差修正值，计算公式如下Pincorre＝Pins/Pin1×100％，THDcorre＝THDs/THD1×100％，PFcorre＝PFs/PF1×100％，FOPcorre＝FOPs/FOP1×100％Poutcorre＝Pouts/Pout1×100％，执行步骤215存储校正结果，并结束本流程。如果步骤213的判断结果不满足公式，则依次执行步骤216减小模拟电阻，步骤217再测试，步骤218判断误差是否减小，如果判断结果为是，则返回执行步骤213，并继续本流程。如果判断结果为否，则执行步骤219显示误差太大无法校正，并结束本流程。如果步骤212的判断结果为否，则执行步骤220对测试量程进行还原，并继续执行步骤213，从而继续本流程。如果步骤207，对二次测试结果进行比较后不满足所述公式，则执行步骤221将测试时间延长0.25秒，并执行步骤222判断测试时间是否小于5秒，如果判断结果为是，则返回执行步骤203，并继续本流程。如果判断结果为测试时间大于5秒，则执行步骤223，显示系统无法稳定测试，并结束本流程。
权利要求
1.一种电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，包括如下步骤a、每次测试校正前从数据库中调入各阶段测试的时间，量程进行初始化；b、对封样镇流器进行相应的测试；c、调整影响测试的主要因素；d、进行误差修正值计算；e、验证校正的精确性和可靠性。
2.根据权利要求1所述的电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，包括空载测试阶段及满载测试阶段，所述空载测试阶段的测试包括无载输出电压(voc)、无载输出频率(foc)、无载输入功率(pic)，所述的满载测试阶段的测试包括输入功率(Pin)、谐波系数(THD)、功率因素(PF)、输出频率(Fop)、输出功率(Pout)。
3.根据权利要求2所述的电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，所述步骤d的计算公式为误差修正值＝样机参数/对应的测试值*100％修正后的测试值＝实际测试值*误差修正值
4.根据权利要求1所述的电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，所述的步骤e为在一次校正结束后，将封样镇流器作为普通镇流器测试若干遍，要求测试结果均在封样参数允许误差范围内，若不在范围内要重新校正或进行ATE系统维修。
5.根据权利要求1所述的电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，所述的步骤c、调整影响测试的主要因素包括(1)测试时间若测试时间不够，影响测试稳定性，则给予延长调整。(2)量程精度若量程精度不够，则设置新的减小量程或放大量程，选取更合适量程。(3)模拟电阻若模拟电阻偏差，则控制减小模拟电阻，消除导线电阻。
6.根据权利要求5所述的电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，所述的判断是否要调整测试时间的方法为进行二次测试，将二次测试结果进行比较。
7.根据权利要求4所述的电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，所述的判断是否要调整测试量程的方法为将第一次测试结果与对应的封样参数进行比较。
8.根据权利要求4所述的电子镇流顺自动测试系统的自动校正方法，其特征在于，所述的判断是否要调整模拟电阻偏差的方法为将第一次测试结果与对应的封样参数进行比较。
全文摘要
本发明提供一种电子镇流器自动测试系统的自动校正方法，其包括如下步骤a.每次测试校正前从数据库中调入各阶段测试的时间，量程进行初始化；b.对封样镇流器进行相应的测试；c.调整影响测试的主要因素；d.进行误差修正值计算；e.验证校正的精确性和可靠性。由于采用了上述技术方案，本发明可根据需要自动调整测试状态和测试精度，自动计算误差修正值，一般不再需要人工干预，校正结果迅速准确，尤其适合镇流器品种繁多情况下的精度校正，同时最大限度减少测试时间，从而为保证产品质量提高测试效率奠定基础。
文档编号G01R31/00GK1548968SQ03117090
公开日2004年11月24日 申请日期2003年5月22日 优先权日2003年5月22日
发明者徐洪军 申请人:上海广电飞跃照明电子器材厂