专利名称：空间光通信终端光轴与其定位研磨面夹角的精确测量方法
技术领域：
本发明涉及空间光通信终端光轴与其端面上的定位研磨面间夹角的测量方法。
背景技术：
空间光通信终端系统在制造过程中，要求终端光轴与终端转台的机械轴严格平 行，以保证发射光束的精确瞄准。目前保证终端光轴与终端转台的机械轴严格平行的工艺 措施往往是先把空间光通信终端内部光路搭建起来，以确定实际光轴，然后通过研磨终端 端面上的定位研磨面来保证光轴与终端转台的机械轴的平行。这种方法存在的问题是由 于没有或者不能在光通信终端制造过程中测量搭建的空间光通信终端内部光路的光轴与 终端端面的垂直度，因此后续在把光通信终端与终端转台装配过程中，对定位研磨面的研 磨工作量往往比较大。

发明内容
本发明的目的是提供一种空间光通信终端光轴与其定位研磨面夹角的精确测量 方法，以克服现有技术在保证空间光通信终端光轴与终端转台的机械轴严格平行的工艺中 研磨工作量比较大的缺陷。它通过下述步骤实现一、在干涉仪1前放置平面镜2，调整平面 镜2的方位和俯仰，使平面镜2的光轴与干涉仪1光轴平行；二、在干涉仪1和平面镜2之 间放入空间光通信终端3，利用干涉仪1所提供的光轴，调整空间光通信终端3的方位和俯 仰，使空间光通信终端3的光轴与平面镜2的光轴平行；三、在干涉仪1和空间光通信终端 3间放置自准直仪4，利用自准直仪4测量空间光通信终端3端面上的定位研磨面3-1反射 光轴与自准直仪4光轴间的夹角(Cipi^1)；四、在不移动自准直仪4情况下，移走空间光通 信终端3，利用自准直仪4测量平面镜2光轴与自准直仪4光轴的夹角(α2，β2)；五、根据 定位研磨面3-1反射光轴与自准直仪4光轴的夹角(α ” β D和空间光通信终端3光轴与 自准直仪4光轴的夹角(α 2，β 2)，可得空间光通信终端3光轴与其定位研磨面3-1反射光 轴的夹角
权利要求
1.空间光通信终端光轴与其定位研磨面夹角的精确测量方法，其特征在于它通过下述 步骤实现一、在干涉仪(1)前放置平面镜0)，调整平面镜O)的方位和俯仰，使平面镜 (2)的光轴与干涉仪(1)光轴平行；二、在干涉仪(1)和平面镜( 之间放入空间光通信终 端(3)，利用干涉仪⑴所提供的光轴，调整空间光通信终端(3)的方位和俯仰，使空间光 通信终端( 的光轴与平面镜( 的光轴平行；三、在干涉仪(1)和空间光通信终端(3)间 放置自准直仪G)，利用自准直仪⑷测量空间光通信终端⑶端面上的定位研磨面(3-1) 反射光轴与自准直仪(4)光轴间的夹角(α” ^1)；四、在不移动自准直仪(4)情况下，移走 空间光通信终端(3)，利用自准直仪(4)测量平面镜( 光轴与自准直仪(4)光轴的夹角 (α2，β2)；五、根据定位研磨面(3-1)反射光轴与自准直仪(4)光轴间的夹角(α” P1)和 空间光通信终端C3)光轴与自准直仪(4)光轴的夹角(α2，β2)，可得空间光通信终端(3) 光轴与其定位研磨面(3-1)反射光轴的夹角
2.根据权利要求1所述的空间光通信终端光轴与其定位研磨面夹角的精确测量方法， 其特征在于所述平明镜O)的平面度为1/50 λ至1/100 λ，用干涉仪(1)调整平面镜(2) 和空间光通信终端( 的方位和俯仰时，调整至干涉条纹对称且波前均方根值为1/50 λ至 1/100 λ。
全文摘要
空间光通信终端光轴与其定位研磨面夹角的精确测量方法，本发明涉及空间光通信终端光轴与其端面上的定位研磨面间夹角的测量方法。用于测量。它克服了机械转台旋转因素对测量带来的影响。通过下述步骤实现在干涉仪前放置平面镜，调整使平面镜的光轴与干涉仪光轴平行；在干涉仪和平面镜之间放入空间光通信终端，调整使光轴与平面镜的光轴平行；在干涉仪和空间光通信终端间放置自准直仪，测量空间光通信终端端面上的定位研磨面反射光轴与自准直仪光轴间的夹角；移走空间光通信终端，测量平面镜光轴与自准直仪光轴的夹角；根据定位研磨面反射光轴与自准直仪光轴间的夹角和空间光通信终端光轴与自准直仪光轴的夹角，得终端光轴与其定位研磨面的夹角。
文档编号G01B11/26GK102095390SQ20101061121
公开日2011年6月15日 申请日期2010年12月29日 优先权日2010年12月29日
发明者俞建杰, 杨玉强, 谭立英, 赵生, 韩琦琦, 马晶 申请人:哈尔滨工业大学