专利名称：测试座连接板的制作方法
技术领域：
本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种测试座连接板。
背景技术：
集成电路产品的测试通常需要使用对应的测试机台(tester)和测试板(DUT板)， 例如用于功能测试(function test, FT)的测试板等。FT测试是检验集成电路产品的功 能是否完好的必不可少的一个环节。通常测试板上连接有用于放置待测试芯片的测试座 (socket)，测试机台提供的外部测试信号通过测试板送到测试座的引脚，进而对待测试芯 片进行测试。现有技术存在如下几方面的缺点对不同类型的集成电路产品的测试，需要制作 不同的测试板焊接不同的测试座。目前使用的测试板和测试座之间是一对一的连接方式， 这限制了测试板的应用。而且，对于高集成度的芯片，其信号管脚复杂，一方面测试机台本 身能够提供的信号资源有限，另一方面用软件方法实现会导致信号噪声的增大，进而影响 整个测试。此外，为了实现多种信号源，通常在测试板上焊接跳线，这会严重损伤测试板，不 利于长期使用。

发明内容
本发明的目的在于提供一种测试座连接板，能够在硬件上改变测试座的引脚的信 号状态，提供丰富而稳定的信号资源。本发明提供一种测试座连接板，其连接测试座和测试板，其中，所述测试座连接板 包括基底，其具有接地端、供电端以及针脚，所述针脚用于连接测试板；多个三相拨线开 关，设置于所述基底上，每个所述三相拨线开关对应所述测试座的一个引脚，选择性地将所 述测试座的引脚连接到所述接地端、供电端或对应的针脚。优选的，所述测试座连接板以焊接、插装或贴装的方式连接所述测试座。优选的，所述三相拨线开关包括底座以及沿所述底座移动的活动帽，所述底座的 两侧分别形成有第一金属弹片和三个第二金属弹片，所述第一金属弹片与所述测试座的一 个引脚连接，所述三个第二金属弹片分别与所述接地端、供电端、对应的针脚连接，所述活 动帽的内侧形成有第三金属弹片，所述第三金属弹片选择性地将所述第一金属弹片与所述 三个第二金属弹片中的一个连接。优选的，所述底座的材料为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。优选的，所述第一金属弹片、所述第二金属弹片以及所述第三金属弹片的材料为 金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。优选的，所述活动帽的材料为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。优选的，所述基底的材料为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。优选的，所述接地端、所述供电端以及所述针脚的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、 钽、铬中的一种。
与现有技术相比，本发明提供的一种测试座连接板，通过对应测试座的每一引脚 设置一个三相拨线开关，测试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外 部测试信号，从而能够根据产品测试的需要在硬件上改变测试座的引脚的信号状态，提供 丰富而稳定的信号资源。此外，采用本发明提供的测试座连接板，由于信号资源丰富而稳 定，对于封装形式相同的产品进行测试时就不需要制作大量的测试板，成品测试复用率高， 从而节约测试的硬件成本投入。而且，由于信号资源丰富而稳定，可以大大减少新产品测试 的准备时间。


图1为连接有测试座的本发明的测试座连接板的正视图；图2为连接有测试座的本发明的测试座连接板的侧视图；图3为本发明的测试座连接板的实施例中三相拨线开关的结构示意图；图4为图3所示的三相拨线开关中底座的被遮挡的一侧的示意图；图5为图3所示的三相拨线开关的活动帽的结构示意图；图6为本发明的连接有测试座的测试座连接板的实施例中表层电路的连接示意 图；图7为本发明的连接有测试座的测试座连接板的实施例中背层电路的连接示意 图。
具体实施例方式为使本发明的目的、特征更明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式
作 进一步的说明。本发明的核心思想在于，通过对应测试座的每一引脚设置一个三相拨线开关，测 试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试信号。请综合参考图1和图2，图1和图2分别为连接有测试座的本发明的测试座连接板 的正视图和侧视图。该测试座连接板连接测试座20和测试板(未图示)。其中，测试座连 接板能够以焊接、插装或贴装的方式连接测试座20。测试座连接板包括基底11和多个三相 拨线开关12。基底11具有接地端112、供电端113以及针脚111。针脚111用于连接测试 板，进而连接外部测试信号。三相拨线开关12设置于基底11上，每个三相拨线开关12对 应测试座20的一个引脚，选择性地将测试座20的引脚连接到接地端112、供电端113或对 应的针脚111。基底11的材料优选为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种，接地端112、供电端113 以及针脚111的材料优选为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。下面，结合图3至图5描述本实施例中采用的三相拨线开关的具体结构。其中，图 3显示了三相拨线开关的结构示意图，图4为图3所示的三相拨线开关中底座的被遮挡的 一侧的示意图，图5为图3所示的三相拨线开关的活动帽的结构示意图。如图3所示，三相 拨线开关12包括底座121以及沿所述底座121移动的活动帽122。从图3和图4可以看 出，底座121的两侧分别形成有三个第一金属弹片123、125、127和三个第二金属弹片124、 126、128。当然，在本发明的其它实施例中，第一金属弹片123、125、127还可以连成一体。 同时，如图5所示，活动帽122的内侧形成有第三金属弹片129，该第三金属弹片1 选择性地将第一金属弹片与三个第二金属弹片124、126、128中的一个连接。具体地，在本实施 例中，当活动帽122沿底座121移动到与第一金属弹片123和第二金属弹片IM对应的第 一位置时，第三金属弹片1 将导通第一金属弹片123和第二金属弹片124。类似的，当活 动帽122沿底座121移动到与第一金属弹片125和第二金属弹片1 对应的第二位置时， 第三金属弹片1 将导通第一金属弹片125和第二金属弹片126 ；当活动帽122沿底座121 移动到与第一金属弹片127和第二金属弹片1 对应的第三位置时，第三金属弹片1 将 导通第一金属弹片127和第二金属弹片128。优选的，底座121的材料为硅、树脂或聚酰亚 胺中的一种，第一金属弹片123、125、127和第二金属弹片124、126、128以及第三金属弹片 129的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种，活动帽122的材料为硅、树脂或聚酰 亚胺中的一种。接下来，结合图6和图7描述本发明的连接有测试座的测试座连接板的实施例中 三相拨线开关的电路连接方式。其中，图6和图7分别为该测试座连接板的表层电路和背层 电路的连接示意图。如图6所示，三相拨线开关12的三个第一金属弹片123、125、127 (参照 图4)与测试座20的同一引脚连接。对应的，如图7所示，三相拨线开关12的三个第二金 属弹片124、126、128(参考图3)分别与供电端113、对应的针脚111、接地端112连接。当 然，在本发明的其它实施例中，也可以选择其它的连接对应关系。由此，综合参照图3至图7，以标出标号的三相拨线开关12为例，当把三相拨线开 关12的活动帽拨到左边时，第三金属弹片1 将导通第一金属弹片123和第二金属弹片 124，进而将测试座20的一引脚连接到供电端113，即连接到供电信号；当把三相拨线开关 12的活动帽拨到中间时，第三金属弹片1 将导通第一金属弹片125和第二金属弹片126， 进而将测试座20的该引脚连接到对应的针脚111，即连接到外部测试信号；当把三相拨线 开关12的活动帽拨到右边时，第三金属弹片1 将导通第一金属弹片127和第二金属弹片 128，进而将测试座20的该引脚连接到接地端112，即连接到接地信号。应当注意到，还可以 把三相拨线开关12的活动帽摘掉，此时测试座20的该引脚将悬空(NC)。如此，测试座20 的每一引脚便可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试信号。而且，由于测试座 连接板将接地端112和供电端113独立出来，保证了分配到测试座20的各个引脚的信号资 源的稳定。采用本发明的测试座连接板后，由于测试座的每一引脚可以实现选择连接到接地 信号、供电信号或外部测试信号中的任何一种，信号资源丰富而稳定，对于封装形式相同的 产品进行测试时就不需要制作大量的测试板，成品测试复用率高，从而节约测试的硬件成 本投入，而且还可以大大减少新产品测试的准备时间。应当注意的是，在本发明的其它实施例中，三相拨线开关也可以采用其它结构以 使得测试座的每一引脚实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试信号。综上所述，本发明提供的一种测试座连接板，通过对应测试座的每一引脚设置一 个三相拨线开关，测试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试 信号，从而能够根据产品测试的需要在硬件上改变测试座的引脚的信号状态，提供丰富而 稳定的信号资源。此外，采用本发明提供的测试座连接板，由于信号资源丰富而稳定，对于 封装形式相同的产品进行测试时就不需要制作大量的测试板，成品测试复用率高，从而节 约测试的硬件成本投入。而且，由于信号资源丰富而稳定，可以大大减少新产品测试的准备时间。 显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精 神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围 之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求
1.一种测试座连接板，其连接测试座和测试板，其特征在于，所述测试座连接板包括基底，其具有接地端、供电端以及针脚，所述针脚用于连接测试板；多个三相拨线开关，设置于所述基底上，每个所述三相拨线开关对应连接所述测试座 的一个引脚，选择性地将所述测试座的引脚连接到所述接地端、供电端或对应的针脚。
2.如权利要求1所述的测试座连接板，其特征在于，所述测试座连接板以焊接、插装或 贴装的方式连接所述测试座。
3.如权利要求1所述的测试座连接板，其特征在于，所述三相拨线开关包括底座以及 沿所述底座移动的活动帽，所述底座的两侧分别形成有第一金属弹片和三个第二金属弹 片，所述第一金属弹片与所述测试座的一个引脚连接，所述三个第二金属弹片分别与所述 接地端、供电端、对应的针脚连接，所述活动帽的内侧形成有第三金属弹片，所述第三金属 弹片选择性地将所述第一金属弹片与所述三个第二金属弹片中的一个连接。
4.如权利要求3所述的测试座连接板，其特征在于，所述底座的材料为硅、树脂或聚酰 亚胺中的一种。
5.如权利要求3所述的测试座连接板，其特征在于，所述第一金属弹片、所述第二金属 弹片以及所述第三金属弹片的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。
6.如权利要求3所述的测试座连接板，其特征在于，所述活动帽的材料为硅、树脂或聚 酰亚胺中的一种。
7.如权利要求1 6中任一项所述的测试座连接板，其特征在于，所述基底的材料为 硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。
8.如权利要求1 6中任一项所述的测试座连接板，其特征在于，所述接地端、所述供 电端以及所述针脚的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。
全文摘要
本发明公开了一种测试座连接板，通过对应测试座的每一引脚设置一个三相拨线开关，测试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试信号，从而能够根据产品测试的需要在硬件上改变测试座的引脚的信号状态，提供丰富而稳定的信号资源。此外，采用本发明提供的测试座连接板，由于信号资源丰富而稳定，对于封装形式相同的产品进行测试时就不需要制作大量的测试板，成品测试复用率高，从而节约测试的硬件成本投入。而且，由于信号资源丰富而稳定，可以大大减少新产品测试的准备时间。
文档编号G01R31/28GK102128956SQ20101002298
公开日2011年7月20日 申请日期2010年1月19日 优先权日2010年1月19日
发明者何俊明, 李刚, 谢君强 申请人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司