专利名称：一种行星支架三孔检具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种行星支架三孔检具。
背景技术：
一种行星架零件(如图1)，其中三个Φ 18. 2++；；:=圆周均布孔的形位公差要求较高， 三个孔距互相偏差不大于0. 06mm。在装配过程中，经常发现由于行星架三孔位置精度问题 而产生噪声，然后拆下更换别的行星架，有时需要更换多次。这样返工非常麻烦，增加了工 人的劳动强度，影响装配效率。针对出现的问题，我们加强了对行星架零件的检测，其检测 方法主要有三种(1)用游标卡尺直接测量孔距；(2)穿销柱法测量；(3)用三坐标测量仪 测量。以上三种测量方法各有优缺点第一种测量方法有局限性，那就是靠外边那排孔容易 测量，靠里面由于尺子伸不进而测量不便，因此严重影响测量精度及效果；第二种方法测量 效率低，劳动强度大，测量精度不高；第三种办法检测精度高，但测量效率低，成本较高。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种行星支架三孔检具，检测效率高，容易快速作出判 断，且测量效果好，用该检具检验合格率高。本实用新型的技术方案如下一种行星支架三孔检具，包括有底座，底座上有定位柱，所述定位柱上分别套装有 行星支架、模架，模架上设有三个与行星支架的位置孔相对应的检测孔，有销轴依次穿过检 测孔与位置孔。本实用新型的检测效率高，容易快速作出判断，且测量效果好，用该检具检验合格 率高，转入装配车间使用，再没有出现因行星架质量问题而产生噪音导致返工现象的发生， 提高了装配效率。

图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参见附图，一种行星支架三孔检具，包括有底座1，底座1上有定位柱2，定位柱2 上分别套装有行星支架3、模架4，模架4上设有三个与行星支架3的位置孔5相对应的检 测孔6，有销轴7依次穿过检测孔6与位置孔5。
权利要求一种行星支架三孔检具，包括有底座，底座上有定位柱，其特征在于所述定位柱上分别套装有行星支架、模架，模架上设有三个与行星支架的位置孔相对应的检测孔，有销轴依次穿过检测孔与位置孔。
专利摘要本实用新型公开了一种行星支架三孔检具，包括有底座，底座上有定位柱，所述定位柱上分别套装有行星支架、模架，模架上设有三个与行星支架的位置孔相对应的检测孔，有销轴依次穿过检测孔与位置孔。本实用新型的检测效率高，容易快速作出判断，且测量效果好，用该检具检验合格率高。
文档编号G01B5/14GK201731846SQ20102018937
公开日2011年2月2日 申请日期2010年5月6日 优先权日2010年5月6日
发明者何淑平 申请人:安徽信发齿轮机械有限公司