专利名称：变量程抗环境干扰的激光测长机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及长度计量仪器，特别是一种变量程抗环境干扰的激光测长机。
背景技术：
激光测长机用于测量大型机械零件和量具的长度尺寸。由于采用光干涉原理和以激光波长作为测量基准以及设计符合阿贝测量原则，因此具有分辨率高、测量精度高、测量量程长的特点，在大型机械制造业和国家质检部门中被广泛采用。激光测长机以探测头架上的测量镜相对激光干涉仪的移动距离来实现长度测量。 激光束从干涉仪到达测量镜的几何路程与空气折射率的乘积被称为测量光程。一台激光测长机可以测量不同长短的各种被测件，设计者一般将激光干涉仪安排在底座的最远端， 使测量镜和激光干涉仪之间具有最大运动空间，以便满足最长被测件的测量。由于激光束在暴露的空气介质中传播，空气折射率会受温度、气压、湿度和气流扰动等环境因素影响。在测量过程中，如果这些环境因素发生变化或不稳定，这种干扰将造成测量光程不稳定；被测件越短，测量光程就越长，干扰就越严重，影响了激光测长机的测量精度和稳定性。为了保证测量精度和稳定性，测量者不得不对测量环境提出更加苛刻的控制要求，无形中加大了测量成本。发明内容本实用新型设计的激光测长机，将上述激光干涉仪固定在底座最远端的传统设计，改进为激光干涉仪位置不固定，而是可随不同长度被测件所需要的实际量程人为设定，从而达到环境干扰影响最小、保证测量精度和稳定性的目的。本实用新型的构成一种变量程抗环境干扰的激光测长机，由尾架、触测端、工作台、头架、测量镜、激光束、激光干涉仪、底座组成，在激光测长机的底座上装有尾架、工作台、头架和激光干涉仪，其中尾架固定在底座一端；工作台、头架和激光干涉仪设置在底座的导轨上；干涉仪的测量镜装在头架的尾部；两触测端、测量镜、激光束位于同一测量轴线上，测量前，先根据被测件的名义长度设定头架的位置，使两触测端之间的距离略大于被测长度；再移动激光干涉仪至距离头架最近的位置并固定，然后进行测量。与现有技术比较，本实用新型的激光测长机在测量前，激光干涉仪的位置可以根据被测尺寸人为设定，无论测量长、短被测件都能使测量光程最短，而这种设定决定了测长机在当前状态下的量程，目的是缩短激光束暴露在空气中的长度，从而减小环境干扰，使激光测长机的测量精度和稳定性得到保证，故称为“变量程抗环境干扰的激光测长机”。


附图是本实用新型的结构示意图。图中1.尾架，2.触测端，3.被测件，4.工作台，5.头架，6.测量镜，7.激光束， 8.激光干涉仪，9.底座，10.最大量程时的激光干涉仪位置，RQ扰动气流。
具体实施方式
1)根据尾架1、头架5、激光干涉仪8的占位长度和测长机要达到的最大量程，设计底座9的长度。尾架1被设计在底座一端固定。 2)设计工作台4、头架5和激光干涉仪8，三者应具有运动导向和驱动机构，能沿底座9的导轨做高精度直线运动。[0012]3)激光干涉仪8的测量镜6装在头架5的尾部；两触测端2、测量镜6、激光束7被设计在同一测量轴线上。4)测量前，先根据被测件3的名义长度设定头架5的位置，使两触测端2之间的距离略大于被测长度；再移动激光干涉仪8至距离头架最近的位置并固定，然后进行测量。
权利要求1. 一种变量程抗环境干扰的激光测长机，由尾架、触测端、工作台、头架、测量镜、激光束、激光干涉仪、底座组成，其特征在于在激光测长机的底座(9)上装有尾架(1)、工作台 、头架( 和激光干涉仪(8)，其中尾架(1)固定在底座一端；工作台、头架( 和激光干涉仪(8)设置在底座(9)的导轨上；干涉仪的测量镜(6)装在头架(5)的尾部；两触测端O)、测量镜(6)、激光束(7)位于同一测量轴线上，测量前，先根据被测件(3)的名义长度设定头架( 的位置，使两触测端( 之间的距离略大于被测长度；再移动激光干涉仪 (8)至距离头架(5)最近的位置并固定，然后进行测量。
专利摘要一种变量程抗环境干扰的激光测长机，属于长度计量仪器，在激光测长机的底座(9)上装有尾架(1)、工作台(4)、头架(5)和激光干涉仪(8)，其中尾架(1)固定在底座一端；工作台(4)、头架(5)和激光干涉仪(8)设置在底座(9)的导轨上；干涉仪的测量镜(6)装在头架(5)的尾部；两触测端(2)、测量镜(6)、激光束(7)位于同一测量轴线上，测量前，先根据被测件(3)的名义长度设定头架(5)的位置，使两触测端(2)之间的距离略大于被测长度；再移动激光干涉仪(8)至距离头架(5)最近的位置并固定。本实用新型可将不同长短被测件的测量光程缩短到最短，从而使环境干扰影响最小、保证测量精度和稳定性。
文档编号G01B11/02GK202119402SQ201120105169
公开日2012年1月18日 申请日期2011年4月12日 优先权日2011年4月12日
发明者孙正洪, 张恒, 彭卫建, 胡清 申请人:贵阳新天光电科技有限公司