专利名称：试片增失重连续实时测量天平的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于室内实验的测量装置，具体的说，是涉及一种用于腐蚀、 电镀、化学镀等实验中测量试片质量实时变化量的装置。
背景技术：
腐蚀是金属材料在腐蚀介质中发生的电化学反应，是引起材料失效的重要原因之一。在研究金属材料均勻腐蚀时，通常采用重量指标来衡量材料的耐蚀性，这种方法的依据是金属被腐蚀前后重量会产生变化。另外，电镀、化学镀等表面处理的技术可以在金属表面上形成一层功能性镀层，其中，评定镀液好坏的一个重要指标就是镀层的沉积速度。无论是腐蚀实验过程，还是电镀、化学镀等表面处理过程，都涉及到了试片质量变化量的测量。目前，对以上各过程中试片质量变化量的测量都是不连续的，只是测量试片初始状态和终了状态之间的质量差，不能对整个实验过程中试片质量变化量进行连续实时的监测。试片质量变化量的实时监测对研究以上过程是很重要的，对于腐蚀过程而言，试片的质量会随着时间不断变化，同一腐蚀过程中，试片的质量在某一时间段内减小，在另一时间段内质量又可能会增加，如果可以连续实时监测试片在腐蚀过程中质量是如何变化的，将有利于研究试片的腐蚀过程。在电镀等表面处理过程，可以通过监测某一时间段内试片质量的变化，来计算镀层的沉积速度。
发明内容为了解决背景技术中提出的现有技术问题，本实用新型提供了一种试片增失重连续实时测量天平，该种测量天平构思巧妙，在原有电子天平的基础上进行改进，可以连续实时监测试片在腐蚀过程中或电镀过程中质量是如何变化的，从而解决了现有技术中存在的问题。本实用新型的技术方案是该种试片增失重连续实时测量天平，包括带有操作面板的电子天平，其中所述电子天平的平台上固定有一个“L”形的支架，所述支架的一端连接电子天平，另一端呈水平状态，被称为支架水平杆；所述支架水平杆上固定有两个定滑轮支撑架，两端分别连接有吊钩和配重砝码的刚性光滑绳穿过所述两个定滑轮支撑架后，所连接的配重砝码位于电子天平上的测量托盘的中心。另外，所述支架为金属材料制成的支架。本实用新型具有如下有益效果本种试片增失重连续实时测量天平包括传递系统、支撑系统和测量系统。传递系统用于力的传递，配重砝码放置在电子天平的托盘上，为天平提供预先加载，试片质量的变化会通过传递系统传递到配重砝码上，电子天平通过测量配重砝码的变化来测量试片的质量变化，因此，本测量天平可以连续实时监测试片在腐蚀过程中或电镀过程中质量是如何变化的。从而解决了现有技术中存在的问题。


图1是本实用新型的结构剖视图。
3[0009]图中1-定滑轮支撑架，2-刚性光滑绳，3-吊钩，4-支架，5-配重砝码，6_测量托盘，7-操作面板，8-电子天平。
具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步说明如图1所示，该种试片增失重连续实时测量天平，包括带有操作面板7的电子天平 8，其中，所述电子天平8的平台上固定有一个“L”形的支架4，所述支架4的一端连接电子天平8，另一端呈水平状态，被称为支架水平杆；所述支架水平杆上固定有两个定滑轮支撑架1，两端分别连接有吊钩3和配重砝码5的刚性光滑绳2穿过所述两个定滑轮支撑架1 后，所连接的配重砝码5位于电子天平8上的测量托盘6的中心。为保证测量的精准性，所述支架4为金属材料制成的支架。在上述方案中，两个定滑轮支撑架1是通过销钉固定两个定滑轮的，这样，通过两个定滑轮上表面的刚性光滑绳就可以将吊钩一端所受到的作用力传递到配重砝码一端； 而后，电子天平通过测量配重砝码质量的变化量，从而测量试片质量的变化量。利用本装置具体的工作原理和过程如下配重砝码为电子天平提供预先加载，若设配重砝码质量为『，则试片增失重连续实时测量天平的量程为『减去吊钩的质量。使用过程中，要求试片质量和增重量之和小于量程。试，片增失重连续实时测量天平空载时，电子天平示数为零。在腐蚀、电镀、化学镀等过程中，将试片挂到吊钩上，并将试片浸没在腐蚀介质、电镀镀液、化学镀镀液中，此时电子天平测得的质量^为量程值Zf减去试片初始质量在腐蚀、电镀、化学镀等过程中，试片的质量是连续不断发生变化的，电子天平测得的质量《 为量程值/f减去试片在 时刻的质量rxi。由于在腐蚀、电镀、化学镀等过程中5-配重砝码的质量是不变的，只有试片的质量发生变化，那么电子天平在t时刻测得的质量变化量么巧为么巧二巧-巧二评‘-^^-^-^“一二^^-仏，么》;反映的是试片在腐蚀过程中
试片质量的变化量，试片在电镀、化学镀等过程中试片表面镀层质量的变化量。以上所述为试片增失重连续实时测量天平的工作原理。具体应用时，将配重砝码放在电子天平的托盘上，标定试片增失重连续实时测量天平的量程。试片悬挂在吊钩上，将试片浸没于腐蚀介质、电镀镀液、化学镀镀液，同时将电子天平清零，此时电子天平的示数为零。随着腐蚀过程、电镀、化学镀等过程的进行，电子天平的示数即为腐蚀过程中试片质量的变化量，以及试片表面镀层的质量。当试片质量增加时，电子天平示数为正；当试片质量减小时，电子天平示数为负。
权利要求1.一种试片增失重连续实时测量天平，包括带有操作面板(7)的电子天平(8)，其特征在于所述电子天平(8)的平台上固定有一个“L”形的支架(4)，所述支架(4)的一端连接电子天平(8)，另一端呈水平状态，被称为支架水平杆；所述支架水平杆上固定有两个定滑轮支撑架(1)，两端分别连接有吊钩(3)和配重砝码(5)的刚性光滑绳(2)穿过所述两个定滑轮支撑架(1)后，所连接的配重砝码(5)位于电子天平(8)上的测量托盘(6)的中心。
2.根据权利要求1所述的试片增失重连续实时测量天平，其特征在于所述支架(4)为金属材料制成的支架。
专利摘要一种试片增失重连续实时测量天平。主要解决现有测量天平不能连续、实时监测试片在腐蚀或电镀过程中质量变化的问题。其特征在于所述电子天平(8)的平台上固定有一个“L”形的支架(4)，所述支架(4)的一端连接电子天平(8)，另一端呈水平状态，被称为支架水平杆；所述支架水平杆上固定有两个定滑轮支撑架(1)，两端分别连接有吊钩(3)和配重砝码(5)的刚性光滑绳(2)穿过所述两个定滑轮支撑架(1)后，所连接的配重砝码(5)位于电子天平(8)上的测量托盘(6)的中心。该种测量天平构思巧妙，在原有电子天平的基础上进行改进，可以连续实时监测试片在腐蚀过程中或电镀过程中质量是如何变化的，从而解决了现有技术中存在的问题。
文档编号G01G1/20GK202204576SQ201120354220
公开日2012年4月25日 申请日期2011年9月21日 优先权日2011年9月21日
发明者丁俊杰, 叶卫东, 方华, 李其, 程靖 申请人:东北石油大学