专利名称：基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法
技术领域：
本发明属于天线测试领域，具体涉及一种利用回波损耗补偿技术在窄带天线测试中消除多径干扰信号，提高测量天线参数(包括方向图和增益、以及其它参数)精度的使用方法。
背景技术：
衡量一付天线的实际辐射性能，需通过精确的测量。测试环境中(室外开阔场和微波暗室)存在多径干扰，在常规的间接时域测量中，通常采用加时域门的方法去除干扰。这需要有足够的测试带宽，以获得高的距离分辨率。然而，对于窄带天线，特别是低频段天线，其工作带宽窄，对应的距离分辨率难以优于10米量级。当多径信号与直射波的波程差小于 距离分辨率时，其响应在时间(距离)域上相互重叠，不能明确区分和分辨。这种情况下时域加门技术不能有效去除干扰，难以获得高的测量精度。而且在低频段暗室内吸波材料的性能下降，使得暗室侧壁、地面等的多径干扰更严重，测试误差不能满足要求。微波暗室在300MHz以下频段，其静区性能难以优于_30dB，侧壁的多径反射增强，导致天线方向图的测试精度难以达到±1. 5dB ；IOOMHz以下频段恶化到±2dB以上。在外场测试时，由于外部环境的不可控，多径干扰更加严重。通常天线的工作带宽通常取反射系数小于-IOdB (即驻波比小于2)时的频带范围。对于工作带宽小于30MHz的天线，其距离分辨率大于10m，无法通过加时域们去除干扰。

发明内容
为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法，拓展被测天线的测试带宽。技术方案一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法，其特征在于步骤如下步骤I :搭建天线测试系统发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线；步骤2 :测试被测天线的反射系数r (f)；步骤3 :根据测试场地的情况，算出要消除代表第m条多径的多径波Rm和直射波Rtl的最小波程差Ad = Hiin(Rm-Rtl) (m)，得到测试天线所需的扫频带宽
权利要求
1.一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法，其特征在于步骤如下 步骤I:搭建天线测试系统发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线； 步骤2 :测试被测天线的反射系数r (f)； 步骤3 :根据测试场地的情况，算出要消除代表第m条多径的多径波Rm和直射波Rtl的最小波程差A d = min (Rffl-R0)，单位为m，得到测试天线所需的扫频带宽2 ^，由(I)式检验天线测试系统能否满足保精度的测试灵敏度要求；
全文摘要
本发明涉及一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法，其特征在于搭建天线测试系统发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线；根据某一频点的反射系数，可以推算出天线相应频点的辐射能量损耗，并加以数值补偿，使得时-频变换后，时域波形没有畸变。本发明通过对测试带宽进行拓宽，以获取理想的时域分辨率，从而有效抑制多径干扰的影响，将测试技术应用到微波暗室低频段(300MHz以下频段)天线测试，以及有近端强反射体的开阔场测试，可使低频和窄带天线方向图精度改善2dB左右，获得高精度的天线测试结果。
文档编号G01R29/10GK102798769SQ20121027381
公开日2012年11月28日 申请日期2012年8月2日 优先权日2012年8月2日
发明者张麟兮, 郭静远, 宋鹏, 张颖军, 张曼, 张琦, 魏世京 申请人:西北工业大学