专利名称：显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法
技术领域：
本发明涉及一种显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法。
背景技术：
一般来说，显示器除了显示面板之外，还包括了电路板以及驱动芯片以驱动显示 面板的影像显示。通常显示器在制作完成之后，都会进行一系列的检测程序以确认显示器 的显示质量是否符合标准。目前，对于显示面板与电路板之间的接合阻抗以及显示面板与驱动芯片之间的接 合阻抗的检测方式，是使用自动光学检测机台来进行。但是，自动光学检测机台仅能判断出 显示面板与电路板之间以及显示面板与驱动芯片之间的压合导电颗粒数量以及相对位置 是否正常。换言之，自动光学检测机台无法检测出显示面板与电路板之间以及显示面板与 驱动芯片之间实际的接合阻抗值是多少。另一种接合阻抗的检测方式是另外提供电压给显示面板上的两相邻的导线上以 判断是否有短路现象，进而确认是否有压合异常的情形。对于此种检测方法，若有压合缺陷 时通常会直接反应在点亮的显示面板上(例如有闪烁或过度耗电流等等)，但是并非所有 的压合缺陷都可以都能通过此种方法检测出来，因而经常造成遗漏筛选出不良品的情形。 而且上述方法也较为复杂且费时。

发明内容
本发明提供一种显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法，其可以精确且快 速地检测出接合阻抗是否正常。本发明提出一种显示器的接合阻抗的检测系统，包括显示面板、至少一电路板、至 少一驱动芯片以及测试板。显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显 示面板的测试导线以及连接导线电性连接。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接 点，其分别与显示面板的连接导线以及测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电 性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与比较器电性连接。测试板与电路板电性连接。特别 是，测试板提供测试信号，且测试信号经电路板与测试导线而传递至驱动芯片的测试接点 之后，测试信号在比较器中与参考信号比较，再由判断逻辑电路判断所述比较器的比较结果。本发明另提出一种显示器的检测方法，此方法包括提供显示器，其包括显示面板、 与显示面板电性连接的至少一电路板及至少一驱动芯片以及与电路板电性连接的测试板， 且上述的显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。接着进行接合阻抗的测试程 序，所述程序包括由测试板提供测试信号，其中测试信号经电路板与测试导线而传递至驱 动芯片。将测试信号与参考信号进行比较。倘若测试信号大于参考信号时，则经连接导线 其中之一输出第一信号。倘若测试信号小于参考信号时，则经连接导线其中之一输出第二 信号。
本发明再提出一种显示器，包括显示面板、至少一电路板以及至少一驱动芯片。显 示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显示面板的测试导线以及连接导 线。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与显示面板的连接导线以及 测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其 与比较器电性连接。基于上述，本发明在驱动芯片上设置测试接点并且设置对应的比较器以及判断逻 辑电路，通过比较器以及判断逻辑电路的输出信号来判断接合阻抗的良莠。因此本发明的 检测系统及检测方法相较于传统方法具有更精确判断接合阻抗良莠以及更快速完成检测 的优点。为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图 作详细说明如下。



更详细而言，倘若判断逻辑电路308判断比较器306中的测试信号(电压值Vin) 大于参考信号(Vref)时，则判断逻辑电路308将所述比较结果则经连接导线110其中之一 输出第一信号(例如输出1)，其表示测试结果为正常。根据本实施例，上述的第一信号更输 出至测试板400。之后，便可通过与测试板400电性连接的微处理器(MCU)而快速的判读整 体的接合阻抗为正常。相反地，倘若判断逻辑电路308判断比较器306中的测试信号(电压值Vin)小于 参考信号(Vref)时，表示测试信号除了历经驱动芯片300与显示面板100之间的接合阻 抗(R3)、测试导线112的阻抗(R2)以及电路板200与显示面板100之间的接合阻抗(Rl) 之外，还历经了额外的阻抗(Rx)，所述额外的阻抗(Rx)可能是由驱动芯片300与显示面板 100之间的异常接合或/及电路板200与显示面板100之间的异常接合所计算出来的值。 因此，此时判断逻辑电路308将所述比较结果则经由连接导线110其中之一输出第二信号 (例如输出0)，其表示测试结果为异常。之后，便可通过与测试板400电性连接的微处理器 (MCU)而快速的判读整体的接合阻抗为异常。图4是根据本发明另一实施例的显示器的接合阻抗的检测系统的示意图。图4的 实施例与图1实施例相似，因此与图1相同的组件以相同符号表示，且不再重复赘述。图4 的实施例与图1的实施例不同之处在于本实施例在驱动芯片300除了设置有多个连接接点 302之外，还设置了三个测试接点304，所述三个测试接点304是分别设置在驱动芯片300 的左侧位置、中间位置以及右侧位置。而对应上述三个测试接点304下方的显示面板100 中也设置了三个测试导线112(测试接垫112b)。特别是，上述三个测试接点304与比较器 306电性连接。本发明可依照测试需求在驱动芯片300设置一或多个测试接点304，并且在 显示面板100中设置对应的一或多个测试导线112(测试接垫112b)，其设置位置可以依照 需求调整，并不需要特别限制。当在进行接合检测时，可以分别由测试板400对上述三个测试接点304输出测试 信号(电压值Vx)。之后，测试信号(Vin)在比较器306中会与参考信号Vref进行比较，之 后再由判断逻辑电路308判断上述比较器306的比较结果。本实施例在驱动芯片300的左侧位置、中间位置以及右侧位置设置三个测试接点 304，可以更进一步的检测出驱动芯片300与显示面板100之间的接合阻抗在不同位置是否 有异常。特别是，对于使用越大尺寸的驱动芯片300的显示器，此种设计对于测接合阻抗的 精确度越有帮助。另外，图4的实施例是以在驱动芯片300的左侧位置、中间位置以及右侧位置设置 三个测试接点304为例来说明，但本发明不限于此。根据其它实施例，亦可以在驱动芯片 300的左侧位置以及右侧位置设置二个测试接点304 ；或者是在驱动芯片300设置三个以上 的测试接点。再者，倘若在驱动芯片300设置多个测试接点304，则除了可设置一组共享的比较 器306与判断逻辑电路308之外，也可以对应每一个测试接点即设计一组比较器306与判 断逻辑电路308。图5是根据本发明一实施例的显示器的检测方法的流程图。请参照图5，在本实施 例中，显示器的检测方法包括先提供显示器(SlO)。所述显示器可以是液晶显示器、有机电 致发光显示器、电泳显示器、等离子显示器或是其它平面显示器。
接着，进行点亮测试(步骤SU)。所述点亮测试是将显示器全点亮，以检视显示器 的整体画面是否有异常的点亮画面或缺陷。倘若在点亮测试(步骤SU)中发现有异常，则 此显示器则会被判定为不良品(步骤Si； )。上述不良品将视不良严重程度而作报废或者是重工。倘若在点亮测试(步骤S12)结果为正常，则将接着进行接合阻抗测试(步骤 S14)。在本实施例中，接合阻抗测试(步骤S14)可采用如图1所述的接合阻抗的检测系统 或者是采用如图4所示的接合阻抗的检测系统。倘若在接合阻抗测试(步骤S14)中发现有异常，则此显示器则会被判定为不良品 (步骤S15)。换言之，此不良品可能是其驱动芯片与显示面板之间的接合阻抗过高或/及 电路板与显示面板之间的接合阻抗过高。一般来说，当判定显示器的驱动芯片与显示面板 之间的接合阻抗过高或/及电路板与显示面板之间的接合阻抗过高时，会对显示器的驱动 芯片与显示面板的接合程序或/及电路板与显示面板的接合程序进行重工。在完成上述的 重工程序之后，再重新进行接合阻抗测试(步骤S14)。倘若在接合阻抗测试(步骤S14)的结果为正常，则表示此显示器为良品(步骤 S16)，也就是达到可以出货标准。在上述步骤S16中，当显示器被判定为良品之后，在出货之前，会将接合阻抗的检 测系统(图1或图4)中的测试板移除，而形成如图6A或图6B所示的显示器。更详细来说， 图6A的显示器是使用图1的检测系统进行接合检测之后的显示器的示意图，图6B的显示 器是使用图4的检测系统进行接合检测之后的显示器的示意图。在图6A以及图6B的显示 器中，其驱动芯片300内都留下了测试接点304、比较器306及判断逻辑电路308 (甚至是缓 存器310)。由于上述各测试用的组件仅与显示面板100的测试导线112有电性连接的关 系，这些测试用的组件的存在并不会影响显示器的显示操作。综上所述，本发明在显示器的驱动芯片上设置了测试接点并且设置对应的比较器 以及判断逻辑电路，通过比较器以及判断逻辑电路的输出信号即可判断显示器中显示面板 与驱动芯片之间的接合阻抗及/或显示面板与电路板之间的接合阻抗的良莠。因此，本发 明的检测系统及检测方法相较于传统方法具有更精确判断接合阻抗良莠以及更快速完成 检测的优点当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟 悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变 形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，包括一显示面板，其具有至少一测试导线以及多条连接导线；至少一电路板，其与该显示面板的该测试导线以及这些连接导线电性连接；至少一驱动芯片，其包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与该显示面板的 这些连接导线以及该测试导线电性连接；至少一比较器，其与该测试接点电性连接；至少 一判断逻辑电路，其与该比较器电性连接；以及一测试板，其与该电路板电性连接，其中该测试板提供一测试信号，该测试信号经该电路板与该测试导线而传递至该驱动 芯片的该测试接点之后，该测试信号在该比较器中与一参考信号比较，再由该判断逻辑电 路判断该比较器的一比较结果。
2.根据权利要求1所述的显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，该测试导线包 括一测试接垫，其中该测试接点经该测试接垫而与该测试导线电性连接。
3.根据权利要求1所述的显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，该判断逻辑电 路判断该比较器的该比较结果之后，更包括将该比较结果经该连接导线其中之一输出至该 测试板。
4.根据权利要求1所述的显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，该驱动芯片更 包括一缓存器，该判断逻辑电路判断该比较器的该比较结果是寄存于该缓存器中。
5.根据权利要求1所述的显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，该驱动芯片包 括三个测试接点，其分别设置在该驱动芯片的一左侧位置、一中间位置以及一右侧位置。
6.根据权利要求1所述的显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，该至少一驱动 芯片包括至少一栅极驱动芯片、至少一源极驱动芯片、至少一整合芯片或是其组合。
7.根据权利要求1所述的显示器的接合阻抗的检测系统，其特征在于，该至少一电路 板包括至少一软性电路板。
8.—种显示器的检测方法，其特征在于，包括提供一显示器，其包括一显示面板、与该显示面板电性连接的至少一电路板及至少一 驱动芯片以及与该电路板电性连接的一测试板，该显示面板具有至少一测试导线以及多条 连接导线；进行一接合阻抗的测试程序，其包括由该测试板提供一测试信号，其中该测试信号 经该电路板与该测试导线而传递至该驱动芯片；将该测试信号与一参考信号进行一比较步 骤；倘若该测试信号大于该参考信号时，则经该连接导线其中之一输出一第一信号；以及 倘若该测试信号小于该参考信号时，则经该连接导线其中之一输出一第二信号。
9.根据权利要求8所述的显示器的检测方法，其特征在于，在进行该接合阻抗的测试 程序之前，更包括进行一点亮测试程序。
10.根据权利要求8所述的显示器的检测方法，其特征在于，倘若该测试信号的电压值 大于该参考信号的电压值时，该第一信号表示测试结果为正常。
11.根据权利要求8所述的显示器的检测方法，其特征在于，倘若该测试信号的电压值 小于该参考信号的电压值时，该第二信号表示测试结果为异常。
12.根据权利要求8所述的显示器的检测方法，其特征在于，该驱动芯片包括至少一测试接点，其与该显示面板以及该电路板电性连接；至少一比较器，其与该测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与该比较器电性连接。
13.根据权利要求12所述的显示器的检测方法，其特征在于，该驱动芯片更包括一缓 存器，该第一信号或该第二信号输暂存于该缓存器中。
14.根据权利要求12所述的显示器的检测方法，其特征在于，该驱动芯片包括三个测 试接点，其分别设置在该驱动芯片的一左侧位置、一中间位置以及一右侧位置。
15.根据权利要求8所述的显示器的检测方法，其特征在于，更包括将该第一信号或该 第二信号输出至该测试板。
16.一种显示器，其特征在于，包括一显示面板，其具有至少一测试导线以及多条连接导线；至少一电路板，其与该显示面板的该测试导线以及这些连接导线；至少一驱动芯片，其包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与该显示面板的 这些连接导线以及该测试导线电性连接；至少一比较器，其与该测试接点电性连接；以及 至少一判断逻辑电路，其与该比较器电性连接。
17.根据权利要求16所述的显示器，其特征在于，该测试导线包括一测试接垫，其中该 测试接点经由该测试接垫跟该测试导线电性连接。
18.根据权利要求16所述的显示器，其特征在于，该驱动芯片更包括一缓存器。
19.根据权利要求16所述的显示器，其特征在于，该驱动芯片包括三个测试接点，其分 别设置在该驱动芯片的一左侧位置、一中间位置以及一右侧位置。
20.根据权利要求16所述的显示器，其特征在于，该至少一驱动芯片包括至少一栅极 驱动芯片、至少一源极驱动芯片、至少一整合芯片或是其组合。
21.根据权利要求16所述的显示器，其特征在于，该至少一电路板包括至少一软性电 路板。
全文摘要
本发明公开一种显示器及其接合阻抗的检测系统，包括显示面板、至少一电路板、至少一驱动芯片以及测试板。显示面板具有至少一测试导线以及多条连接导线。电路板与显示面板的测试导线以及连接导线电性连接。驱动芯片包括多个连接接点以及至少一测试接点，其分别与显示面板的连接导线以及测试导线电性连接；至少一比较器，其与测试接点电性连接；以及至少一判断逻辑电路，其与比较器电性连接。测试板与电路板电性连接。特别是，测试板提供测试信号，且测试信号经电路板与测试导线而传递至驱动芯片的测试接点之后，测试信号在比较器中与参考信号比较，再由判断逻辑电路判断所述比较器的比较结果。本发明亦公开一种显示器的检测方法。
文档编号G01R27/02GK102122478SQ201010547268
公开日2011年7月13日 申请日期2010年11月12日 优先权日2010年11月12日
发明者林能毅, 陈志明 申请人:友达光电股份有限公司