专利名称：Aoi缺陷检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及PCB检测系统领域，尤其涉及一种AOI缺陷检测系统。
背景技术：
AOI (Automated Optical Inspection自动光学检查)作为检测PCB缺陷的工具被 广泛运用在PCB生产行业中，通过使用AOI技术自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊 接缺陷，从而在装配工艺过程的早期就能查找和消除缺陷，以实现良好的过程控制和避免 将不合格PCB板送到后续的装配阶段，从而避免导致不合格电路板的产生。现有在采用AOI技术检测电路板缺陷时一般是通过一打点笔在AIO检测的缺陷位 置处人工打点标注出缺陷位置，然后再根据人工标识的缺陷位置进行处理。然而，当PCB板 面缺陷太多时，人工打点标识很容易在板面出现标识错误，从而容易导致不合格品处理岗 位的漏处理产生，而漏处理就会使不合格品进行下一工序，而造成更大的损失。

实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种AOI缺陷检测系统，能准确标识并记 录显示电路板上的缺陷，避免不合格品漏处理的情况。为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是提供一种AOI缺陷检 测系统，包括一 AOI检测器，所述AOI检测器上设有一打点笔，所述打点笔的一侧设有一感 应器，所述AOI检测器上还设置有一计数器，所述感应器与所述计数器控制连接。其中，所述计数器连接有一计数显示屏。其中，所述AOI检测器上设有一消除按键，所述消除按键控制连接所述计数器。其中，所述计数显示屏为液晶显示屏。本实用新型的有益效果是区别于现有技术PCB板通过AOI检测缺陷时是通过打 点笔在AIO检测的缺陷位置处人工打点以标注出缺陷位置，缺陷过多人工打点容易出现缺 陷漏处理的情况；本实用新型AOI缺陷检测系统通过在打点笔一侧设置感应器以及与感应 器控制连接的一计数器，当每检测有一处缺陷时打点笔就下压打点标识，感应器就会感因 到并控制计数器加1记录缺陷数目，并显示出来，这样工作人员可以根据计数器记录的缺 陷数目寻找PCB上的标识的缺陷位置，从而不会出现漏数缺陷数目位置而造成对缺陷位置 漏处理让其流入下一工序造成不合格电路板的产生。

图1是本实用新型AOI缺陷检测系统的结构框架图；图2是本实用新型AOI缺陷检测系统的工作原理图；图3是本实用新型AOI缺陷检测系统的结构示意图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施 方式并配合附图详予说明。请参阅图1、图2以及图3，本实用新型AOI缺陷检测系统包括一 AOI检测器10，所 述AOI检测器10上设有一打点笔11，所述打点笔11的一侧设有一感应器12，所述AOI检 测器10上还设置有一计数器13和与计数器13连接的计数显示屏14，所述感应器12控制 连接所述计数器13，本实施例中，所述计数显示屏14为液晶显示屏。请参阅图2，其为本实用新型AOI缺陷检测系统的工作原理图，PCB板经过AOI检 测器10扫描检测时，当扫描检测到有缺陷时，此时打点笔11就自动下压在PCB板上做一次 不合格品标记。并且打点笔11下压时感应器12就会感应识别到并控制计数器13自动计 数加1，并在计数显示屏14上显示出来，便于工作人员观察PCB板上缺陷数目来进行处理缺 陷，从而避免漏掉对缺陷不合格处的处理。AOI检测器10上设置有一清除(GO)按键，该清除(GO)按键和计数器控制连接，当 使用者按下清除按键时，计数器会自动清“0”，准备下一次计数。区别于现有技术的PCB板通过AOI检测缺陷时是通过打点笔在AIO检测的缺陷位 置处人工打点以标注出缺陷位置，缺陷过多人工打点容易出现缺陷漏处理的情况；本实用 新型AOI缺陷检测系统通过在打点笔11 一侧设置感应器以及与感应器控制连接的一计数 器，当每检测有一处缺陷时打点笔11就下压打点标识，感应器就会感因到并控制计数器加 1记录缺陷数目，并通过计数显示屏显示出来，这样工作人员可以根据显示屏上显示出的缺 陷数目寻找PCB上的标识的缺陷位置，从而不会出现漏数缺陷数目位置而造成对缺陷位置 漏处理让其流入下一工序造成不合格电路板的产生。综上所述，本实用新型AOI缺陷检测系统通过感应器感应打点笔11下压打点标 识，并由感应器控制计数器加1记录缺陷数目，并通过计数显示屏显示出来，这样工作人员 可以根据显示屏上显示出的缺陷数目寻找PCB上的标识的缺陷位置，从而不会出现漏数缺 陷数目位置而造成对缺陷位置漏处理让其流入下一工序造成不合格电路板的产生的情况。以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是 利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在 其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求一种AOI缺陷检测系统，包括一AOI检测器，其特征在于，所述AOI检测器上设有一打点笔，所述打点笔的一侧设有一感应器，所述AOI检测器上还设置有一计数器，所述感应器与所述计数器控制连接。
2.根据权利要求1所述的AOI缺陷检测系统，其特征在于，所述计数器连接有一计数显示屏。
3.根据权利要求2所述的AOI缺陷检测系统，其特征在于，所述AOI检测器上设有一消 除按键，所述消除按键控制连接所述计数器。
4.根据权利要求2所述的AOI缺陷检测系统，其特征在于，所述计数显示屏为液晶显示屏。
专利摘要本实用新型公开了一种AOI缺陷检测系统，包括一AOI检测器，所述AOI检测器上设有一打点笔，所述打点笔的一侧设有一感应器，所述AOI检测器上还设置有一计数器，所述感应器与所述计数器控制连接。本实用新型AOI缺陷检测系统通过在打点笔一侧设置感应器以及与感应器控制连接的一计数器，当每检测有一处缺陷时打点笔就下压打点标识，感应器就会感因到并控制计数器加1记录缺陷数目，并显示出来，这样工作人员可以根据计数器记录的缺陷数目寻找PCB上的标识的缺陷位置，从而不会出现漏数缺陷数目位置而造成对缺陷位置漏处理让其流入下一工序造成不合格电路板的产生。
文档编号G01N21/88GK201707302SQ201020160319
公开日2011年1月12日 申请日期2010年4月12日 优先权日2010年4月12日
发明者杨德红, 苏太华 申请人:深南电路有限公司