专利名称：卡规的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测磁芯长度是否符合规定要求的工具，具体的说是一种卡规。
背景技术：
磁芯生产完成后需对磁芯的长度进行检测，测量其长度是否符合在规定的误差范围之内，为了测量磁芯的长度，检测人员往往使用游标卡尺，读出其上的读数是否在规定的范围之内。采用这样的检测方法需要重复将游标卡尺归为，使用较长时间后，游标卡尺会由于磨损而产生误差，从而使得测得的数据与实际数据不一致，达不到测量的效果。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种检测磁芯长度方便、测量准确且无需游标卡尺的卡
规，解决目前测量磁芯长度所存在的测量数据与实际数据不一致的问题。 本实用新型解决其技术问题所采用的技术效果是 卡规，包括底座、支撑台、高挡板、低挡板；支撑台垂直的固定在底座上，高挡板与低挡板固定在支撑台与底座接触面的相邻的侧面上；高挡板的最低点与底座的工作面的距离为磁芯长度的上限高度，低挡板的最低点与底座的工作面的距离为磁芯长度的下限高度。 所述底座与支撑台为一整体。 所述底座、支撑台、高挡板、低挡板为一整体。 所述支撑台为长方形。 所述底座为长方形。 本实用新型的有益效果是，由于设置有高、低挡板，高挡板的最低点与底座工作面的距离为磁芯长度的上限高度，低挡板的最低点与底座工作面的距离为磁芯长度的下限高度，这样磁芯沿着工作面从高挡板逐渐的向低挡板运动时，如果磁芯的长度超过规定的上限长度，则这样的磁芯将会被高挡板挡住，如果磁芯的长度低于规定的下限高度，则这样的磁芯将会通过低挡板，而处于符合要求的磁芯则能通过高挡板且被低挡板挡住，这样就可很方便的挑选出符合要求的磁芯而无需使用卡规。

图1是本实用新型的立体示意图；[0012] 图2是本实用新型的工作原理示意图； 图中1.底座，ll.工作面，2.支撑台，3.高挡板，4.低挡板，5.卡规，6.磁芯。
具体实施方式
请参考图1，本实施例的的卡规5，包括长方形的底座1、长方形的支撑台2、高挡板3、低挡板4 ;支撑台2垂直的固定在底座1上，高挡板3与低挡板4使用螺栓固定在支撑台2与底座1接触面的相邻的侧面上；这样当需要调整高挡板3或者低挡板4与工作面11的高度时即可调整螺栓调整，高挡板3的最低点与底座1的工作面11的距离为磁芯5长度的上限高度，低挡板4的最低点与底座1的工作面ll的距离为磁芯5长度的下限高度。该上限高度是指磁芯5的标准尺寸加上最大上限的误差值，下限高度是指磁芯5的标准尺寸加上最大下限的误差值，为了实际需要，可将底座1与支撑台2做成一整体或者将底座1、支撑台2、高挡板2、低挡板4都做成一整体。 请参考图2，首先将待检测的磁芯5放置在工作面上，将待检测的磁芯5沿高挡板3至低挡板4方向移动，如果磁芯5的长度超过规定的上限长度，则这样的磁芯5将会被高挡板3挡住，如果磁芯5的长度低于规定的下限高度，则这样的磁芯5将会通过低挡板4，而处于符合要求的磁芯5则能通过高挡板3且被低挡板4挡住，这样就可很方便的挑选出符合要求的磁芯5而无需使用卡规。
权利要求卡规，包括底座、支撑台、高挡板、低挡板；其特征在于支撑台垂直的固定在底座上，高挡板与低挡板固定在支撑台与底座接触面的相邻的侧面上；高挡板的最低点与底座的工作面的距离为磁芯长度的上限高度，低挡板的最低点与底座的工作面的距离为磁芯长度的下限高度。
2. 依据权利要求1所述的卡规，其特征在于所述底座与支撑台为一整体。
3. 依据权利要求l所述的卡规，其特征在于所述底座、支撑台、高挡板、低挡板为一整体。
4. 依据权利要求1所述的卡规，其特征在于所述支撑台为长方形。
5. 依据权利要求1所述的卡规，其特征在于所述底座为长方形。
专利摘要本实用新型公开了一种卡规，包括底座、支撑台、高挡板、低挡板；支撑台垂直的固定在底座上，高挡板与低挡板固定在支撑台与底座接触面的相邻的侧面上；高挡板的最低点与底座的工作面的距离为磁芯长度的上限高度，低挡板的最低点与底座的工作面的距离为磁芯长度的下限高度。本实用新型解决目前测量磁芯长度所存在的测量数据与实际数据不一致的问题。
文档编号G01B5/04GK201514174SQ200920169960
公开日2010年6月23日 申请日期2009年9月9日 优先权日2009年9月9日
发明者周继军 申请人:嘉兴市科峰磁电有限公司