专利名称：微孔测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及精密测量仪器技术领域，具体的说是针对Φ0. 95 2. 45mm孔径的微孔尺寸测量定位的装置。
技术背景目前，对于Φ0. 95 2. 45mm孔径的微孔工件进行测量的时候，通常采用二种方式，一是采用手工测量，二是采用高端精密仪器测量，采用手工测量的时候，测量精度受操作者测量技术的影响较大，常常由于操作者的手抖动，而使测量精度不高，而采用高端精密仪器测量的时候，高端精密仪器价格昂贵，测量成本较高。
发明内容为解决上述问题本实用新型提供一种微孔测量装置，所述的微孔测量装置由导套、微调工作台、表座托板、手柄、摇杆、工作台、副导套、副导柱、限位支持、导柱、升降凸轮、 调整螺丝、底板组成，其特征是底板呈长方形，底板的四个角内侧分别设置调整螺丝，用来调整底板使之工作时处于水平状态，底板的内部设置摇杆，摇杆的下端设置升降凸轮，摇杆的上端设置手柄，底板的上边设置四个副导柱，四个副导柱上分别设置副导套，副导套支撑工作台，并对工作台起导向定位作用，底板通过导柱、导套与表座托板进行连接，表座托板的中心位置设置微调工作台，微调工作台的高度通过限位支持进行调节。工作时，先将被测量件放在工作台上，通过调整螺丝将工作台调整水平，通过限位支持调节表座托板与被测量件的距离，将内径量表放在微调工作台的孔中，调整微调工作台使内径量表的测微头对准被测量件的孔，通过下压手柄，带动摇杆，带动升降凸轮，使内径量表的测微头，进入到被测量件的孔中，即可完成测量工作。本实用新型的有益效果是微孔测量装置避免了操作者手抖动的影响，测量成本低。

附图是本实用新型结构示意图，附图中1.导套，2.微调工作台，3.表座托板，4.手柄，5.摇杆，6.工作台，7.副导套，8.副导柱，9.限位支持，10.导柱，11.升降凸轮，12.调整螺丝，13.底板。
具体实施方式
结合附图对本实用新型进一步详细描述，以便公众更好地掌握本实用新型的实施方法，本实用新型具体的实施方案为所述的微孔测量装置由导套1、微调工作台2、表座托板3、手柄4、摇杆5、工作台6、副导套7、副导柱8、限位支持9、导柱10、升降凸轮11、调整螺丝12、底板13组成，其特征是底板13呈长方形，底板13的四个角内侧分别设置调整螺丝 12，用来调整底板13使之工作时处于水平状态，底板13的内部设置摇杆5，摇杆5的下端设置升降凸轮11，摇杆5的上端设置手柄4，底板13的上边设置四个副导柱8，副导柱8上分别设置副导套7，副导套7支撑工作台6，并对工作台6起导向定位作用，底板13通过导柱 10、导套1与表座托板3进行连接，表座托板3的中心位置设置微调工作台2，微调工作台2 的高度通过限位支持9进行调节。工作时，先将被测量件放在工作台6上，通过调整螺丝12将工作台6调整水平，通过限位支持9调节表座托板3与被测量件的距离，将内径量表放在微调工作台2的孔中，调整微调工作台2使内径量表的测微头对准被测量件的孔，通过下压手柄4，带动摇杆5，带动升降凸轮11，使内径量表的测微头，进入到被测量件的孔中，即可完成测量工作。本实用新型的有益效果是微孔测量装置避免了操作者手抖动的影响，测量成本低。
权利要求1.微孔测量装置，由导套(1)、微调工作台( 、表座托板C3)、手柄(4)、摇杆( 、工作台(6)、副导套(7)、副导柱(8)、限位支持(9)、导柱(10)、升降凸轮(11)、调整螺丝(12)、 底板(1 组成，其特征是底板(1 呈长方形，底板(1 的四个角内侧分别设置调整螺丝 (12)，底板(13)的内部设置摇杆(5)，摇杆(5)的下端设置升降凸轮(11)，摇杆(5)的上端设置手柄⑷，底板(13)的上边设置四个副导柱(8)，副导柱(8)上分别设置副导套(7)，副导套(7)支撑工作台(6)，底板(13)通过导柱(10)、导套(1)与表座托板(3)进行连接，表座托板(3)的中心位置设置微调工作台O)。
专利摘要微孔测量装置，由导套、微调工作台、表座托板、手柄、摇杆、工作台、副导套、副导柱、限位支持、导柱、升降凸轮、调整螺丝、底板组成，其特征是底板呈长方形，底板的四个角内侧分别设置调整螺丝，用来调整底板使之工作时处于水平状态，底板的内部设置摇杆，摇杆的下端设置升降凸轮，摇杆的上端设置手柄，底板的上边设置四个副导柱，四个副导柱上分别设置副导套，副导套支撑工作台，并对工作台起导向定位作用，底板通过导柱、导套与表座托板进行连接，表座托板的中心位置设置微调工作台，微调工作台的高度通过限位支持进行调节，本实用新型的有益效果是微孔测量装置避免了操作者手抖动的影响，测量成本低。
文档编号G01B21/14GK202092620SQ20112012307
公开日2011年12月28日 申请日期2011年4月11日 优先权日2011年4月11日
发明者韩秀君, 马新慧 申请人:济宁瑞祥模具有限责任公司