专利名称：主机板电气测试结果数据分析方法
技术领域：
本发明涉及一种数据分析方法，尤其涉及一种对主机板电气测试结果数据进行分析的方法。
背景技术：
目前在对ICT机台或BFT机台中产生的维修报表中的数据进行处理分析时，一般利用人工手动处理数据，由于数据量庞大，手动方式处理需要花费大量时间，且数据准确度及集中性难以保证。

发明内容
鉴于上述问题，本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法。为了达到上述目的，本发明采用了如下的技术方案一种主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，其中，该方法主要包括以下步骤步骤a.主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；步骤b.将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；步骤c.选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，
并计算直通率。较佳的，本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法，其中，所述步骤b 中不良状况主要包括短路、开路以及元件不良，所述步骤c中计算的直通率为不良元件总数与进行测试的元件总数的百分比。相较于先前技术，本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法，其自动对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，不仅准确度得到保证，而且操作简便，有效节约了时间及人力。


图1为本发明所述方法的流程图
具体实施例方式请参照图1所示，为本发明所述主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT 机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，其中，该方法主要包括以下步骤步骤101.主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；步骤102.将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；步骤103.选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，并计算直通率。其中，所述步骤102中的不良状况主要包括短路、开路以及元件不良，所述步骤 103中需计算的直通率为不良元件总数与进行测试的元件总数的百分比。相较于先前技术，本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法，其自动对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，不仅准确度得到保证，而且操作简便，有效节约了时间及人力。权利要求
1.一种主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT机台或BFT机台测试后的主板的不良数据进行分析，其特征在于，该方法主要包括以下步骤步骤a.主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；步骤b.将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；步骤c.选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，并计算直通率。
2.根据权利要求1所述的主机板电气测试结果数据分析方法，其特征在于，所述步骤b 中不良状况主要包括短路、开路以及元件不良。
全文摘要
本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，其中，该方法主要包括以下步骤主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，并计算直通率。本发明自动对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，不仅准确度得到保证，而且操作简便，有效节约了时间及人力。
文档编号G01R31/02GK102236058SQ201010156289
公开日2011年11月9日 申请日期2010年4月27日 优先权日2010年4月27日
发明者颜晓华 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司