专利名称：一种pcb板测试架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种PCB板测试架。
背景技术：
PCB板测试架为PCB板生产测试环节中的重要设备，通常包括上模与下模，测试时 上模与下模相对运动并靠近，此时二者之间的定位就靠置于模上的对位柱或定位销与定位 孔的一一对应加以确认。但是原有结构的测试架使用过程中，对位柱或定位销受压过程中 容易变形和偏斜，存在稳固性差和对位导向精度差的缺陷。我国实用新型专利号为200720065507. 0的实用新型“一种印制线路板通用测试 模具”公开了一种印制线路板通用测试模具，包括定位销，其特征是所述定位销包括一套 管，在套管内活动装有头部为锥形的销杆，套管内设有销杆回位弹簧。本实用新型的测试模 具在上、下模具对位时，能在一定程度上克服销孔与定位销不同轴的一定偏差。但是由于定 位销的稳定性原因，还无法做到更高的定位精度，且由于定位销的不稳定，模具存在耐用性 方面的问题。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种对位导向精度高，耐用的PCB板测试架。为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为一种PCB板测试架，包括上模与 下模，上模与下模可以做垂直方向与水平方向的相对运动，上模设有上支持柱，下模设有下 支持柱并设有PCB板定位装置，上支持柱与下支持柱数目相同，安装位置一一对应，所述上 支持柱与下支持柱的对应端为彼此配合的凹入与凸出形状，所述上支持柱与下支持柱分 别有一段截面积大于支持柱主体截面积的柱体，该柱体位于所在的上模或下模的表面或埋 入所在的上模或下模内部。其中，所述凹入与凸出形状的上支持柱与下支持柱对应端的轴向截面为圆滑的曲 线。其中，所述凹入与凸出形状的上支持柱与下支持柱对应端为圆台状凹入与圆台状 凸出形状。其中，所述上支持柱的对应端为凹入形状，下支持柱的对应端为凸出形状。其中，下支持柱包括套筒，套筒内装有顶部凸出的对位针，对位针与套筒之间为轴 向相对运动配合，套筒与对位针通过套筒内的复位弹簧相连接。其中，所述柱体的位置位于所在的上支持柱或下支持柱的底端。其中，所述柱体分别埋入所在的上模或下模中。其中，所述柱体为圆柱体。本实用新型的技术效果在对位过程中，上下支持柱刚接触可能稍有偏差，但是在 上下模继续接近的过程中，在支持柱的凹点不完全对应凸点的情况下，上下模之间垂直方 向的压力通过支持柱对应端的凹凸结构产生一个水平方向的分力，这个分力逐渐引导二者水平方向的位置调整至一致，由于上支持柱与下支持柱分别有一段截面积大于支持柱主体 截面积的柱体，该柱体位于所在的上模或下模的表面或埋入所在的上模或下模内部，起到 了稳定支持柱的作用，不易使支持柱偏移，从而使对位过程更精确，也避免了支持柱的晃动 损坏模具，而且上模采用安装上支持柱，而非采用销孔的结构，使用时下支持柱不直接与上 模相接触，保护了上模，使设备更加耐用，所以本实用新型导向精度较高，并且不易损坏。
以下结合附图
和具体实施方式
对本实用新型做进一步说明。图la为本实用新型实施例PCB板测试架上模示意图；图lb为本实用新型实施例PCB板测试架下模示意图；图2a为本实用新型实施例上支持柱结构示意图；图2b为本实用新型实施例下支持柱结构示意图；图3a为本实用新型实施例测试架上支持柱部分结构示意图；图3b为本实用新型实施例测试架下支持柱部分结构示意图。
具体实施方式
本实施例提供了一种对位导向精度高，支持柱不易变形和偏斜，稳固性好的PCB 板测试架。该PCB板测试架，包括上模1与下模2，上模上表面12，下表面11，上模1与下模2 可以做垂直方向与水平方向的相对运动，上模1设有上支持柱3，上支持柱3埋入上模1中； 下模2上表面21，下表面22，下模2设有下支持柱4 ；测试架下表面设有PCB板定位装置5， 本实施例中PCB板定位装置为定位柱，在实际应用中可以根据需要改为定位孔与定位销的 配合。上支持柱3与下支持柱4数目各为4个，安装位置一一对应，所述上支持柱3与下支 持柱4的对应端31，41分别为彼此配合的凹入与凸出形状。上支持柱的对应端31为凹入 形状，下支持柱的对应端41为凸出形状。本实施例中凹入与凸出形状的上支持柱与下支持柱对应端31，41可以采用如图 所示的圆台状，也可以采用轴向截面为圆滑的曲线的形状。其中圆台状的凹凸结构便于加 工生产，而轴向截面为圆滑的曲线形状的凹凸结构则在对接的时候导向更平滑。下支持柱4包括套筒44，套筒44内装有顶部凸出的对位针42，对位针42与套筒 44之间为轴向相对运动配合，套筒44与对位针42通过套筒44内的复位弹簧43相连接。 下支持柱4采用分体式设计，将复位弹簧43、对位针42与套筒44形成刚性稳固配合，同时 较易损伤的对位针42可替换使用，套筒44可重复使用，节约了维修成本。复位弹簧43使 上下支持柱3，4接触时有一个缓冲作用，而且二者相接触后复位弹簧43的弹性使上下支持 柱3，4的结合更可靠。上支持柱3与下支持柱4底端分别有一段直径大于支持柱主体直径的圆柱32，45， 圆柱32，45埋入所在的上模1或下模2内部。在上下模底部采用圆柱型底座设计，增强支 持柱的稳定性，从而上下模在接触对位过程中保持稳固，不易发生偏斜。在实际使用过程中，上模1固定不动，固定有PCB板的下模2上升(当然如果下模 不动，上模下降，或者二者同时运动也是可以的)，二者通过上下支持柱3，4相对位，在对位 过程中，上下支持柱刚接触可能稍有偏差，但是在上下模继续接近的过程中，在支持柱的凹点不完全对应凸点的情况下，上下模之间垂直方向的压力通过支持柱对应端的凹凸结构产 生一个水平方向的分力，这个分力逐渐引导二者水平方向的位置调整至一致，。本实用新型应用在PCB板测试过程中，能有效提升测试架的对位精度和稳定程 度，从而提升了 PCB的测试效率。以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是 利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在 其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求一种PCB板测试架，其特征在于，包括上模与下模，上模与下模可以做垂直方向与水平方向的相对运动，上模设有上支持柱，下模设有下支持柱并设有PCB板定位装置，上支持柱与下支持柱数目相同，安装位置一一对应，所述上支持柱与下支持柱的对应端为彼此配合的凹入与凸出形状，所述上支持柱与下支持柱分别有一段截面积大于支持柱主体截面积的柱体，该柱体位于所在的上模或下模的表面或埋入所在的上模或下模内部。
2.根据权利要求1所述的PCB板测试架，其特征在于，所述凹入与凸出形状的上支持柱 与下支持柱对应端的轴向截面为圆滑的曲线。
3.根据权利要求2所述的PCB板测试架，其特征在于，所述凹入与凸出形状的上支持柱 与下支持柱对应端为圆台状凹入与圆台状凸出形状。
4.根据权利要求3所述的PCB板测试架，其特征在于，所述上支持柱的对应端为凹入形 状，下支持柱的对应端为凸出形状。
5.根据权利要求4所述的PCB板测试架，其特征在于，所述下支持柱包括套筒，套筒内 装有顶部凸出的对位针，对位针与套筒之间为轴向相对运动配合，套筒与对位针通过套筒 内的复位弹簧相连接。
6.根据权利要求5所述的PCB板测试架，其特征在于，所述柱体的位置位于所在的上支 持柱或下支持柱的底端。
7.根据权利要求6所述的PCB板测试架，其特征在于，所述柱体分别埋入所在的上模或 下模中。
8.根据权 要求7所述的PCB板测试架，其特征在于，所述柱体为圆柱体。
专利摘要本实用新型的目的在于提供一种对位导向精度高，耐用的PCB板测试架。该PCB板测试架，包括上模与下模，上模与下模可以做垂直方向与水平方向的相对运动，上模设有上支持柱，下模设有下支持柱并设有PCB板定位装置，上支持柱与下支持柱数目相同，安装位置一一对应，所述上支持柱与下支持柱的对应端为彼此配合的凹入与凸出形状，所述上支持柱与下支持柱分别有一段截面积大于支持柱主体截面积的柱体，该柱体位于所在的上模或下模的表面或埋入所在的上模或下模内部，起到了稳定支持柱的作用，不易使支持柱偏移，上支持柱使下支持柱不直接接触上模，保护了上模，从而使对位过程更精确，测试架更耐用。
文档编号G01R1/04GK201654072SQ20092026119
公开日2010年11月24日 申请日期2009年12月3日 优先权日2009年12月3日
发明者吴迎新, 申伟, 邢杰亮 申请人:深南电路有限公司