专利名称：颗粒缺陷检测器的制作方法
技术领域：
本实用新型属于生产产品检测装置，特别涉及一种颗粒缺陷检测器。
背景技术：
在生产药物颗粒的外形检测上，此前检测装置均匀单一线阵检测方式， 多采用组合光敏器件，检测精度低，在药粒下落姿态与检测面近似垂直时很 难判断出缺损药粒，只可捡出外形差异较大的异物。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种颗粒缺陷检测'器。 本实用新型的技术方案是
一种颗粒缺陷检测器，其特征在于有一对相互垂直的投光灯，在每个 投光灯的对面各设置一台线阵CCD视觉探头检测器，两个线阵CCD视觉探 头检测器分别连接计算机。
本实用新型效果是
颗粒缺陷检测器该检测器以两个线阵CCD视觉探头为检测器件，组成两 个相互垂直的二维检测图像，经软件处理可以描绘药粒轮廓，与标准轮廓对 比捡出有缺陷的药粒(缺损或半片)和异物，经执行机构可将其剔除，同时 对正常与缺损药粒分别计数。本装置可检测一切产品的外形缺陷。


图1是颗粒缺陷检测器的结构示意图
图2是颗粒缺陷检测器的检测例一示意图 图3是颗粒缺陷检测器的检测例二示意图具体实施方式
如图1所示的一种颗粒缺陷检测器，有一对相互垂直的投光灯左右方 向的投光灯4、前后方向的投光灯5，在每个投光灯的对面各设置一台线阵
3CCD检测器视觉探头左右方向的线阵CCD检测器视觉探头1、前后方向的 线阵CCD检测器视觉探头2 。两个线阵CCD视觉探头检测器分别连接计算机。 图中3是被测物体，如药粒。
如图2、 3是检测时所遇到的两种状态。图2药粒6—般姿态，图3药粒 7与检测面垂直姿态。
颗粒缺陷检测器设置在药粒检测线上垂直下落的通道上，该检测器以两 个线阵CCD视觉探头为检测器件，组成两个相互垂直的二维检测图像，经计 算机软件处理可以描绘药粒轮廓，与标准轮廓对比检出有缺陷的药粒(缺损 或半片)和异物，经执行机构可将其剔除，同时对正常与缺损药粒分别计数。
本装置可检测一切产品的外形缺陷。
权利要求1、一种颗粒缺陷检测器，其特征在于有一对相互垂直的投光灯，在每个投光灯的对面各设置一台线阵CCD视觉探头检测器，两个线阵CCD视觉探头检测器分别连接计算机。
专利摘要一种颗粒缺陷检测器，有一对相互垂直的投光灯，在每个投光灯的对面各设置一台线阵CCD视觉探头检测器，两个线阵CCD视觉探头检测器分别连接计算机。本颗粒缺陷检测器以两个线阵CCD为检测器件，组成两个相互垂直的二维检测图像，经软件处理可以描绘药粒轮廓，与标准轮廓对比检出有缺陷的药粒(缺损或半片)和异物，经执行机构可将其剔除，同时对正常与缺损药粒分别计数。本装置还可检测一切产品的外形缺陷。
文档编号G01N21/88GK201402249SQ200920095808
公开日2010年2月10日 申请日期2009年3月9日 优先权日2009年3月9日
发明者贺智勇 申请人:天津市恒源传感器技术有限公司