专利名称：一种等离子显示器pdp的电极扫描装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于等离子显示器技术领域，尤其涉及一种等离子显示器rop的电极扫描装置。
背景技术：
PDP (Plasma Display Panel,等离子显不器)是继 CRT (Cathode Ray Tube,阴极射线管)、LCD (Liquid Crystal Display,液晶显示器)后的最新一代显示器。电极是F1DP的重要部件，电极的外观形貌规整才能保障PDP放电良好。电极的外观形貌存在缺陷，则导致PDP放电障碍，从而TOP的成品率降低。因此，需要对电极进行扫描取像，筛选出有缺陷的电极，进行处理。目前常用的方法是采用单排垂直扫描装置对电极进行扫描取像。请参阅附图1，垂直扫描装置由垂直光源01、扫描区域02、(XD03组成。垂直光源01设置在扫描区域02正上方，(XD03设置在扫描区域02正下方，扫描区域02上放置被测电极04。垂直光源01发出垂直光照射在电极04的上，CCD03扫描电极在垂直光下的投影。根据CCD03扫描到的电极04投影判断电极的外观形貌是否存在缺陷。由于，现有技术中CCD03在电极04背面单排扫描取像和垂直光源方向的局限性，造成电极的部分外观形貌缺陷不能被检测出来。

实用新型内容有鉴于此，本实用新型提供一种等离子显示器rop的电极扫描装置，以解决现有技术中，电极的部分外观形貌缺陷不能被检测出来的问题。为了达到上述目的，本实用新型提供如下技术方案一种等离子显示器rop电极扫描装置，包括扫描区域12 ；并排设置在扫描区域12顶部上方的垂直光单元与第二 CXD单元14，及与第二 CXD单元14同排，位于第二 CXD单元14两侧的倾斜光单元，垂直光单元与第二 CXD单元14相邻;设置在扫描区域12底部下方,与垂直光单兀位于同一垂直面的第一 (XD单兀；扫描区域12上设置被测元件电极11。其中，倾斜光单元由左倾斜光单元151和右倾斜光单元152组成。优选的，左倾斜光单元151与右倾斜光单元152之间的夹角为60度。优选的，左倾斜光单元151与右倾斜光单元152之间的夹角为90度。优选的，左倾斜光单元151与右倾斜光单元152之间的夹角为120度。由于本实用新型提供的一种等离子显示器TOP的电极扫描装置中，具有两排光源，一排具有垂直光单元，另一排具有第二 CCD单元，以及位于第二 CCD单元两侧的倾斜光单元，采用多角度对电极进行照射，并利用第一 CCD单元在电极背面扫面电极在垂直光单元下的投影，第二 CCD单元在电极上方扫面电极，从而实现在多角度光源下对电极的全面扫描，以及全方位的检测电极的外观形貌缺陷的目的。

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I是现有技术中提供的等离子显示器rop的电极扫描装置示意图；图2是本实用新型中提供的一种等离子显示器rop的电极扫描装置示意图。上图I、图2中 垂直光单元01、扫描区域02、(XD03、电极04、电极11、扫描区域12、第二 (XD单元14、左倾斜光单元151、右倾斜光单元152。
具体实施方式
本实用新型提供了一种等离子显示器rop的电极扫描装置，实现能够将电极的外观形貌缺陷全部检测出来的目的。为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。请参阅附图2，本实用新型实施例提供的一种等离子显示器rop的电极扫描装置的结构示意图。本实施例提供的等离子显示器rop的电极扫描装置中，包括扫描区域12，整个等离子显示器rop的电极扫描装置扫描的场所；并排设置在扫描区域12顶部上方的垂直光单元(图中未示出)与第二 C⑶单元14，与第二 CXD单元14同排，位于第二 CXD单元14两侧的倾斜光单元，垂直光单元与第二 CXD单元14相邻；设置在扫描区域12底部下方，与垂直光单元位于同一垂直面的第一 C⑶单元(图中未标示)；在本实用新型实施例中，第一 CCD单元与第二 CCD单元14处于不同的垂直平面。扫描区域12上设置被测元件电极11。本实用新型实施例提供的一种等离子显示器I3DP的电极扫描装置中，在扫描区域12上方为双排设置，其中，垂直光单元单独为一排，与其相邻的另一排上设置有第二 C⑶单元14和位于其两侧的倾斜光单元，其中，第二 CCD单元14与垂直光单元邻接。本实用新型实施例提供的一种等离子显示器rop的电极扫描装置中，倾斜光单元由左倾斜光单元151和右倾斜光单元152组成。左倾斜光单元151设置在第二 (XD单元14左侧，右倾斜光单元152设置在第二 CXD单元14右侧。左倾斜光单元151、右倾斜光单元152和第二 CXD单元14在同一垂直平面上。[0031]在进行扫描的过程中在扫描区域12上放置被测元件电极11，垂直光单元发射出垂直光束照射在扫描区域12上的被测元件电极11上。同时，位于第二 CXD单元14两侧的倾斜光单元，即左倾斜光单元151、右倾斜光单元152发射出倾斜光束，并照射在扫描区域12上的被测元件电极11上。设置在扫描区域12底部下方的第一 CXD单元扫描电极11在垂直光单元、左倾斜光单元151、右倾斜光单元152照射电极11所得投影，即扫描电极11的背面，检测电极11的背面是否存在缺陷。第二 CCD单元14则扫描电极11的正面，以便于解决仅从扫描电极11的背面无法确定是否存在异物的情况。在上述本实用新型所公开的实施例中，左倾斜光单元151与右倾斜光单元152之间的夹角为60度 120度。其中，较为优选的角度，左倾斜光单元151与右倾斜光单元152之间的夹角为90度。基于上述本实用新型公开的一种等离子显示器rop的电极扫描装置，能够实现在多角度光源下对电极11进行照射，在扫描区域底部下方的第一 CCD单元和扫描区域顶部上方的第二 CCD单元14，能够全方位的，从正面与背面对电极11进行扫描，从而实现全面的检测电极11的外观形貌缺陷的目的。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
权利要求1.一种等离子显示器rop电极扫描装置，其特征在于，包括 扫描区域(12); 并排设置在所述扫描区域(12)顶部上方的垂直光单元与第二 C⑶单元(14)，及与所述第二 CXD单元(14)同排，位于所述第二 CXD单元(14)两侧的倾斜光单元，所述垂直光单元与第二 CXD单元(14)相邻； 设置在所述扫描区域(12)底部下方，与所述垂直光单元位于同一垂直面的第一 CCD单元; 所述扫描区域(12 )上设置被测元件电极(11)。
2.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，包括所述倾斜光单元由左倾斜光(151)和右倾斜光(I52)组成。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，包括所述左倾斜光(151)与右倾斜光(152)之间的夹角为60度。
4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，包括所述左倾斜光(151)与右倾斜光(152)之间的夹角为90度。
5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，包括所述左倾斜光(151)与右倾斜光(152)之间的夹角为120度。
专利摘要本实用新型提供了一种等离子显示器PDP电极扫描装置，包括扫描区域；并排设置在扫描区域顶部上方的垂直光单元与第二CCD单元，及位于第二CCD单元两侧的倾斜光单元，垂直光单元与第二CCD单元相邻；设置在扫描区域底部下方的第一CCD单元；扫描区域上设置电极。倾斜光单元由左倾斜光单元和右倾斜光单元组成。左倾斜光单元与右倾斜光单元之间的夹角为60度或90度或120度。本实用新型提供的等离子显示器PDP电极扫描装置能扫描到电极在多角度光源下的投影，从而能全面的获取电极的外观形貌缺陷。
文档编号G01N21/88GK202562853SQ20112057061
公开日2012年11月28日 申请日期2011年12月30日 优先权日2011年12月30日
发明者何春华 申请人:安徽鑫昊等离子显示器件有限公司