专利名称：测试线缆及测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试线缆及测试系统。
背景技术：
SATA(Serial Advanced Technology Attachment)，即串行高技术附件，是一种基于行业标准的串行硬件驱动器接口。目前已有多种用于测试SATA接口的SATA测试装置。 如一型号为C0MAX/H303000202-G-0275的SATA测试装置。这种SATA测试装置的输出端连接一硬质的同轴电缆，该同轴电缆的另一端设有一射频同轴(Sub-Miniature-A，SMA)母头。通过一两端都为SMA公头的射频同轴连接线连接于所述同轴电缆及一示波器的SMA母头之间。如此，信号从SATA测试装置传输到示波器的过程中经过了四个SMA接头，使得信号强度下降；且硬质的同轴电缆弯曲的角度不能太大，否则容易造成同轴电缆断裂或同轴电缆的母头接触不良，因此容易导致测试结果失真。

发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种能使信号传输时不容易失真的测试线缆及测试系统。一种测试线缆，包括一软质的射频同轴连接线，所述射频同轴连接线的第一端与一 SATA测试装置的输出端固定相连；及一射频同轴公头，所述射频同轴连接线的第二端与所述射频同轴公头相连，所述射频同轴公头用于与一示波器的输入端相连。一种测试系统，包括一 SATA测试装置，包括一输入端及若干输出端，所述SATA测试装置的输入端用于与一待测SATA接口相连；若干测试线缆，每一测试线缆均包括一软质的射频同轴连接线及一射频同轴公头，每一射频同轴连接线的第一端与所述SATA测试装置的一输出端固定相连，每一射频同轴连接线的第二端与一射频同轴公头相连；及一示波器，包括若干输入端，每一射频同轴连接线的射频同轴公头对应与所述示波器的一输入端相连。上述测试线缆通过所述射频同轴连接线与所述SATA测试装置的一输出端相连， 所述射频同轴公头与所述示波器的一输入端相连。所述测试系统在测试时，信号从所述 SATA测试装置传输到所述示波器的过程中只经过了两个射频同轴接头，使得信号强度加强。而软质的射频同轴连接线由于可弯曲的角度较大，因此射频同轴连接线不容易断裂且与所述射频同轴公头连接处接触较好。如此，所述测试系统测试时的结果不容易失真。


图1是本发明测试系统的示意图。
主要元件符号说明
SATA测试装置100
测试线缆200
示波器300
射频同轴连接线210
SMA公头220
输入端110,310
输出端120
具体实施例方式下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述请参考图1，本发明测试系统测试一 SATA接口(图未示)。所述测试系统包括一 SATA测试装置100、四条测试线缆200及一示波器300。本实施方式中，本发明测试系统通过测试一具有SATA接口的硬盘以测试所述SATA接口是否工作正常。所述SATA测试装置100的型号为C0MAX/H303000202-G-0275，所述SATA测试装置 100包括一输入端110及四个输出端120。所述SATA测试装置100的输入端110用于与所述待测SATA接口相连。每一测试线缆200包括一软质的射频同轴连接线210及一射频同轴 (Sub-Miniature-A, SMA)公头 220。每一测试线缆200的射频同轴连接线210的第一端与所述SATA测试装置100的一输出端120固定相连，第二端与所述SMA公头220相连。所述SMA公头220用于与所述示波器300相连。所述示波器300包括四个输入端310，每一输入端310均为SMA母头。每一射频同轴连接线210的SMA公头对应与所述示波器300的一输入端310相连。测试时，所述SATA测试装置100的四个输出端120分别将所述SATA接口工作时的四个信号传送到所述四条射频同轴连接线210中。所述SATA接口的四个信号再分别依次经过一射频同轴公头220及示波器300的一输入端310传送到所述示波器300中。通过观察所述示波器300显示的信号波形可判断所述SATA接口是否工作正常。上述测试线缆200通过所述射频同轴连接线210与所述SATA测试装置100的一输出端120相连，所述SMA公头220与所述示波器300的一输入端310相连。所述测试系统在测试时，信号从所述SATA测试装置100传输到所述示波器300的过程中只经过了两个 SMA接头，使得信号强度加强。而软质的射频同轴连接线210由于可弯曲的角度较大，因此射频同轴连接线210不容易断裂且与所述SMA公头220连接处接触较好。如此，所述测试系统测试时的结果不容易失真。
权利要求
1.一种测试线缆，包括一软质的射频同轴连接线，所述射频同轴连接线的第一端与一 SATA测试装置的输出端固定相连；及一射频同轴公头，所述射频同轴连接线的第二端与所述射频同轴公头相连，所述射频同轴公头用于与一示波器的输入端相连。
2.一种测试系统，包括一 SATA测试装置，包括一输入端及若干输出端，所述SATA测试装置的输入端用于与一待测SATA接口相连；若干测试线缆，每一测试线缆均包括一软质的射频同轴连接线及一射频同轴公头，每一射频同轴连接线的第一端与所述SATA测试装置的一输出端固定相连，每一射频同轴连接线的第二端与一射频同轴公头相连；及一示波器，包括若干输入端，每一射频同轴连接线的射频同轴公头对应与所述示波器的一输入端相连。
3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于所述SATA测试装置的型号为COMAX/ H303000202-G-0275o
4.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于所述示波器的若干输入端均为射频同轴母头。
全文摘要
一种测试线缆，包括一软质的射频同轴连接线及一射频同轴公头。射频同轴连接线的第一端与一SATA测试装置的输出端固定相连，第二端与所述射频同轴公头相连，所述射频同轴公头用于与一示波器的输入端相连。本发明还提供了一种包括若干上述测试线缆的测试系统。
文档编号G01R1/24GK102193011SQ20101012623
公开日2011年9月21日 申请日期2010年3月16日 优先权日2010年3月16日
发明者何瑞雄, 洪永程, 苏旺丁 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司