专利名称：一种端子连接检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电气设备技术领域，特别是涉及一种端子连接检测装置。
背景技术：
在各种工业电气设备内部，均大量使用连接端子，目的可以是信号传输，也可以是电源转接等等。现有技术中，连接端子一般采用机械式固定，其中一种固定方式是通过在连接端子上安装固定外壳，将外壳通过螺钉等方式与欲连接的端子相固定，也有一些是采用塑料卡式固定。上述机械式固定方式虽然能够在一定程度上实现连接端子之间的固定，但是仍然存在连接不稳定的缺陷，一旦连接端子之间连接出现问题，电气设备将无法正产工作，甚至还会出现损坏等后果。更重要的是，现有技术中的固定方式，无法实时地检测连接端子的连接情况，因此，设备的控制中心就无法针对连接的状况制定相应的控制方案，故不能在连接端子出现连接故障时采取相应的控制措施而避免出现不可预料的故障后果，给电气设备的使用造成较大的麻烦。因此，针对现有技术的不足，提供一种能够及时检测连接端子连接故障的端子连接检测装置以克服现有技术不足之处甚为必要。

发明内容
本发明的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种端子连接检测装置，该端子连接检测装置能够实时检测连接端子的连接情况。本发明的目的通过以下技术措施实现。一种端子连接检测装置，用于检测连接端子PA和连接端子PB的连接状况，连接端子PA设置有检测端子C0NNECT-A和GNDl，检测端子PB设置有检测端子C0NNECT-B和GND2 ，其特征在于所述端子连接检测装置设置有探测单元、分析单元和输出单元，所述探测单元的输入端与所述检测端子CONNECT-A、GNDl、C0NNECT-B和GND2连接，所述探测单元的输出端与所述分析单元的输入端连接，所述分析单元的输出端与所述输出单元的输入端连接。进一步的，上述探测单元设置有电阻Rl 1、电容Cl 1、电阻R21和电容C21 ；
所述电阻Rll的一端与所述检测端子C0NNECT-A连接，所述电阻Rll的另一端与所述电容Cll的一端连接，所述电容Cll的另一端与所述检测端子GNDl连接；
所述电阻R21的一端与所述检测端子C0NNECT-B连接，所述电阻R21的另一端与所述电容C21的一端连接，所述电容C21的另一端与所述检测端子GND2连接；
所述电阻Rll的另一端、所述电阻R21的另一端与所述分析单元的输入端连接。优选的，上述电阻Rll为470欧，所述电容Cll为IOOnF,所述电阻R21为470欧， 所述电容C21为IOOnF。进一步的，上述分析单元设置有电阻R12、光耦IS01、二极管D11、二极管D12、电阻 R22、光耦IS02、二极管D21和二极管D22 ；所述光耦ISOl的1端接+5V电位，所述光耦ISOl的2端、所述二极管Dll的正极与所述电阻Rll的另一端连接，所述光耦ISOl的3端与GND3连接，所述电阻R12的一端接 +3. 3V电位，所述电阻R12的另一端、所述光耦ISOl的4端与所述二极管D12的正极连接； 所述光耦IS02的1端、所述二极管Dll的负极、所述二极管D21的负极接+5V电位，所述光耦IS02的2端、所述二极管D21的正极与所述电阻R21的另一端连接，所述光耦IS02 的3端与GND3连接，所述电阻R22的一端接+3. 3V电位，所述电阻R22的另一端、所述光耦 IS02的4端与所述二极管D22的正极连接；
所述二极管D12的负极、所述二极管D22的负极与所述输出单元的输入端连接。优选的，上述电阻R12为1.5千欧，所述电阻R22为1. 5千欧。进一步的，上述输出单元设置有电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C3和三极管Q3 ； 所述电阻R3的一端与二极管D12的负极连接，所述电阻R3的另一端、所述电阻R4的
一端、所述电容C3的一端与所述三极管Q3的基极连接，所述电阻R4的另一端、所述电容C3 的另一端、所述三极管Q3的发射极与GND3连接，所述电阻R5的一端接+3. 3V电位，所述电阻R5的另一端与所述三极管Q3的集电极连接。优选的，上述电阻R3为1千欧，所述电阻R4为47千欧，所述电阻R5为4. 7千欧， 所述电容C3为100nF。一种端子连接检测装置，用于检测连接端子PA和连接端子PB的连接状况，连接端子PA设置有检测端子C0NNECT-A和GNDl，检测端子PB设置有检测端子C0NNECT-B和GND2 ，所述端子连接检测装置设置有探测单元、分析单元和输出单元，所述探测单元的输入端与所述检测端子CONNECT-A、GNDUC0NNECT-B和GND2连接，所述探测单元的输出端与所述分析单元的输入端连接，所述分析单元的输出端与所述输出单元的输入端连接。本发明的一种端子连接检测装置通过探测单元实时监控系统连接端子的连接状态，能够在连接端子出现问题时，系统可以做出相应的处理动作，从而避免系统问题的发生。


结合附图对本发明作进一步的描述，但附图中的内容不构成对本发明的任何限制。图1是连接端子PA和连接端子PB的示意图。图2是本发明一种端子连接检测装置的实施例1的电路图。图3是本发明一种端子连接检测装置的实施例2的电路图。在图2、图3中，包括 探测单元100、
分析单元110、 输出单元300。
具体实施例方式结合以下实施例对本发明作进一步描述。实施例1。系统中存在PA与PB两个连接端子需要连接。为了检测PA与PB连接的状态，需要将每个端子的两个引脚开辟为检测用端子。如图1所示，连接端子PA设置有两个检测端子第13脚C0NNECT_A和第1脚GNDl。连接端子PB设置有两个检测端子第13脚GND2和第1脚C0NNECT_B。如果连接端子PA与连接端子PB连接良好，那么C0NNECT_A将与GNDl 可靠连接，C0NNECT_B也将与GND2可靠连接。需要说明的是，本发明适合检测各类具有不同管脚的连接端子，也可以检测连个连接在一起的连接端子的任何管脚。一种端子连接检测装置，如图2所示，用于检测连接端子PA和连接端子PB的连接状况。端子连接检测装置设置有探测单元100、分析单元200和输出单元300。探测单元 100的输入端与检测端子CONNECT-A、GNDUC0NNECT-B和GND2连接，探测单元100的输出端与分析单元200的输入端连接，分析单元200的输出端与输出单元300的输入端连接。探测单元100设置有电阻Rll、电容Cll、电阻R21和电容C21。电阻Rll的一端与检测端子C0NNECT-A连接，电阻Rll的另一端与电容Cll的一端连接，电容Cll的另一端与所述检测端子GNDl连接。电阻R21的一端与检测端子C0NNECT-B连接，电阻R21的另一端与电容C21的一端连接，电容C21的另一端与所述检测端子GND2连接。电阻Rll的另一端、电阻R21的另一端与分析单元200的输入端连接。分析单元200设置有电阻R12、光耦IS01、二极管D11、二极管D12、电阻R22、光耦 IS02、二极管D21和二极管D22。光耦ISOl的1端接+5V电位，光耦ISOl的2端、二极管Dll的正极与电阻Rll的另一端连接，光耦ISOl的3端与GND3连接，电阻R12的一端接+3. 3V电位，电阻R12的另一端、光耦ISOl的4端与二极管D12的正极连接。光耦IS02的1端、二极管Dll的负极、二极管D21的负极接+5V电位，光耦IS02 的2端、二极管D21的正极与电阻R21的另一端连接，光耦IS02的3端与GND3连接，电阻 R22的一端接+3. 3V电位，电阻R22的另一端、光耦IS02的4端与二极管D22的正极连接。二极管D12的负极、二极管D22的负极与输出单元300的输入端连接。输出单元300设置有电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C3和三极管Q3。电阻R3的一端与二极管D12的负极连接，电阻R3的另一端、电阻R4的一端、电容 C3的一端与三极管Q3的基极连接，电阻R4的另一端、电容C3的另一端、三极管Q3的发射极与GND3连接，电阻R5的一端接+3. 3V电位，电阻R5的另一端与三极管Q3的集电极连接。本发明的端子连接检测装置，其检测原理是
如果连接端子PA与连接端子PB可靠连接，那么C0NNECT_A与GNDl连接，C0NNECT_ B 与GND2连接，则光耦ISOl和IS02都将导通，光耦副边都将为低电平，Q3三极管将不会导通，检测电路的输出单元的输出端C0NNECT_ FB将为高电平。如果连接端子PA与连接端子PB出现不可靠连接的情况，C0NNECT-A或C0NNECT_B 其中一个或全部将会与GND断开连接，那么C0NNECT_A或C0NNECT_B至少有一个不会处于低电平，则光耦ISOl和IS02其中一个将不会导通，其中一个光耦的副边输出将被拉高为高电平。由于两个光耦的副边输出通过二极管D12和二极管D22进行或逻辑，那么Ql三极管将会导通，检测电路输出将被拉低到低电平。通过以上分析可知，连接端子PA和PB在连接正常和连接故障时，检测电路给出了相反的逻辑电平，通过此电平量，电气设备的控制中心就可以进行相应的动作处理，防止端子连接故障导致的系统级故障。实施例2。一种端子连接检测装置，如图3所示，用于检测图1所示的连接端子PA和连接端子PB的连接状况。连接端子PA设置有检测端子C0NNECT-A和GNDl，检测端子PB设置有检测端子C0NNECT-B和GND2。端子连接检测装置设置有探测单元100、分析单元200和输出单元300。探测单元100的输入端与检测端子CONNECT-A、GNDUC0NNECT-B和GND2连接， 探测单元100的输出端与分析单元200的输入端连接，分析单元200的输出端与输出单元 300的输入端连接。探测单元100设置有电阻Rll、电容Cll、电阻R21和电容C21，电阻Rll为470欧， 电容Cll为IOOnF,电阻R21为470欧，电容C21为100nF。电阻Rll的一端与检测端子C0NNECT-A连接，电阻Rll的另一端与电容Cll的一端连接，电容Cll的另一端与所述检测端子GNDl连接。电阻R21的一端与检测端子C0NNECT-B连接，电阻R21的另一端与电容C21的一端连接，电容C21的另一端与所述检测端子GND2连接。电阻Rll的另一端、电阻R21的另一端与分析单元200的输入端连接。分析单元200设置有电阻R12、光耦IS01、二极管D11、二极管D12、电阻R22、光耦 IS02、二极管D21和二极管D22，电阻R12为1. 5千欧，电阻R22为1. 5千欧。光耦ISOl的1端接+5V电位，光耦ISOl的2端、二极管Dll的正极与电阻Rll的另一端连接，光耦ISOl的3端与GND3连接，电阻R12的一端接+3. 3V电位，电阻R12的另一端、光耦ISOl的4端与二极管D12的正极连接。光耦IS02的1端、二极管Dll的负极、二极管D21的负极接+5V电位，光耦IS02 的2端、二极管D21的正极与电阻R21的另一端连接，光耦IS02的3端与GND3连接，电阻 R22的一端接+3. 3V电位，电阻R22的另一端、光耦IS02的4端与二极管D22的正极连接。二极管D12的负极、二极管D22的负极与输出单元300的输入端连接。输出单元300设置有电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C3和三极管Q3，电阻R3为1 千欧，电阻R4为47千欧，电阻R5为4. 7千欧，电容C3为lOOnF。电阻R3的一端与二极管 D12的负极连接，电阻R3的另一端、电阻R4的一端、电容C3的一端与三极管Q3的基极连接，电阻R4的另一端、电容C3的另一端、三极管Q3的发射极与GND3连接，电阻R5的一端接+3. 3V电位，电阻R5的另一端与三极管Q3的集电极连接。以上元器件的参数值仅供参考，在实际应用本技术方案时，可对以上参数值进行调整。本发明的端子连接检测装置，其检测原理是
如果连接端子PA与连接端子PB可靠连接，那么C0NNECT_A与GNDl连接，C0NNECT_ B 与GND2连接，则光耦ISOl和IS02都将导通，光耦副边都将为低电平，Q3三极管将不会导通，检测电路的输出单元的输出端C0NNECT_ FB将为高电平。如果连接端子PA与连接端子PB出现不可靠连接的情况，C0NNECT-A或C0NNECT_B 其中一个或全部将会与GND断开连接，那么C0NNECT_A或C0NNECT_B至少有一个不会处于低电平，则光耦ISOl和IS02其中一个将不会导通，其中一个光耦的副边输出将被拉高为高电平。由于两个光耦的副边输出通过二极管D12和二极管D22进行或逻辑，那么Ql三极管将会导通，检测电路输出将被拉低到低电平。通过以上分析可知，连接端子PA和PB在连接正常和连接故障时，检测电路给出了相反的逻辑电平，通过此电平量，电气设备的控制中心就可以进行相应的动作处理，防止端子连接故障导致的系统级故障。最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
权利要求
1.一种端子连接检测装置，用于检测连接端子PA和连接端子PB的连接状况，连接端子 PA设置有检测端子C0NNECT-A和GNDl，检测端子PB设置有检测端子C0NNECT-B和GND2， 其特征在于所述端子连接检测装置设置有探测单元、分析单元和输出单元，所述探测单元的输入端与所述检测端子CONNECT-A、GNDU C0NNECT-B和GND2连接，所述探测单元的输出端与所述分析单元的输入端连接，所述分析单元的输出端与所述输出单元的输入端连接。
2.根据权利要求1所述的端子连接检测装置，其特征在于所述探测单元设置有电阻 R11、电容C11、电阻R21和电容C21 ；所述电阻Rll的一端与所述检测端子C0NNECT-A连接，所述电阻Rll的另一端与所述电容Cll的一端连接，所述电容Cll的另一端与所述检测端子GNDl连接；所述电阻R21的一端与所述检测端子C0NNECT-B连接，所述电阻R21的另一端与所述电容C21的一端连接，所述电容C21的另一端与所述检测端子GND2连接；所述电阻Rll的另一端、所述电阻R21的另一端与所述分析单元的输入端连接。
3.根据权利要求2所述的端子连接检测装置，其特征在于所述电阻Rll为470欧，所述电容Cll为IOOnF,所述电阻R21为470欧，所述电容C21为100nF。
4.根据权利要求2或3所述的端子连接检测装置，其特征在于所述分析单元设置有电阻R12、光耦IS01、二极管D11、二极管D12、电阻R22、光耦IS02、二极管D21和二极管 D22 ；所述光耦ISOl的1端接+5V电位，所述光耦ISOl的2端、所述二极管Dll的正极与所述电阻Rll的另一端连接，所述光耦ISOl的3端与GND3连接，所述电阻R12的一端接 +3. 3V电位，所述电阻R12的另一端、所述光耦ISOl的4端与所述二极管D12的正极连接；所述光耦IS02的1端、所述二极管Dll的负极、所述二极管D21的负极接+5V电位，所述光耦IS02的2端、所述二极管D21的正极与所述电阻R21的另一端连接，所述光耦IS02 的3端与GND3连接，所述电阻R22的一端接+3. 3V电位，所述电阻R22的另一端、所述光耦 IS02的4端与所述二极管D22的正极连接；所述二极管D12的负极、所述二极管D22的负极与所述输出单元的输入端连接。
5.根据权利要求4所述的端子连接检测装置，其特征在于所述电阻R12为1.5千欧， 所述电阻R22为1.5千欧。
6.根据权利要求4所述的端子连接检测装置，其特征在于所述输出单元设置有电阻 R3、电阻R4、电阻R5、电容C3和NPN型的三极管Q3 ；所述电阻R3的一端与二极管D12、所述二极管D22的负极连接，所述电阻R3的另一端、 所述电阻R4的一端、所述电容C3的一端与所述三极管Q3的基极连接，所述电阻R4的另一端、所述电容C3的另一端、所述三极管Q3的发射极与GND3连接，所述电阻R5的一端接 +3. 3V电位，所述电阻R5的另一端与所述三极管Q3的集电极连接。
7.根据权利要求6所述的端子连接检测装置，其特征在于所述电阻R3为1千欧，所述电阻R4为47千欧，所述电阻R5为4. 7千欧，所述电容C3为lOOnF。
全文摘要
一种端子连接检测装置，用于检测连接端子PA和连接端子PB的连接状况，端子连接检测装置设置有探测单元、分析单元和输出单元，探测单元的输入端与检测端子连接，探测单元的输出端与分析单元的输入端连接，分析单元的输出端与输出单元的输入端连接。探测单元设置有电阻R11、电容C11、电阻R21和电容C21；分析单元设置有电阻R12、光耦ISO1、二极管D11、二极管D12、电阻R22、光耦ISO2、二极管D21和二极管D22；输出单元设置有电阻R3、电阻R4、电阻R5、电容C3和三极管Q3。本发明能够实时监控系统连接端子的连接状态。
文档编号G01R31/02GK102338837SQ201010230720
公开日2012年2月1日 申请日期2010年7月20日 优先权日2010年7月20日
发明者于玮 申请人:广东易事特电源股份有限公司