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一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪的制作方法

时间:2025-06-18    作者: 管理员

专利名称:一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种在线检测装置,尤其涉及一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪。
背景技术
目前,市场上普遍使用铜箔表面在线检测仪对铜箔的外观质量进行检测,既减小了长期用眼睛检测铜箔外观对人体的伤害,又提高了铜箔外观质量检测的准确性和稳定性。铜箔表面在线检测仪的检测方式主要是利用正反射光发射器和漫反射光发射器发出光线,再通过光接收器接收通过正反射和漫反射所返回的反射光,最后利用计算机对铜箔表面出现的异常进行显像,判断铜箔表面的缺陷是否影响到产品质量。而铜箔表面在线检测仪生产厂家对铜箔表面在线检测仪中的正反射光发射器和漫反射光发射器的安装角度都有明确规定,保证检测的准确性和稳定性。如图1所示,铜箔表面在线检测仪应用于韩国产铜箔表面处理机进行铜箔表面在线检测时,正反射光发射器与铜箔4表面夹角a为65°,漫反射光发射器与铜箔4表面夹角b为,由于韩国产铜箔表面处理机产出的铜箔在检测时铜箔表面与水平面不平行,所以此安装角度不适用于日本产铜箔表面处理机,照此角度安装后光接收器无法准确接收通过正反射和漫反射返回的反射光,检测精确度大大下降, 导致日产铜箔表面处理机很多缺陷产品无法检测出来,造成了很大的经济损失,对企业形象产生了很大的影响。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪,能够准确稳定的对铜箔的外观质量进行检测。本实用新型采用下述技术方案一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪,包括光接收器、正反射光发射器和漫反射光发射器,所述正反射光发射器与铜箔表面夹角小于65°,漫反射光发射器与铜箔表面夹角小于。所述正反射光发射器与铜箔表面夹角为62°,漫反射光发射器与铜箔表面夹角为 25°。本实用新型的光接收器通过接收正反射光发射器和漫反射光发射器发出的经正反射和漫反射所返回的反射光,利用计算机对铜箔表面出现的异常进行显像,能够准确判断铜箔表面的缺陷是否影响到产品质量,本实用新型结构简单,易于实现,能够准确稳定的对铜箔外观质量进行检测。

图1为用于韩国产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪的结构示意图;图2为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式如图2所示,本实用新型包括光接收器1、正反射光发射器2和漫反射光发射器3, 正反射光发射器与铜箔4表面夹角c为62°,漫反射光发射器与铜箔4表面夹角d为25°, 光接收器1通过接收正反射光发射器2和漫反射光发射器3发出的经正反射和漫反射所返回的反射光,利用计算机对铜箔表面出现的异常进行显像,能够准确判断铜箔表面的缺陷是否影响到产品质量。
权利要求1.一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪,包括光接收器、正反射光发射器和漫反射光发射器,其特征在于所述正反射光发射器与铜箔表面夹角小于65°, 漫反射光发射器与铜箔表面夹角小于观°。
2.根据权利要求1所述的用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪,其特征在于所述正反射光发射器与铜箔表面夹角为62°,漫反射光发射器与铜箔表面夹角为 25°。
专利摘要本实用新型公开了一种用于日本产铜箔表面处理机的铜箔表面在线检测仪,包括光接收器、正反射光发射器和漫反射光发射器,所述正反射光发射器与铜箔表面夹角小于65°,漫反射光发射器与铜箔表面夹角小于28°。本实用新型的光接收器通过接收正反射光发射器和漫反射光发射器发出的经正反射和漫反射所返回的反射光,利用计算机对铜箔表面出现的异常进行显像,能够准确判断铜箔表面的缺陷是否影响到产品质量,本实用型结构简单,易于实现,能够准确稳定的对铜箔的外观质量进行检测。
文档编号G01N21/88GK202196019SQ20112030785
公开日2012年4月18日 申请日期2011年8月23日 优先权日2011年8月23日
发明者何成群, 张卫娜, 张永军, 徐自鹏 申请人:灵宝华鑫铜箔有限责任公司

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