专利名称：一种用于测定膜状荧光物质的样品池的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于荧光测定仪中测定固态荧光物质所使 用的样品器具，具体涉及一种用于测定膜状荧光物质的样品池。
背景技术：
众所周知，在传统常规的荧光测定仪中所测定的样品一般均呈液 态，而需要测定固态膜状荧光物质的样品器具一般需要较高端的检测 仪器，特别目前在国内，由于尚未开发出合适的可测定固态膜状荧光 物质的样品器具，致使常规实验室使用的荧光测定仪的应用领域受到 了很多限制，急切需要开发一种可在荧光测定仪中测定固态膜状荧光 物质所使用的样品器具。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种用于测定膜状荧光物质的样品 池，以扩大常规荧光测定仪的应用领域，满足市场的需要。
本实用新型采用了 "对荧光物体表面进行光测定"的工作原理， 只要将载有膜状荧光物质的样品池插入荧光测定仪的可旋转式样品 架底座中，并按要求调节测定角度即可对膜状荧光物质进行荧光定 性、定量测定。
本实用新型提供的一种用于测定膜状荧光物质的样品池为一箱 体结构，所述的箱体内腔中空对穿，具有左右二个开口，在其中任一 个开口的顶部和底部各设有若干强磁体，所述的强磁体会使一框形导 磁盖板将涂有荧光物质的薄膜样品平整地紧扣在该处开口前，作为测
量窗口。
本实用新型提供的一种用于测定膜状荧光物质的样品池外形类 似常规样品测试架。所述的箱体横截面的外形尺寸与荧光测定仪中的 可旋转式样品架底座的尺寸相匹配。本实用新型提供的一种用于测定膜状荧光物质的样品池特别适 用于以常规荧光测定仪对荧光涂料薄膜的测定，其结构简单、成本低 廉、因此易于推广使用。
下面，结合附图和实施例详细说明依据本实用新型提出的具体装 置的细节及工作情况。


图1为本实用新型的组装结构示意图； 图2为本实用新型的横截面结构示意图。
具体实施方式
如附图l一2所示，本实用新型实施例提供的一种用于测定膜状 荧光物质的样品池为一箱体结构，所述的箱体1内腔中空对穿，具有 左右二个开口 la，在其中任一个开口 la的顶部lb和底部lc各设有 若干强磁体2，所述的强磁体2会使一框形导磁盖板3将涂有荧光物 质的薄膜4样品平整地紧扣在该处开口 la前，作为测量窗口。
如附图所示，本实用新型实施例提供的一种用于测定膜状荧光物 质的样品池外形类似常规样品测试架。所述的箱体1横截面的外形尺 寸与荧光测定仪中的可旋转式样品架底座的尺寸相匹配。
本实用新型采用了 "对荧光物体表面进行光测定"的工作原理， 只要将载有膜状荧光物质的样品池插入荧光测定仪的可旋转式样品 架底座中，并按要求调节测定角度即可对膜状荧光物质进行荧光定 性、定量测定。
权利要求1、一种用于测定膜状荧光物质的样品池，其特征在于该样品池为一箱体结构，所述的箱体(1)内腔中空对穿，具有左右二个开口(1a)，在其中任一个开口(1a)的顶部(1b)和底部(1c)各设有若干强磁体(2)，所述的强磁体(2)会使一框形导磁盖板(3)将涂有荧光物质的薄膜(4)样品平整地紧扣在该处开口(1a)前，作为测量窗口。
2、 根据权利要求1所述的一种用于测定膜状荧光物质的样品池，其 特征在于所述的样品池外形类似常规样品测试架，所述的箱体(1) 横截面的外形尺寸与荧光测定仪中的可旋转式样品架底座的尺寸相 匹配。
专利摘要本实用新型涉及一种用于测定膜状荧光物质的样品池，该样品池为一箱体结构，所述的箱体(1)内腔中空对穿，具有左右二个开口(1a)，在其中任一个开口(1a)的顶部(1b)和底部(1c)各设有若干强磁体(2)，所述的强磁体(2)会使一框形导磁盖板(3)将涂有荧光物质的薄膜(4)样品平整地紧扣在该处开口(1a)前，作为测量窗口。本实用新型提供的一种用于测定膜状荧光物质的样品池特别适用于以常规荧光测定仪对荧光涂料薄膜的测定，其结构简单、成本低廉、因此易于推广使用。
文档编号G01N21/01GK201382892SQ20092006951
公开日2010年1月13日 申请日期2009年3月27日 优先权日2009年3月27日
发明者吴树恩, 曹剑琛 申请人:上海棱光技术有限公司