专利名称：一种利用基带芯片的通用io口测量手机电池温度的方法
技术领域：
本发明涉及一种测量手机电池温度的方法，尤其是涉及一种利用基带芯片的通用 IO 口(General Purpose Input Output, GPIO)测量手机电池温度的方法。
背景技术：
为了保证充电安全，手机在充电的时候都要测量电池板的温度。目前测量电池板温度的通用做法是利用热敏电阻，然后通过外围电路把热敏电阻阻值的变化转化为电压变化，然后通过基带芯片内置ADC (模数转换器)测量电压。此方法占用了部分手机ADC资源， 当手机ADC比较紧张时，不适合采用此方法测量电池板温度。因此找到一种既能不占用手机ADC就能测量电池板温度，且结构简单的测量方法是个亟待解决的问题。

发明内容
本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种方法简单，且节省了基带芯片的硬件资源的利用基带芯片的通用IO 口测量手机电池温度的方法。本发明的目的可以通过以下技术方案来实现一种利用基带芯片的通用IO 口测量手机电池温度的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤1)手机处理器将第一通用IO 口和第二通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输出低，通过放电电阻R3给电容放电；2)电容放电完成后，手机处理器将第一通用IO 口设置为输出高，第二通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输入口，通过热敏电阻Rl给电容充电，第三通用IO 口可检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间Tl ；3)手机处理器将第一通用IO 口和第二通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输出低，通过放电电阻 R3给电容放电；4)电容放电完成后，手机处理器将第二通用IO 口设置为输出高，第一通用 IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输入口，通过标准电阻R2给电容充电，第三通用 IO 口检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T2 ；5)手机处理器根据T1/T2 = R1/R2对所采集的充电时间进行处理，得出手机电池的温度。所述的标准电阻R2的阻值根据热敏电阻阻值范围而定。所述的放电电阻R3的阻值为80 120欧姆。所述的放电电阻R3的阻值优选100欧姆。与现有技术相比，本发明不需要把热敏电阻阻值转化为电压，也不需要利用ADC 模块，而是利用了手机基带芯片通用通用IO 口，对电容充电，把电阻值转化为时间值，进而求出电池板温度，可以应用在手机ADC资源紧张的时候，节省了基带芯片的硬件资源。


图1为本发明的电路连接结构示意图；图2为本发明的流程图。
具体实施例方式下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。实施例如图1、图2所示，一种利用基带芯片的通用IO 口测量手机电池温度的方法，该方法包括以下步骤步骤21)手机处理器将第一通用IO 口 1和第二通用IO 口 2设置为高阻态，第三通用IO 口 3设置为输出低，通过放电电阻R3给电容4放电，为了保证放电完全，此状态可以多延迟一些时间；步骤2 电容4放电完成后，手机处理器将第一通用IO 口 1设置为输出高，第二通用IO 口 2设置为高阻态，第三通用IO 口 3设置为输入口，通过热敏电阻Rl给电容充电，第三通用IO 口 3可检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间Tl ；步骤2 手机处理器将第一通用IO 口 1和第二通用IO 口 2设置为高阻态，第三通用IO 口 3设置为输出低，通过放电电阻R3给电容4放电，为了保证放电完全，此状态可以多延迟一些时间；步骤电容4放电完成后，手机处理器将第二通用IO 口 2设置为输出高，第一通用IO 口 1设置为高阻态，第三通用IO 口 3设置为输入口，通过标准电阻R2给电容4充电，第三通用IO 口 3检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间 T2 ；步骤2 手机处理器根据T1/T2 = R1/R2对所采集的充电时间进行处理，得出手机电池的温度。当对RC电路进行充电的时候，如果电容，充电电压固定不变，且RC充电常数较大时，则电阻比就等于充电时间比，即:T1/T2 = R1/R2，Tl，Τ2通过软件很容易求出。R2 是阻值已知的标准电阻，其阻值根据热敏电阻阻值范围而定R2，本实施例选择10千欧姆， 通过以上关系很容易求出热敏电阻的阻值R1，热敏电阻的阻值和温度一一对应，我们可以根据热敏电阻的阻值通过软件很容易求出温度。放电电阻R3的阻值可取100欧姆。
权利要求
1.一种利用基带芯片的通用IO 口测量手机电池温度的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤1)手机处理器将第一通用IO口和第二通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输出低，通过放电电阻R3给电容放电；2)电容放电完成后，手机处理器将第一通用IO口设置为输出高，第二通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输入口，通过热敏电阻Rl给电容充电，第三通用IO 口可检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间Tl ；3)手机处理器将第一通用IO口和第二通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输出低，通过放电电阻R3给电容放电；4)电容放电完成后，手机处理器将第二通用IO口设置为输出高，第一通用IO 口设置为高阻态，第三通用IO 口设置为输入口，通过标准电阻R2给电容充电，第三通用IO 口检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T2 ；5)手机处理器根据T1/T2= R1/R2对所采集的充电时间进行处理，得出手机电池的温度。
2.根据权利要求1所述的一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法，其特征在于，所述的标准电阻R2的阻值根据热敏电阻阻值范围而定。
3.根据权利要求1所述的一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法，其特征在于，所述的放电电阻R3的阻值为80 120欧姆。
4.根据权利要求3所述的一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法，其特征在于，所述的放电电阻R3的阻值优选100欧姆。
全文摘要
本发明涉及一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法，该方法包括以下步骤1)通过放电电阻R3给电容放电；2)电容放电完成后，通过热敏电阻R1给电容充电，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T1；3)通过放电电阻R3给电容放电；4)电容放电完成后，通过标准电阻R2给电容充电，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T2；5)手机处理器对所采集的充电时间进行处理，得出手机电池的温度。与现有技术相比，本发明具有方法简单，且节省了基带芯片的硬件资源等优点。
文档编号G01K7/22GK102564636SQ20101060980
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月24日 优先权日2010年12月24日
发明者柴路 申请人:希姆通信息技术(上海)有限公司