专利名称：法向厚度快速测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种几何参数测量装置，尤其涉及一种三维复杂曲面薄壁回转体零件 法向厚度的测量装置。
背景技术：
天线罩是由硬脆材料制成的三维复杂曲面薄壁回转体零件，电厚度是天线罩电性能指 标,其与几何法向厚度和材料的介电常数有关，半精加工后天线罩的电厚度误差足设计要 求，需要对天线罩内廓形进行精密修磨,通过改变罩壁的几何法向厚度来补偿电偏差，其 加工属于自由曲面加工。因而，几何法向厚度的测量是精密修磨的关键。 发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种法向厚度快速测量装置，以解决现有技术 中测量不便，精度低的缺陷。
一种法向厚度快速测量装置，包括三坐标测量机，以三坐标测量机上的测量头(2)为 圆心环形阵列3个微位移接触式传感器(l)。
所述的微位移接触式传感器(1)的长度比测量头(2)长10mm。 有益效果
本实用新型通过测量出部分数据以后，可用软件计算出曲面薄壁的厚度，测量速度快， 精度高，能大大提高相关零件的加工精度和质量，特别适合应用于天线罩的加工。

图l为本实用新型结构示意图2为测量时的原理图。
具体实施方式
下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。应理解，这些实施例仅用于说明本 实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型讲授的内容 之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申 请所附权利要求书所限定的范围。
实施例1
如图l所示， 一种法向厚度快速测量装置，包括三坐标测量机，以三坐标测量机上的 测量头2为圆心环形阵列3个微位移接触式传感器1，所述的微位移接触式传感器1比测 量头2略长，其长度差h为10mm。本实用新型用圆周方向120度均匀布置的三个微位移接触式传感器1在三坐标测量机 (CMM)的测量头2接触到零件时输出的位移值，由于测量机构尺寸已确定，由C丽测量 头的坐标值得到与传感器接触零件上的三个点的空间坐标，再叠加上三个微位移接触式传 感器的位移值得到三个空间坐标点，这三个点构建的平面平行于切平面，因而构建的平面 的法向角度即所测点的法线方向，然后将C画测量头调整到该法向角度对准外轮廓坐标点 由内轮廓渐进接触测量，由CMM测量头所测内外轮廓点的坐标值可以计算出两点的三维距 离，即被测轮廓点的法向方向的厚度，具有平滑曲面的回转体零件可以使用该测量系统进 行连续测量，将数据存入缓存，通过软件处理实时得到各点的坐标与该点的法向矢量。
如图2所示，如果被测零件为一空心半球体，那么三位移接触式传感器所示位移值应 相同，因而传感器与零件接触的三个点构建的平面即切平面，切平面的法线即被测点的法 线方向，然后将测量头调到该法线方向对准外轮廓被测点测量零件内轮廓上的点，然后得 到内外轮廓点的三维距离即法向厚度，理论精度无误差。当被测零件为复杂型面薄壁回转 体时，测量机构原理误差与微位移传感器三触点所组成的三角形的面积有关，面积越小， 误差越小；也与曲面曲率变化速度有关。可建立模型计算出该误差。
权利要求1.一种法向厚度快速测量装置，包括三坐标测量机，其特征是以三坐标测量机上的测量头(2)为圆心环形阵列3个微位移接触式传感器(1)。
2. 如权利要求1所述的法向厚度快速测量装置，其特征是所述的微位移接触式传感器 (1)的长度比测量头(2)长10mra。
专利摘要本实用新型涉及一种法向厚度快速测量装置，包括三坐标测量机，以三坐标测量机上的测量头(2)为圆心环形阵列3个微位移接触式传感器(1)。本实用新型通过测量出部分数据以后，可用软件计算出曲面薄壁的厚度，测量速度快，精度高，能大大提高相关零件的加工精度和质量，特别适合应用于天线罩的加工。
文档编号G01B21/08GK201434677SQ20092007786
公开日2010年3月31日 申请日期2009年7月3日 优先权日2009年7月3日
发明者朱静怡, 李蓓智, 杨建国, 齐 林, 王庆霞 申请人:东华大学